[发明专利]高介电常数LTCC介电组合物和装置有效
申请号: | 201680028114.4 | 申请日: | 2016-08-02 |
公开(公告)号: | CN107848891B | 公开(公告)日: | 2021-08-20 |
发明(设计)人: | 小沃尔特·J·赛姆斯 | 申请(专利权)人: | 费罗公司 |
主分类号: | H01G4/12 | 分类号: | H01G4/12;C04B35/468;B32B18/00 |
代理公司: | 北京市万慧达律师事务所 11111 | 代理人: | 王蕊;李轶 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 介电常数 ltcc 组合 装置 | ||
电子装置是由介电组合物生产的,所述介电组合物包含前体材料的混合物,通过焙烧,其形成了包含钡‑钛‑钨‑硅氧化物的介电材料。
发明背景
1.发明领域
本发明涉及介电组合物,且更具体地涉及钡-钛-硅-钨酸盐基介电组合物,其表现出介电常数K=900-2500,并且其可以用于低温共烧陶瓷(LTCC)应用,其中贵金属金属化。
2.相关领域描述
现有技术在用于无线应用的LTCC系统中所用的材料使用了在测量频率1MHz时介电常数K=4-8和Q因子为约400-1000的介电材料。这通常是通过使用混合了高浓度的BaO-CaO-B2O3低软化温度玻璃的陶瓷粉末来实现的,所述低软化温度玻璃使得陶瓷低温致密化(900℃或者更低)。这种大体积玻璃可具有降低所述陶瓷的K和Q值的不期望的效果。Q因子=1/Df,其中Df是介电损耗角正切。存在着对于高K值的介电材料日益增加的需求。但是,更大的挑战是在低于900℃的温度烧结高K介电材料。
发明内容
本发明涉及介电组合物,且更具体地涉及钡-钛-硅-钨酸盐基介电组合物,所述组合物表现出介电常数K=900-2500,并且其可以用于低温共烧陶瓷(LTCC)应用,其中贵金属金属化。在电磁干扰滤波器应用中存在着对于具有非常高的K值(大于100)的介电材料日益增加的需求。
宽泛地,本发明的陶瓷材料包括主体材料,其是通过混合适量的BaCO3,TiO2,WO3和SiO2前体,将这些材料在含水介质中一起研磨到粒度D50为约0.2-1.5μm来制备的。将这种浆料干燥并在约800-1000℃煅烧约1-5小时来形成包括BaO,TiO2,WO3和SiO2的主体材料。然后将所形成的主体材料机械粉碎并且与助熔剂混合,并且在含水介质中再次研磨到粒度D50为约0.5-1.0μm。将该研磨的陶瓷粉末干燥并粉碎来产生细分散的粉末。所形成的粉末可以被压成圆柱形粒料并在约800-1000℃,或者775至约900℃,优选约840℃至约900℃,更优选约820至约890℃,仍然更优选约845至约885℃和最优选在约880℃的温度下焙烧约1至约200分钟,优选约5至约100分钟,更优选约10至约50分钟,仍然更优选约20至约40分钟和最优选约30分钟。
本发明的一个实施方案是一种组合物,所述组合物包含前体材料的混合物,通过焙烧,其形成了包含钡-钛-硅-钨氧化物主体材料的无铅和无镉的介电材料。
根据前段的混合物还可以进一步包含前体,其通过焙烧,使得所述介电材料进一步包含选自以下的一种或多种:铋,锌,硼,锂,铜和锰。该另外的金属可以被认为是掺杂剂。
任何介电材料的介电常数大于100,优选大于800,更优选大于900和依次更优选大于1000,1100,1200,1300,1400,1500,1600,1700,1800,1900,2000,2100,2200,2300,2400,2500,2600,2700,2800,2900,3000。更优选本文公开的任何介电材料的介电常数为约900至约2500。这个段的目的是提供对于介电常数800-3000的全部值的支持,即,其之间的每个值和其之间的全部范围。
在一个优选的实施方案中,该主体材料不包括铅。在一个可选的优选的实施方案中,该主体材料不包括镉。在一个更优选的实施方案中,该主体材料不包括铅和镉。
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