[发明专利]一种360°物体截面轮廓检测装置及在线检测方法在审

专利信息
申请号: 201711193752.4 申请日: 2017-11-24
公开(公告)号: CN107796335A 公开(公告)日: 2018-03-13
发明(设计)人: 李龙强;沈华夷 申请(专利权)人: 深圳市恒茂科技有限公司
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 深圳市精英专利事务所44242 代理人: 冯筠
地址: 518000 广东省深圳市宝安*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 360 物体 截面 轮廓 检测 装置 在线 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种360°物体截面轮廓检测装置,尤其涉及一种非接触式的360°物体截面轮廓在线检测装置,以及采用该装置来对挤压成型物体的截面轮廓进行在线检测的方法。

背景技术

在生产挤压成型的物体时,要确保其精度,就需要对其截面轮廓进行检测。现有的检测方法是截断该物体,然后对截面进行检测。该检测方法,一是测量过程较繁琐,每当检测时,都需要停机;二是造成物体的浪费,每检测一次就需要截断一节物体。

发明内容

为了弥补上述现有技术的缺陷,本发明的目的是提供一种使用方便,能够直接360°在线检测挤压成型物体的截面轮廓的检测装置,以及采用该装置来对挤压成型物体的截面轮廓进行在线检测的方法。

为达到上述目的,本发明的技术方案是:

一种360°物体截面轮廓检测装置,包括设有检测孔的检测平台,以及至少两个设于检索平台的测量机构;所述测量机构包括发射头朝向所述检测孔设置的线激光发射器,以及取景方向朝向所述检测孔且用于拍摄线激光发射器发出的激光在待测物外表面形成的光线的工业相机;所述线激光发射器发出的激光垂直于待测物的外表面,且所有线激光发射器发出的激光在待测物上产生的光线段位于同一平面时围成一个闭合图形;所述工业相机的取景方向与待测物外表面之间的夹角α大于0°且小于90°,且各个工业相机拍摄到的光线段位于同一平面时能围成一个闭合图形。

上述的检测装置,结构简单,尤其是测量机构包括线激光发射器和工业相机;在检测时,只需将待测物体置于检测孔处,线激光发射器发出的激光在待测物上产生光线段,工业相机再拍摄获取各个光线段,经过分析处理即能获取待测物的轮廓数据。

另外,所有的测量机构围绕所述检测孔设置,且所述线激光发射器发出的激光垂直于待测物的外表面,所有线激光发射器发出的激光在待测物上产生的光线段位于同一平面时围成一个闭合图形,使得待测物的截面能够被激光完全照射,不存在照射死角;同时,所述工业相机的取景方向与待测物外表面之间的夹角α大于0°且小于90°,且各个工业相机拍摄到的光线段位于同一平面时能围成一个闭合图形,保证了工业相机能够完全照射到激光在待测物外表面产生的光线段,保证了对待测物截面的完整检测,杜绝检测死角的存在。

进一步的,为了简化结构,方便安装及拆卸,同时为了能降温,所述测量机构还包括固设于所述检测平台的外壳,以及设于外壳内的散热风扇;所述线激光发射器和工业相机均固设于所述外壳内。

进一步的,为了简化结构,方便组装,所述检测平台呈圆形;所述检测孔设于检测平台的圆心处;所述测量机构等间距环绕检测孔设置。

进一步的,为了能够方便将待测物移动到检测孔处,所述检测平台设有连通检测孔与外界的通道。

进一步的,为了使得结构更加紧凑,所述检测平台内部设有安装腔;所述测量机构固设于所述的安装腔内。

进一步的,为了能够更加快捷地对工业相机拍摄的照片数据进行分析,还包括与所述工业相机电性连接的处理器。

进一步的,当待测物进入到检测孔时,不是工业相机的最佳拍摄位置,为了能够调整工业相机的拍摄位置,还包括与所述处理器电性连接且用于调整所述检测平台位置的调整机构。

进一步的,为了简化结构,方便调整检测平台的位置,所述调整机构包括安装基座,固设于安装基座且与所述处理器电性连接的步进电机,与步进电机的电机轴连接的联轴器,与联轴器的动力输出端连接的齿盘,以及固设于所述检测平台且与齿盘啮合的齿条;所述的安装基座设有供检测平台转动的滑道。

进一步的,为了使得结构紧凑,所述安装基座设有上端开口的容纳腔;所述步进电机、联轴器和齿盘均设于容纳腔内;所述滑道设于容纳腔的开口处;所述检测平台滑动设于所述滑道。

进一步的,为了方便传输工业相机拍摄到的相片数据,还包括与所述处理器电性连接的数据传输组件;所述的数据传输组件包括电源,以及分别与电源和工业相机电性连接的I/O输入输出模块。

本发明还提供了一种360°物体截面轮廓在线检测方法,采用上述的360°物体截面轮廓检测装置,具体检测步骤如下:

a、将待测物的截面标准轮廓数据存入处理器;

b、将待测物置于检测孔,启动各个线激光发射器,确保线激光发射器发出的激光垂直于待测物的外表面,且所有线激光发射器发出的激光在待测物上产生的光线段位于同一平面时围成一个闭合图形,该闭合图形即为待测物的截面轮廓形状;

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