[发明专利]半导体存储装置及其操作方法

权利要求书

1.一种半导体存储装置，其特征在于，包括：

存储单元阵列；

检测部件，对接通电源进行检测；

只读存储器，至少保存用于执行所述存储单元阵列的读出动作的代码，且将特殊代码保存于特定的地址，所述特殊代码用以判定所述只读存储器是否在接通电源时正确读出所述代码；以及

控制部件，控制所述只读存储器的读出，

当利用所述检测部件检测到电源接通时，所述控制部件自所述只读存储器读出所述特殊代码，并判定所读出的所述特殊代码是否正确，在判定为正确的情况下，读出所述代码以执行所述存储单元阵列的所述读出动作，在判定为不正确的情况下，再次读出所述特殊代码。

2.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

所述控制部件按照所读出的所述代码来读出保存于所述存储单元阵列中的设定信息，并将所读出的所述设定信息设定于寄存器中。

3.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

所述控制部件与时钟信号同步地读出只读存储器，且所述特殊代码是以比通常动作时读出所述只读存储器时的时序的周期慢的周期被读出。

4.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

所述特殊代码是包含0和1的数据模式，

所述控制部件包含中央处理装置，且所述中央处理装置按照程序计数器的地址来读出所述特殊代码或所述代码。

5.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

所述检测部件对电源接通时的供给电压达到一定值进行检测，且所述一定值比保证所述半导体存储装置的动作的电压低。

6.根据权利要求1所述的半导体存储装置，其特征在于，

所述存储单元阵列是与非型的非易失性存储单元阵列。

7.一种半导体存储装置的操作方法，所述半导体存储装置包含中央处理器及只读存储器，所述操作方法的特征在于，

所述中央处理器读出保存于所述只读存储器中的特殊代码，所述特殊代码用以判定所述只读存储器是否在接通电源时正确读出所述代码，并判定所读出的所述特殊代码是否正确，当判定为正确时，接着读出保存于只读存储器中的代码，所述代码用以执行存储单元阵列的读出动作，当判定为不正确时，再次读出所述特殊代码，且

所述中央处理器按照所读出的所述代码来控制动作。

8.根据权利要求7所述的操作方法，其特征在于，

所述中央处理器以比通常动作时自所述只读存储器读出数据时的时序周期慢的周期读出所述特殊代码。

9.根据权利要求7所述的操作方法，其特征在于，

包括检测对所述半导体存储装置接通电源的步骤，且

所述中央处理器响应于检测到电源接通而读出所述特殊代码。

10.根据权利要求7所述的操作方法，其特征在于，

所述中央处理器按照所读出的所述代码而自所述存储单元阵列中读出设定信息，并将所读出的设定信息保存于寄存器中。