[发明专利]一种CDM保护电路结构在审

专利信息
申请号: 201611085720.8 申请日: 2016-11-30
公开(公告)号: CN106783806A 公开(公告)日: 2017-05-31
发明(设计)人: 孙磊;孙旭光;李志国 申请(专利权)人: 北京中电华大电子设计有限责任公司
主分类号: H01L23/60 分类号: H01L23/60
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102209 北京市昌平区北七家未*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 cdm 保护 电路 结构
【权利要求书】:

1.一种CDM保护电路结构其特征在于,电路结构由第一级ESD保护电路和第二级保护电路,其中:在所述第一级ESD保护电路中,使用对电源的双向低触发的ESD保护电路,同时使用对地的双向低触发的ESD保护电路;在所述第二级ESD保护电路中,使用对电源的双向低触发的ESD保护电路,同时使用对地的双向低触发的ESD保护电路。

2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第一级ESD保护电路由ESD clamp1和ESD clamp2组成,所述第二级ESD保护电路由ESD clamp3和ESD clamp4组成;

当芯片充满正的静电电荷,射频信号输入端口接地时,静电电流从芯片内部流向射频信号输入端口,大部分的静电电荷通过射频信号输入端口和VSS1间的ESD clamp2,VDD1和射频信号输入端口间的ESD clamp1泄放,节点A和VSS2间的ESD clamp4,VDD2和节点A的ESD clamp3的作用是钳位A点的电位,使得此电位小于内部电路的失效电压,起到CDM保护的作用;

当芯片充满负的静电电荷,射频信号输入端口接地时,静电电流从射频信号输入端口流向芯片内部,大部分的静电电荷通过射频信号输入端口和VSS1间的ESD clamp2,VDD1和射频信号输入端口间的ESD clamp1泄放,节点A和VSS2间的ESD clamp4,VDD2和节点A的ESD clamp3的作用是钳位A点的电位,使得此电位小于内部电路的失效电压,起到CDM保护的作用。

3.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述第一级ESD保护电路可以使用二极管,三极管,MOS管,可控硅管实现,所述第二级ESD保护电路可以使用二极管,三极管,MOS管,可控硅管实现。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京中电华大电子设计有限责任公司,未经北京中电华大电子设计有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201611085720.8/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top