[发明专利]一种发光二极管及其制备方法有效

专利信息
申请号: 201610245662.4 申请日: 2016-04-20
公开(公告)号: CN105742435B 公开(公告)日: 2018-01-19
发明(设计)人: 江汉;蓝永凌;黄文宾;林兓兓;蔡吉明;张家宏 申请(专利权)人: 安徽三安光电有限公司
主分类号: H01L33/10 分类号: H01L33/10;H01L33/12;H01L33/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 241000 安徽*** 国省代码: 安徽;34
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光二极管 及其 制备 方法
【说明书】:

技术领域

发明属于半导体领域,尤其涉及一种具有Al /AlGaN DBR结构的发光二极管及其制备方法,以进一步提高发光二极管的发光效率。

背景技术

在氮化物发光二极管的制备中,加入分布式布拉格反射镜(DBR) 可以大幅度的提高器件的发光功率。DBR是两种折射率不同材料周期交替生长的层状结构,在发光层和衬底之间,能够将射向衬底的光反射回表面或侧面,可以减少衬底对光的吸收,提高出光效率。DBR结构可直接利用MOCVD设备进行生长,无须再次加工处理,简化了器件的制作工艺。然而,为提高器件的发光效率,还需进一步优化DBR结构。

发明内容

为进一步提高发光二极管的发光效率,在其一方面,本发明公开了一种发光二极管,至少包括一衬底,以及依次沉积于所述衬底上的成核层、缓冲层和外延层,其特征在于:所述缓冲层和外延层之间还插入一Al/AlGaN DBR结构,所述DBR结构由第一Al颗粒层和第一AlGaN层周期性交替层叠而成,所述第一AlGaN层沉积于第一Al颗粒层使DBR具有波浪形粗化结构。

优选的,所述缓冲层和DBR结构之间还包括第二AlGaN层,所述第二AlGaN层的Al均匀掺杂,Al组分为30%~40%;或者,所述第二AlGaN层的Al组分从所述缓冲层一侧向所述DBR结构一侧递增渐变,所述Al组分变化范围为0.5%~40%,以减小所述缓冲层和DBR结构之间的晶格差异,以减小所述缓冲层和DBR结构之间的晶格差异。

优选的,所述第二AlGaN层和DBR结构之间还包括一第二Al颗粒层,所述第二Al颗粒层的颗粒直径大于所述第一Al颗粒层的颗粒直径,以加强所述DBR结构的波浪形图形。

优选的,所述DBR结构和外延层之间还包括第三AlGaN层,所述第三AlGaN层的Al均匀掺杂,Al组分为10%~15%;或者,所述第三AlGaN层的Al组分从所述DBR结构一侧向所述外延层一侧递减渐变,所述Al组分变化范围为0.5%~15%,以减小所述DBR结构和外延层之间的晶格差异。

优选的, 所述第一Al颗粒层和第一AlGaN层交替层叠的周期数为15~25。

优选的,所述DBR结构的厚度范围为0.1厚度范围为0.1~0.5微米。

优选的,所述第一Al颗粒层和第一AlGaN层的厚度相同,以实现DBR的反射效果,厚度均为50~100埃。

优选的,所述第二AlGaN层和第二Al颗粒层的厚度相同,均为100~200埃。

优选的,所述第三AlGaN层的厚度为50~80埃。

优选的,所述成核层材料为低温生长的GaN,所述缓冲层材料为高温生长的非掺杂GaN。

优选的,所述衬底为平片衬底或图形化衬底,所述图形化衬底表面具有周期性排列的凸起。

优选的,所述缓冲层的厚度与凸起高度的比例为1/3~2/3。

优选的,所述外延层包括依次层叠的N型层、发光层和P型层。

优选的,所述N型层包括第一N型层和位于所述第一N型层之上的第二N型层,所述第一N型层的N型杂质掺杂浓度小于所述第二N型层的N型杂质掺杂浓度。

优选的,所述第一N型层的N型杂质掺杂浓度为5×1018~1×1019cm-2,所述第二N型层的N型杂质掺杂浓度为2×1019~2.5×1019cm-2

在其另一方面,本发明还提供了一种具有Al/AlGaN DBR结构的发光二极管的制备方法,至少包括如下步骤:

提供一衬底;

于所述衬底上依次生长成核层和缓冲层;

于所述缓冲层上生长Al/AlGaN DBR结构,所述DBR结构由第一Al颗粒层和第一AlGaN层周期性交替层叠而成,所述第一AlGaN层沉积于第一Al颗粒层使DBR结构具有波浪形粗化结构;

于所述DBR结构上生长外延层。

优选的,所述DBR结构的制备方法具体为:1)、于所述缓冲层上采用金属有机化学气相沉积法生长第一Al金属膜层;2)、高温熔融所述第一Al金属膜层形成第一Al颗粒层;3)、于所述第一Al颗粒层表面采用金属有机化学气相沉积法生长第一AlGaN层;4)、重复步骤1)~3)多次,形成具有波浪形的粗化结构的Al/AlGaN DBR结构。

优选的,所述步骤1)~3)重复15~25次,形成呈波浪形的Al/AlGaN DBR结构。

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