[发明专利]一种基于P‑NiO/N‑ZnO:Al异质结结构的紫外探测器及其制备方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种P-NiO/N-ZnO:Al的异质结构紫外探测器及其制备方法，属于光电子功能器件领域。

背景技术

紫外探测器在环境监测，化学分析，日盲探测器上都有着广泛的应用，为了提高探测器的性能，许多材料被用来制备紫外探测器，比如ZnO、SiC、GaN、AlGaN。ZnO作为一种典型的N型半导体材料，由于其成本低廉，制备方便，近年来被视为SiC、GaN的替代品，越来越受到重视。同样，由于暗电流较低，反应速度快等优点，ZnO异质结结构的紫外探测器也受到了越来越多的研究。NiO作为一种本征P型直接带隙半导体材料，与ZnO形成异质结结构的紫外探测器具有优良的性能，原因在于异质结结构中内建电场的存在可以大大促进光生电子空穴对的有效分离，提高紫外探测器的探测灵敏度和响应速度。另外，因为NiO禁带宽度达到3.4eV，P-NiO/N-ZnO异质结紫外探测器也能够有效地探测高能紫外线。

NiO纳米材料的制备方法一般偏向于化学合成，包括水浴法、化学气相沉积(CVD)、煅烧法等。这些方法维持的周期一般而言都比较长，耗能较多，且重复性较差。例如煅烧法制备NiO纳米材料重复性比较差，需要不断调整煅烧温度及气氛等反应参数才能得到水溶性的NiO纳米晶。并且，纳米晶溶液不稳定，放置一段时间后团聚沉淀，使得样品无法再使用。

发明内容

本发明的目的是提出了一种P-NiO/N-ZnO:Al的异质结构紫外探测器及其制备方法。

一种基于P-NiO/N-ZnO:Al的异质结结构的紫外探测器，包括P型NiO层及N型ZnO:Al层，二者形成异质结，所述的NiO层是采用溶胶凝胶旋涂退火的方式获得。

本发明中制备P-NiO/N-ZnO:Al的异质结构紫外探测器的具体步骤如下：

1)按摩尔比为0.5～0.7称取还原剂和Ni(NO₃)₂·6H₂O粉末，所述的还原剂为甘氨酸或乙酰丙酮；当还原剂为甘氨酸时，先将硝酸镍与甘氨酸混合，再加入去离子水常温～50℃下搅拌3～24h，获得NiO前驱体溶液；当还原剂为乙酰丙酮时，先将硝酸镍加入乙二醇甲醚中，于50℃下搅拌1h，再加入称量好的乙酰丙酮室温下混合均匀，获得NiO前驱体溶液；

2)将NiO前驱体溶液采用旋涂的方法，旋涂在衬底上，旋涂条件：转速为100rpm～5000rpm，温度为0℃～60℃，气氛为空气，将旋涂完的衬底在加热板上加热退火，退火温度为150℃～200℃时间5min～120min，得到NiO薄膜；

3)将步骤2)所得的薄膜利用脉冲激光沉积沉积一层ZnO:Al薄膜，沉积条件：衬底和靶材的距离为100mm，生长室真空度在2×10^-3Pa以上，生长室通入纯O₂，控制压强为0.1Pa～10Pa，调节激光功率为200～300mJ，频率为1～5Hz，温度为0℃～200℃，时间为5min～10min；

4)将P-NiO/N-ZnO:Al的异质结结构采用热蒸镀的方式蒸镀Au电极，蒸镀条件：蒸镀室真空度在1×10^-4Pa以上，电流为150A，蒸发速率为电极厚度为120nm，得到P-NiO/N-ZnO:Al的异质结结构紫外探测器。

上述技术方案中所述的衬底可以为单晶硅片、玻璃、氧化铟锡等。

上述方法中所述的ZnO:Al靶材、Au电极纯度都在99.99％以上，甘氨酸、Ni(NO₃)₂·6H₂O纯度均在98％以上。

本发明的优点在于：

1)本发明中NiO层制备方法简单方便，且能耗较低，温度150℃～200℃下即可得到质量优异的NiO薄膜。

2)重复性好，操作简便，适用于大面积制备NiO薄膜层。

3)该种方法制备的NiO薄膜层具有良好的电学和光学性能，获得的紫外探测器性能优异。

4)该种NiO薄膜具有一定的耐热性能，在后续的制备器件的过程中依然能保持良好的薄膜质量，为获得性能优异的紫外探测器提供可能。

附图说明

图1为P-NiO/N-ZnO:Al的异质结结构中NiO层的X射线衍射(XRD)图。

图2为NiO层的扫描图。

图3为P-NiO/N-ZnO:Al中ZnO:Al的扫描图。