[发明专利]一种定位自组装有机半导体薄膜晶体管及其制备方法在审

专利信息
申请号: 201710288047.6 申请日: 2017-04-27
公开(公告)号: CN106941131A 公开(公告)日: 2017-07-11
发明(设计)人: 张琨;叶堉;戴伦 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L51/05 分类号: H01L51/05;H01L51/40
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙)11360 代理人: 王岩
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 定位 组装 有机半导体 薄膜晶体管 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种定位自组装有机半导体薄膜晶体管,其特征在于,所述有机半导体薄膜晶体管包括:衬底、六方氮化硼h-BN、石墨烯、金属电极和有机半导体薄膜;其中,所述衬底包括下层的导电层以及上层的绝缘层;在衬底的绝缘层上形成h-BN;在h-BN的两端分别叠放石墨烯,两端的石墨烯与h-BN有交叠但不完全覆盖h-BN,并保持h-BN的中间部分暴露;在两端的石墨烯上分别形成金属电极,所述金属电极不完全覆盖石墨烯;在低压管式炉中通过控制温度、气压和时间,在中真空环境下以暴露出来的h-BN和石墨烯为模板,在暴露出来的h-BN和石墨烯上自组装生长有机半导体薄膜,从而实现由石墨烯作为接触电极,h-BN上的有机半导体薄膜作为沟道的有机半导体薄膜晶体管。

2.如权利要求1所述的有机半导体薄膜晶体管,其特征在于,所述石墨烯为单层或多层。

3.如权利要求1所述的有机半导体薄膜晶体管,其特征在于,所述h-BN为单层或多层。

4.一种定位自组装有机半导体薄膜晶体管的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:

1)提供衬底,衬底包括下层的导电层以及上层的绝缘层;

2)在衬底上制备h-BN;

3)制备石墨烯;

4)将石墨烯分别叠放在h-BN的两端,两端的石墨烯与h-BN有交叠但不完全覆盖h-BN,并保持h-BN的中间部分暴露;

5)在两端的石墨烯上分别形成金属电极,金属电极不完全覆盖石墨烯;

6)将步骤5)得到的样品放入低压管式炉的低温区,有机源材料放置在低压管式炉的高温区,通过控制温度、气压和时间,以暴露出来的h-BN和石墨烯为模板,在中真空环境下在暴露出来的h-BN和石墨烯上自组装生长有机半导体薄膜,完成后自然降温至室温,从而实现由石墨烯作为接触电极,h-BN上的有机半导体薄膜作为沟道的有机半导体薄膜晶体管。

5.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤2)中,采用机械剥离的方法在衬底上制备h-BN,形成规则形状的h-BN;或采用化学气相沉积CVD制备大面积h-BN,再通过光刻和刻蚀的方法形成规则形状的h-BN。

6.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,采用机械剥离的方法制备规则形状的石墨烯;或者采用CVD制备大面积石墨烯,再通过光刻和刻蚀的方法形成规则形状的石墨烯。

7.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤6)中,低压管式炉的低温区的温度为70~100℃,低压管式炉的高温区的温度为100~130℃,气压为1~100Pa,升温时间为10~60min,自组装生长的时间为1~30min。

8.如权利要求4所述的制备方法,其特征在于,在步骤6)中,源材料采用有机半导体。

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