[发明专利]一种定位自组装有机半导体薄膜晶体管及其制备方法在审
申请号: | 201710288047.6 | 申请日: | 2017-04-27 |
公开(公告)号: | CN106941131A | 公开(公告)日: | 2017-07-11 |
发明(设计)人: | 张琨;叶堉;戴伦 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L51/05 | 分类号: | H01L51/05;H01L51/40 |
代理公司: | 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙)11360 | 代理人: | 王岩 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 定位 组装 有机半导体 薄膜晶体管 及其 制备 方法 | ||
1.一种定位自组装有机半导体薄膜晶体管,其特征在于,所述有机半导体薄膜晶体管包括:衬底、六方氮化硼h-BN、石墨烯、金属电极和有机半导体薄膜;其中,所述衬底包括下层的导电层以及上层的绝缘层;在衬底的绝缘层上形成h-BN;在h-BN的两端分别叠放石墨烯,两端的石墨烯与h-BN有交叠但不完全覆盖h-BN,并保持h-BN的中间部分暴露;在两端的石墨烯上分别形成金属电极,所述金属电极不完全覆盖石墨烯;在低压管式炉中通过控制温度、气压和时间,在中真空环境下以暴露出来的h-BN和石墨烯为模板,在暴露出来的h-BN和石墨烯上自组装生长有机半导体薄膜,从而实现由石墨烯作为接触电极,h-BN上的有机半导体薄膜作为沟道的有机半导体薄膜晶体管。
2.如权利要求1所述的有机半导体薄膜晶体管,其特征在于,所述石墨烯为单层或多层。
3.如权利要求1所述的有机半导体薄膜晶体管,其特征在于,所述h-BN为单层或多层。
4.一种定位自组装有机半导体薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:
1)提供衬底,衬底包括下层的导电层以及上层的绝缘层;
2)在衬底上制备h-BN;
3)制备石墨烯;
4)将石墨烯分别叠放在h-BN的两端,两端的石墨烯与h-BN有交叠但不完全覆盖h-BN,并保持h-BN的中间部分暴露;
5)在两端的石墨烯上分别形成金属电极,金属电极不完全覆盖石墨烯;
6)将步骤5)得到的样品放入低压管式炉的低温区,有机源材料放置在低压管式炉的高温区,通过控制温度、气压和时间,以暴露出来的h-BN和石墨烯为模板,在中真空环境下在暴露出来的h-BN和石墨烯上自组装生长有机半导体薄膜,完成后自然降温至室温,从而实现由石墨烯作为接触电极,h-BN上的有机半导体薄膜作为沟道的有机半导体薄膜晶体管。
5.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤2)中,采用机械剥离的方法在衬底上制备h-BN,形成规则形状的h-BN;或采用化学气相沉积CVD制备大面积h-BN,再通过光刻和刻蚀的方法形成规则形状的h-BN。
6.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,采用机械剥离的方法制备规则形状的石墨烯;或者采用CVD制备大面积石墨烯,再通过光刻和刻蚀的方法形成规则形状的石墨烯。
7.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤6)中,低压管式炉的低温区的温度为70~100℃,低压管式炉的高温区的温度为100~130℃,气压为1~100Pa,升温时间为10~60min,自组装生长的时间为1~30min。
8.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤6)中,源材料采用有机半导体。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L51-00 使用有机材料作有源部分或使用有机材料与其他材料的组合作有源部分的固态器件;专门适用于制造或处理这些器件或其部件的工艺方法或设备
H01L51-05 .专门适用于整流、放大、振荡或切换且并具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的;具有至少一个电位跃变势垒或表面势垒的电容器或电阻器
H01L51-42 .专门适用于感应红外线辐射、光、较短波长的电磁辐射或微粒辐射;专门适用于将这些辐射能转换为电能,或者适用于通过这样的辐射进行电能的控制
H01L51-50 .专门适用于光发射的,如有机发光二极管
H01L51-52 ..器件的零部件
H01L51-54 .. 材料选择