[发明专利]用于抑制噪音的芯片上电磁带隙(EBG)结构在审

专利信息
申请号: 201611025452.0 申请日: 2016-11-18
公开(公告)号: CN107039418A 公开(公告)日: 2017-08-11
发明(设计)人: 蔡铭宪;许森贵;林建民;普翰屏;刘莎莉;薛福隆 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L23/552
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司11409 代理人: 章社杲,李伟
地址: 中国台*** 国省代码: 台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 用于 抑制 噪音 芯片 磁带 ebg 结构
【权利要求书】:

1.一种集成电路(IC)管芯,包括:

电源网格和接地网格,堆叠在覆盖半导体衬底的后道制程(BEOL)区域内;

电感器,布置在所述电源网格和所述接地网格的上方,其中,所述电感器包括多个彼此堆叠并且端对端连接的多个电感器段以限定所述电感器的长度;以及

电容器,位于所述电源和接地网格下方;

其中,所述电容器和所述电感器串联连接,并且,所述电容器和所述电感器的各自的终端分别连接至所述电源网格和所述接地网格。

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