[发明专利]电熔丝结构有效
申请号: | 201610835557.6 | 申请日: | 2016-09-21 |
公开(公告)号: | CN107863334B | 公开(公告)日: | 2019-09-17 |
发明(设计)人: | 永井享浩 | 申请(专利权)人: | 联华电子股份有限公司;福建省晋华集成电路有限公司 |
主分类号: | H01L23/525 | 分类号: | H01L23/525 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈小雯 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电熔丝 结构 | ||
1.一种电熔丝结构,包含:
基底;
堆叠型电容,设于该基底上,该堆叠型电容包含:
两个或两个以上的下电极,设于该基底上;
电容介电层,设于该多个下电极上;以及
单一上电极,设于该电容介电层上。
2.如权利要求1所述的电熔丝结构,其中各该下电极包含:
下电极板;以及
多个存储节点(storage nodes),设于该下电极板上。
3.如权利要求2所述的电熔丝结构,其中该下电极板及该多个存储节点包含不同材料。
4.如权利要求2所述的电熔丝结构,其中该多个存储节点由该下电极板垂直向上延伸。
5.如权利要求2所述的电熔丝结构,另包含支撑层,沿着水平方向连接该多个存储节点。
6.如权利要求5所述的电熔丝结构,其中该支撑层包含介电材料。
7.如权利要求5所述的电熔丝结构,其中该支撑层包含导电材料。
8.如权利要求5所述的电熔丝结构,其中该电容介电层环绕该多个存储节点及该支撑层。
9.如权利要求8所述的电熔丝结构,其中该电容介电层包含高介电常数介电层。
10.如权利要求1所述的电熔丝结构,其中该单一上电极包含:
导电层,设于该电容介电层上;
多晶硅层,设于该导电层上;以及
上电极板,设于该多晶硅层上。
11.一种半导体元件,包含:
基底,该基底上具有存储器区以及电熔丝区;
第一堆叠型电容,设于该存储器区,该第一堆叠型电容包含:
第一下电极;
第一电容介电层,设于该第一下电极上;以及
一第一上电极,设于该第一电容介电层上;
第二堆叠型电容,设于该电熔丝区,该第二堆叠型电容包含:
两个或两个以上的第二下电极;
第二电容介电层,设于该多个第二下电极上;以及
单一第二上电极,设于该第二电容介电层上。
12.如权利要求11所述的半导体元件,其中各该第一下电极包含:
第一下电极板;以及
多个第一存储节点,设于该第一下电极板上。
13.如权利要求12所述的半导体元件,另包含一第一支撑层沿着水平方向连接该多个第一存储节点。
14.如权利要求13所述的半导体元件,其中该第一电容介电层环绕该多个第一存储节点及该第一支撑层。
15.如权利要求11所述的半导体元件,其中该第一上电极包含:
第一导电层,设于该第一电容介电层上;
第一多晶硅层,设于该第一导电层上;以及
第一上电极板,设于该第一多晶硅层上。
16.如权利要求11所述的半导体元件,其中各该第二下电极包含:
第二下电极板;以及
多个第二存储节点,设于该第二下电极板上。
17.如权利要求16所述的半导体元件,另包含第二支撑层,沿着水平方向连接该多个第二存储节点。
18.如权利要求17所述的半导体元件,其中该第二支撑层包含介电材料。
19.如权利要求17所述的半导体元件,其中该第二电容介电层环绕该多个第二存储节点及该第二支撑层。
20.如权利要求11所述的半导体元件,其中该单一第二上电极包含:
第二导电层,设于该第二电容介电层上;
第二多晶硅层,设于该第二导电层上;以及
第二上电极板,设于该第二多晶硅层上。
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