[发明专利]半导体存储装置有效
申请号: | 201710134239.1 | 申请日: | 2017-03-08 |
公开(公告)号: | CN107767894B | 公开(公告)日: | 2021-05-28 |
发明(设计)人: | 柳平康辅 | 申请(专利权)人: | 东芝存储器株式会社 |
主分类号: | G11C7/04 | 分类号: | G11C7/04;G11C7/10 |
代理公司: | 北京律盟知识产权代理有限责任公司 11287 | 代理人: | 杨林勋 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 存储 装置 | ||
1.一种半导体存储装置,其特征在于具备:
非易失性存储单元阵列;
第1电路,将存储在所述非易失性存储单元阵列中的数据输出至外部的控制器;及
第2电路,对所述第1电路执行校准;
所述第2电路是:
对所述非易失性存储单元阵列执行第1读出操作,并且在所述第1读出操作的忙碌状态时,获取所述第1电路的第1信息,
对所述第1电路执行校准,
对所述非易失性存储单元阵列执行第2读出操作,并且在所述第2读出操作的忙碌状态时,获取所述第1电路的第2信息,
将所述第1信息与所述第2信息进行比较,当其差为第1值以上时,对所述第1电路执行校准。
2.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于:
所述第1值是根据电源接通时所接收的第1命令而设定。
3.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于:
所述第1信息及所述第2信息是所述第1电路的温度信息。
4.根据权利要求1所述的半导体存储装置,其特征在于:
所述第1信息及所述第2信息是施加至所述第1电路的电压信息。
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