[发明专利]目标跟踪方法和装置、电子设备、程序、存储介质

权利要求书

1.一种目标跟踪方法，其特征在于，包括：

获取目标图像的多个参考图像的特征；

基于所述多个参考图像的特征，确定所述目标图像中跟踪目标的多个初始预测位置；

基于所述多个初始预测位置，确定所述目标图像中跟踪目标的最终位置；

其中，所述基于所述多个初始预测位置，确定所述目标图像中跟踪目标的最终位置，包括：分别确定所述多个初始预测位置中每个初始预测位置与所述跟踪目标的外观参考位置之间的相似度，获得相似度大于第一预设阈值的至少一个初始预测位置；

基于所述相似度大于第一预设阈值的至少一个初始预测位置，确定所述目标图像对应的最终位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述多个参考图像的特征，确定所述目标图像中跟踪目标的多个初始预测位置，包括：

对所述目标图像进行特征提取，得到所述目标图像的多个特征；

基于所述目标图像的多个特征与所述多个参考图像的特征，得到所述目标图像中跟踪目标的多个初始预测位置。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，基于所述目标图像的多个特征与所述多个参考图像的特征，得到所述目标图像中跟踪目标的多个初始预测位置，包括：

连接所述目标图像的多个特征与所述多个参考图像的特征，得到多个连接特征；

基于所述多个连接特征，得到所述目标图像中跟踪目标的多个初始预测位置。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，对所述目标图像进行特征提取，得到所述目标图像的多个特征，包括：

对所述目标图像执行卷积操作，得到中间特征；

对所述中间特征执行多个感兴趣区域RoI对齐操作，得到所述目标图像的多个特征。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对所述中间特征执行多个感兴趣区域RoI对齐操作，得到所述目标图像的多个特征，包括：

基于所述参考图像中跟踪目标的位置，对所述中间特征执行RoI对齐操作，得到所述目标图像的特征。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述参考图像中跟踪目标的位置，对所述中间特征执行RoI对齐操作，得到所述目标图像的特征，包括：

将所述参考图像中跟踪目标对应的限位框在所述参考图像中的位置作为RoI进行RoI对齐操作，得到所述目标图像的特征。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，将所述参考图像中跟踪目标对应的限位框在所述参考图像中的位置作为RoI进行RoI对齐操作，得到所述目标图像的特征之前，还包括：

对所述参考图像中跟踪目标的限位框放大第一预设倍数，得到所述参考图像跟踪目标对应的限位框。

8.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，在所述对所述目标图像执行卷积操作，得到中间特征之前，还包括：

对所述目标图像进行剪裁处理，获得裁剪图像；

所述对所述目标图像执行卷积操作，得到中间特征，包括：

对所述裁剪图像执行卷积操作，得到中间特征。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述对所述目标图像进行剪裁处理，获得裁剪图像，包括：

基于至少一个第一图像中跟踪目标的位置信息，对所述目标图像进行裁剪处理，得到裁剪图像，其中，所述至少一个第一图像中的每个第一图像位于所述目标图像之前。

10.根据权利要求9所述的方法，其特征在于，所述基于至少一个第一图像中跟踪目标的位置信息，对所述目标图像进行裁剪处理，得到裁剪图像，包括：

基于所述至少一个第一图像中跟踪目标的位置信息，确定所述裁剪图像的中心点；

基于所述裁剪图像的中心点对所述目标图像进行剪裁处理，得到所述裁剪图像。