[发明专利]一种发光二极管的外延片及其制备方法在审
申请号: | 201710730626.1 | 申请日: | 2017-08-23 |
公开(公告)号: | CN107731977A | 公开(公告)日: | 2018-02-23 |
发明(设计)人: | 王群;郭炳磊;董彬忠;李鹏;王江波 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L33/32 | 分类号: | H01L33/32;H01L33/12;H01L33/14;H01L33/06;H01L33/22;H01L33/00 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 322000 浙江省金华市义*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 外延 及其 制备 方法 | ||
1.一种发光二极管的外延片,所述外延片包括衬底、缓冲层、未掺杂氮化镓层、N型氮化镓层、多量子阱层、电子阻挡层和P型氮化镓层,所述缓冲层、所述未掺杂氮化镓层和所述N型氮化镓层依次层叠在所述衬底上,所述P型氮化镓层层叠在所述电子阻挡层上,所述多量子阱层包括多个量子阱和多个量子垒,所述多个量子阱和所述多个量子垒交替层叠设置,其特征在于,所述N型氮化镓层的第一表面具有多个凸块,所述第一表面为所述N型氮化镓层与所述未掺杂氮化镓层接触的表面的相反表面,各个所述凸块垂直于所述N型氮化镓层的层叠方向的截面面积沿所述N型氮化镓层的层叠方向逐渐减小,各个所述凸块的高度小于所述N型氮化镓层的厚度,所述多量子阱层层叠在所述多个凸块之间的N型氮化镓层上,所述多量子阱层的厚度等于各个所述凸块的高度,所述电子阻挡层层叠在所述多量子阱层和所述多个凸块上。
2.根据权利要求1所述的外延片,其特征在于,所述多个凸块呈阵列分布在所述第一表面上。
3.根据权利要求2所述的外延片,其特征在于,相邻两个所述凸块的形心之间的距离的整数倍等于芯片的尺寸。
4.根据权利要求3所述的外延片,其特征在于,相邻两个所述凸块的形心之间的距离为4mil、5mil或者0.1mm。
5.根据权利要求1~4任一项所述的外延片,其特征在于,各个所述凸块的高度为20nm~200nm。
6.根据权利要求1~4任一项所述的外延片,其特征在于,各个所述凸块为圆锥或棱锥。
7.一种发光二极管的外延片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括:
在衬底上依次生长缓冲层、未掺杂氮化镓层和N型氮化镓层;
在所述N型氮化镓层的第一表面上形成多个凸块,所述第一表面为所述N型氮化镓层与所述未掺杂氮化镓层接触的表面的相反表面,各个所述凸块垂直于所述N型氮化镓层的层叠方向的截面面积沿所述N型氮化镓层的层叠方向逐渐减小,各个所述凸块的高度小于所述N型氮化镓层的厚度;
在所述多个凸块之间的N型氮化镓层上生长多量子阱层,所述多量子阱层的厚度等于各个所述凸块的高度,所述多量子阱层包括多个量子阱和多个量子垒,所述多个量子阱和所述多个量子垒交替层叠设置;
在所述多量子阱层和所述多个凸块上生长电子阻挡层;
在所述电子阻挡层上生长P型氮化镓层。
8.根据权利要求7所述的制备方法,其特征在于,所述在所述N型氮化镓层的第一表面上形成多个凸块,包括:
采用光刻技术在所述N型氮化镓层的第一表面上所述多个凸块所在位置形成光刻胶;
干法刻蚀或者湿法腐蚀所述光刻胶之间的N型氮化镓层,在所述N型氮化镓层的第一表面上形成多个凸块;
去除所述光刻胶。
9.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述光刻胶的厚度为20nm~200nm。
10.根据权利要求8所述的制备方法,其特征在于,所述各个所述凸块的高度为20nm~200nm。
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