[发明专利]具有堆叠结构的CMOS图像传感器芯片及其形成方法在审

专利信息
申请号: 201711468583.0 申请日: 2012-12-26
公开(公告)号: CN108269814A 公开(公告)日: 2018-07-10
发明(设计)人: 万孟勋;陈思莹;杨敦年;刘人诚 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 芯片 读出 图像传感器芯片 图像传感器 堆叠结构 逻辑器件 外围电路 传感器芯片 复位晶体管 源极跟随器 同一像素 芯片接合 行选择器 接合 电耦合
【权利要求书】:

1.一种半导体器件,包括:

图像传感器芯片,其中包括图像传感器;

读出芯片,位于所述图像传感器下方并与所述图像传感器接合,其中,在所述读出芯片中包括从由复位晶体管、源极跟随器、行选择器以及它们的组合所组成的组中选择的逻辑器件,并且所述逻辑器件和所述图像传感器相互电耦合且是同一像素单元的一部分;以及

外围电路芯片,位于所述读出芯片下方并与所述读出芯片接合,其中,所述外围电路芯片包括逻辑电路,其中,所述逻辑电路进一步包括图像信号处理(ISP)电路。

2.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述图像传感器芯片进一步包括:

互连结构;

通孔,与所述互连结构中的金属线电耦合;以及

电连接件,位于所述图像传感器芯片的表面,其中,所述电连接件位于所述通孔上方并与所述通孔电耦合。

3.根据权利要求2所述的半导体器件,其中,所述图像传感器芯片包括与所述电连接件平齐的半导体衬底。

4.根据权利要求2所述的半导体器件,其中,所述图像传感器芯片包括半导体衬底并且所述互连结构包括:

第一部分,与所述半导体衬底重叠;以及

第二部分,不与所述半导体衬底重叠,其中,所述电连接件与所述互连结构的所述第二部分重叠。

5.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,在所述图像传感器芯片中进一步包括传输门晶体管,其中,所述传输门晶体管与所述图像传感器电耦合,并且所述传输门晶体管是所述同一像素单元的一部分。

6.根据权利要求5所述的半导体器件,其中,除像素单元中的传输门晶体管以外,所述图像传感器芯片没有额外的晶体管。

7.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,在所述图像传感器芯片中进一步包括浮置扩散电容器,其中,所述浮置扩散电容器与所述图像传感器电耦合,并且所述浮置扩散电容器是所述同一像素单元的部分。

8.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述读出芯片包括所述复位晶体管、所述源极跟随器以及所述行选择器。

9.根据权利要求1所述的半导体器件,其中,所述图像信号处理电路包括从由模数转换器(ADC)、相关双采样(CDS)电路、行译码器以及它们的组合所组成的组中选择的电路。

10.一种半导体器件,包括:

图像传感器芯片,所述图像传感器芯片包括:

传感器阵列,包括多个图像传感器;

多个传输门晶体管,所述多个传输门晶体管中的每一个都与所述多个图像传感器中的一个电耦合;和

电连接件,位于所述图像传感器芯片的顶面;

读出芯片,位于所述图像传感器芯片的下方并与所述图像传感器芯片接合,其中,所述读出芯片包括:

多个复位晶体管;

多个源极跟随器;和

多个行选择器,与所述多个图像传感器和所述多个传输门晶体管电耦合以形成包括多个像素单元的像素单元阵列;以及

外围电路芯片,位于所述读出芯片的下方并与所述读出芯片接合,其中,所述外围电路芯片包括从由模数转换器(ADC)、相关双采样(CDS)电路、行译码器以及它们的组合所组成的组中选择的电路。

11.根据权利要求10所述的半导体器件,其中,通过包括金属与金属接合和氧化物与氧化物接合的混合接合来接合所述图像传感器芯片和所述读出芯片。

12.根据权利要求10所述的半导体器件,其中,所述图像传感器芯片进一步包括多个浮置扩散电容器,并且所述多个浮置扩散电容器中的每一个都与所述多个图像传感器中的一个电耦合并且形成所述多个像素单元中的相应一个的一部分。

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