[发明专利]一种利用位置转台测量陀螺组合常值漂移的方法在审

专利信息
申请号: 201710834218.0 申请日: 2017-09-15
公开(公告)号: CN107643089A 公开(公告)日: 2018-01-30
发明(设计)人: 高四宏;李柏杨;何益康;吴德安;沈怡颹;余维;张涛;李苗;周胜良;刘美师 申请(专利权)人: 上海航天控制技术研究所
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 上海信好专利代理事务所(普通合伙)31249 代理人: 朱成之
地址: 200233 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 利用 位置 转台 测量 陀螺 组合 漂移 方法
【说明书】:

技术领域

发明特别涉及一种利用位置转台测量陀螺组合常值漂移的方法。

背景技术

现有的设计技术限制,陀螺在交付使用时都存在个体差异的常值漂移。在实际使用过程中,需要将地速与陀螺组合的常值漂移进行分离,分别对两者进行补偿。地速与陀螺组合的常值漂移耦合。现有的方法对陀螺组合的常值漂移的标定,先对陀螺组合按一定方式安装,根据当地纬度,求出地速在陀螺组合的各轴的投影分量进行计算,再求出陀螺常值漂移量。很难将地速和常值漂移完全分离,导致陀螺组合常值漂移估计时存在偏差,陀螺组合常值漂移估计不准确将导致使用陀螺姿态角速率测量存在偏差,对用户的使用造成一定的影响。

发明内容

本发明的目的是提供一种利用位置转台测量陀螺组合常值漂移的方法,分别对陀螺组合的每个表头的常值漂移与地速剥离,对陀螺组合的常值漂移进行标定。

为了实现以上目的,本发明是通过以下技术方案实现的:

一种利用位置转台测量陀螺组合常值漂移的方法,所述的位置转台包含:绕垂直轴Z旋转的外框、及设置在外框内且可绕与垂直轴Z矢量方向垂直的X轴转动的中框,及设置在中框内且可绕与X轴矢量方向垂直的Y轴转动的内框,其特点是,该方法包含如下步骤:

S1,将陀螺组合安装于位置转台的中框或内框中,选中其中一个陀螺表头为目标陀螺表头,转动所述的内框,使得目标陀螺表头指向转动至与垂直轴Z相垂直的平面内,采集目标陀螺表头的角增量,得出该目标陀螺表头的角速度,所述与外框相垂直的位置设为目标陀螺表头的初始位置;

S2,将所述的目标陀螺表头指向转动至与其初始位置相反的位置处,得出在当前位置处目标陀螺表头的角速度;

S3,剥离出地速在目标陀螺表头矢量方向的分量,得到目标陀螺表头常值漂移量。

所述的步骤S1中采集预设时间段目标陀螺表头的角增量,将目标陀螺表头的角增量相对时间采用最小二乘法提取目标陀螺表头的角速度。

所述的步骤S2中将外框绕垂直轴旋转180°,使得所述的目标陀螺表头指向与其初始位置相反的位置处。

所述的步骤S3后还包含:

S4,重复S1-S3,得到所述的陀螺组合其余陀螺表头的常值漂移量。

本发明与现有技术相比,具有以下优点:

1、采用位置转台为陀螺不同表头依次提供不同的位置变换,使得位置变换前后测得在陀螺表头方向的地速分量大小相等,方向相反,矢量叠加后可以相互抵消,将地速与陀螺的常值漂移量分离,对陀螺的常值漂移量进行标定。

2、消除当地纬度对测量陀螺常值漂移时的影响。

3、消除测量陀螺常值漂移时对陀螺安装水平面的要求。

附图说明

图1为本发明初始位置陀螺头部指向与地速在指向方向投影示意图;

图2为初始位置绕垂直轴转过180°后示意图;

图3为本发明一种利用位置转台测量陀螺组合常值漂移的方法的流程图。

具体实施方式

以下结合附图,通过详细说明一个较佳的具体实施例,对本发明做进一步阐述。

如图2、3所示,一种利用位置转台测量陀螺组合常值漂移的方法,所述的位置转台包含:底座1、绕垂直轴Z旋转的外框2、及设置在外框2内且可绕与垂直轴Z矢量方向垂直的X轴转动的中框3,及设置在中框3内且可绕与X轴矢量方向垂直的Y轴转动的内框4,该方法包含如下步骤:

S1,将陀螺组合安装于位置转台的内框中,选中其中一个陀螺表头为目标陀螺表头,转动所述的中框或内框,使得目标陀螺表头指向转动至与Z轴相垂直的平面内,采集目标陀螺表头的角增量,得出该目标陀螺表头的角速度,所述与外框相垂直的位置设为目标陀螺表头的初始位置(参见图1);此时,不对陀螺和转台进行补偿,零输入。

零输入初始位置条件下,记录陀螺表头输出值,计算ti时刻目标陀螺表头总的角度增量yi,用最小二乘法拟合出表达时间与增量关系的直线,直线的表达形式为:

式(1)中

此时直线的斜率α,即为采集的时间段内目标陀螺表头测量的角速度值ωn1。测量的角速度值包含初始位置上目标陀螺表头的常值漂移量和初始位置上地速在目标陀螺表头上的投影分量,即:

ωn1=ωg1d1(2)

式(2)中ωn1为初始位置上目标陀螺表头在测量时间内测得的角速度值;

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海航天控制技术研究所,未经上海航天控制技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201710834218.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top