[发明专利]数组衬底的制造方法在审

专利信息
申请号: 201811312197.7 申请日: 2018-11-06
公开(公告)号: CN111211136A 公开(公告)日: 2020-05-29
发明(设计)人: 陆富财;王豪;余彦霖;邱奕勋 申请(专利权)人: 中华映管股份有限公司
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12;H01L21/77
代理公司: 北京同立钧成知识产权代理有限公司 11205 代理人: 吴志红;臧建明
地址: 中国台湾*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 数组 衬底 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种数组衬底的制造方法,其特征在于,包括:

形成主动组件于衬底上;

形成第一绝缘层于所述主动组件上;

形成共通电极层于所述第一绝缘层上;

形成第二绝缘层于所述共通电极层上;

在所述第一绝缘层以及所述第二绝缘层中形成第一接触窗,以暴露出部分的所述主动组件;

形成导电层于所述第二绝缘层上,其中所述导电层填入于所述第一接触窗中;

形成第三绝缘层于所述导电层上;

在第三绝缘层中形成第二接触窗,以暴露出部分的所述导电层;以及

形成像素电极层于所述第三绝缘层上,其中所述像素电极层填入于所述第二接触窗中。

2.根据权利要求1所述的数组衬底的制造方法,其特征在于,形成所述主动组件的步骤包括:

形成栅极层于所述衬底上;

形成栅极绝缘层于所述栅极层上;以及

形成源极层以及漏极层于所述栅极绝缘层上。

3.根据权利要求2所述的数组衬底的制造方法,其特征在于,在形成所述源极层以及所述漏极层于所述栅极绝缘层上的步骤前,还包括形成半导体层于所述栅极绝缘层上,且所述半导体层与所述栅极层相对设置。

4.根据权利要求2所述的数组衬底的制造方法,其特征在于,所述第一接触窗暴露出部分的所述漏极层。

5.根据权利要求1所述的数组衬底的制造方法,其特征在于,在所述第一绝缘层以及所述第二绝缘层中形成所述第一接触窗时,同时于所述第一绝缘层中形成第三接触窗,所述第三接触窗暴露出部分的所述共通电极层。

6.根据权利要求5所述的数组衬底的制造方法,其特征在于,所述导电层更填入于所述第三接触窗中。

7.根据权利要求1所述的数组衬底的制造方法,其特征在于,所述导电层的材料为氧化铟锡、铝、钼或其组合。

8.根据权利要求1所述的数组衬底的制造方法,其特征在于,所述第一接触窗与所述第二接触窗至少部分地连接。

9.根据权利要求1所述的数组衬底的制造方法,其特征在于,所述主动组件通过所述导电层与所述像素电极层电性连接。

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