[发明专利]一种LED芯片及其制作方法有效
申请号: | 201611067348.8 | 申请日: | 2016-11-28 |
公开(公告)号: | CN106784174B | 公开(公告)日: | 2019-03-08 |
发明(设计)人: | 田艳红;马欢;顾小云;王力明 | 申请(专利权)人: | 华灿光电(浙江)有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;H01L21/78;H01L33/20 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 322000 浙江省金华市义*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 led 芯片 及其 制作方法 | ||
1.一种LED芯片的制作方法,其特征在于,所述制作方法包括:
在蓝宝石衬底上依次外延生长N型GaN层、有源层、P型GaN层;
在所述P型GaN层上开设延伸到所述N型GaN层的凹槽;
在所述P型GaN层上对应设置P型焊盘的区域形成电流阻挡层;
在所述P型GaN层、以及所述电流阻挡层上形成透明导电层,所述透明导电层和所述电流阻挡层内设有延伸到所述P型GaN层的通孔;
在所述透明导电层、所述凹槽的侧壁和所述N型GaN层上形成钝化层,并通过所述通孔在所述P型GaN层上形成所述P型焊盘,在所述N型GaN层上形成N型焊盘;
将功率逐渐增大的激光作用在所述凹槽内,形成划片道的同时解除划片道内的应力;
沿划片道的延伸方向进行劈裂,得到若干相互独立的芯片,各个所述芯片上划片道的宽度为2~4μm。
2.根据权利要求1所述的制作方法,其特征在于,所述激光的功率的变化范围为0.5~1.2W,所述激光的功率的变化速率为0.1W/ms。
3.根据权利要求1或2所述的制作方法,其特征在于,所述透明导电层包覆在所述电流阻挡层外、以及所述电流阻挡层内的所述通孔的内壁上。
4.根据权利要求3所述的制作方法,其特征在于,所述在所述透明导电层、所述凹槽的侧壁和所述N型GaN层上形成钝化层,并通过所述通孔在所述P型GaN层上形成所述P型焊盘,在所述N型GaN层上形成N型焊盘,包括:
在所述透明导电层、所述通孔内、所述凹槽的侧壁和所述N型GaN层上形成钝化层;
在所述钝化层上涂覆一层光刻胶,并采用光刻工艺去除对应所述通孔和设置所述N型焊盘的区域的所述光刻胶;
在所述光刻胶的保护下对所述钝化层进行刻蚀,露出所述通孔和所述N型焊盘设置区域的所述N型GaN层;
在所述通孔内、所述N型GaN层上、以及所述光刻胶上形成电极;
剥离所述光刻胶,形成所述P型焊盘和所述N型焊盘。
5.根据权利要求1或2所述的制作方法,其特征在于,所述在所述P型GaN层、以及所述电流阻挡层上形成透明导电层,包括:
采用磁控溅射技术或者电子束蒸发技术在所述P型GaN层上、所述电流阻挡层上、以及所述凹槽内沉积氧化铟锡层或者NiAu层;
在所述氧化铟锡层或者NiAu层上涂覆一层光刻胶,并采用光刻技术去除对应所述凹槽区域的所述光刻胶;
在所述光刻胶的保护下对所述氧化铟锡层或者NiAu层进行刻蚀,形成所述透明导电层。
6.根据权利要求5所述的制作方法,其特征在于,所述制作方法还包括:
采用快速热退火技术或者在退火炉中氧气氛围内进行高温退火,使所述透明导电层与所述P型GaN层之间形成良好的欧姆接触。
7.一种LED芯片,所述LED芯片包括蓝宝石衬底、以及依次层叠在所述蓝宝石衬底上的N型GaN层、有源层、P型GaN层、电流阻挡层、透明导电层,所述P型GaN层上开设有延伸到所述N型GaN层的凹槽,所述凹槽的侧壁、所述N型GaN层和所述透明导电层上设有钝化层,所述透明导电层和所述电流阻挡层内设有延伸到所述P型GaN层的通孔,P型焊盘设置在所述通孔内,N型焊盘设置在所述N型GaN层上,其特征在于,所述LED芯片的边缘设有划片道,所述划片道的宽度为2~4μm。
8.根据权利要求7所述的LED芯片,其特征在于,所述透明导电层包覆在所述电流阻挡层外、以及所述电流阻挡层内的所述通孔的内壁上。
9.根据权利要求7或8所述的LED芯片,其特征在于,所述电流阻挡层的材料采用二氧化硅、氮氧化硅或者氮化硅,所述钝化层的材料采用二氧化硅或者氮氧化硅。
10.根据权利要求7或8所述的LED芯片,其特征在于,所述透明导电层的材料采用氧化铟锡或者NiAu。
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