[发明专利]铜阻挡物的化学机械抛光组合物有效
申请号: | 201580046257.3 | 申请日: | 2015-06-25 |
公开(公告)号: | CN106661431B | 公开(公告)日: | 2019-06-28 |
发明(设计)人: | 富琳;S.格拉宾;J.戴萨德;翁巍;刘磊;A.利奥诺夫 | 申请(专利权)人: | 嘉柏微电子材料股份公司 |
主分类号: | C09K3/14 | 分类号: | C09K3/14 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 邢岳 |
地址: | 美国伊*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阻挡 化学 机械抛光 组合 | ||
1.化学机械抛光组合物,包含:
基于水的液体载剂;
分散在该液体载剂中的胶态氧化硅研磨剂颗粒;
氨基硅烷化合物或鏻硅烷化合物,其结合到所述胶态氧化硅研磨剂颗粒的外表面的内部;
氧化剂;以及
铜抛光抑制剂和铜络合剂中的至少一种。
2.化学机械抛光组合物,包含:
基于水的液体载剂;
分散在该液体载剂中的胶态氧化硅研磨剂颗粒;
结合到所述胶态氧化硅研磨剂颗粒的外表面的内部的化学物质,其中所述化学物质为:含磷的化合物,或者,除氨基硅烷化合物以外的含氮的化合物;
氧化剂;
铜抛光抑制剂和铜络合剂中的至少一种;以及
在3至7范围内的pH值。
3.权利要求1和2之一的组合物,具有在3至6范围内的pH值。
4.权利要求1-2中任一项的组合物,其中,所述胶态氧化硅研磨剂颗粒具有至少13毫伏的永久性正电荷。
5.权利要求1-2中任一项的组合物,其中,所述胶态氧化硅研磨剂颗粒具有在30纳米至70纳米范围内的平均粒径。
6.权利要求1-2中任一项的组合物,包含1重量%至10重量%的所述胶态氧化硅研磨剂颗粒。
7.权利要求1-2中任一项的组合物,包含2重量%至6重量%的所述胶态氧化硅研磨剂颗粒。
8.权利要求1-2中任一项的组合物,其中,所述胶态氧化硅研磨剂颗粒的30%或更高包括三个或更多个聚集的初级颗粒。
9.权利要求1-2中任一项的组合物,其中,所述胶态氧化硅研磨剂颗粒的50%或更高包括三个或更多个聚集的初级颗粒,且所述胶态氧化硅研磨剂颗粒的20%或更高为单体或二聚体。
10.权利要求1的组合物,其中,所述氨基硅烷化合物包含丙基、伯胺、或季胺。
11.权利要求1的组合物,其中,所述氨基硅烷化合物包含双(2-羟乙基)-3-氨基丙基三烷氧基硅烷、二乙基氨基甲基三烷氧基硅烷、(N,N-二乙基-3-氨基丙基)三烷氧基硅烷、3-(N-苯乙烯基甲基-2-氨基乙基)氨基丙基三烷氧基硅烷、氨基丙基三烷氧基硅烷、(2-N-苄基氨基乙基)-3-氨基丙基三烷氧基硅烷、三烷氧基甲硅烷基丙基-N,N,N-三甲基铵、N-(三烷氧基甲硅烷基乙基)苄基-N,N,N-三甲基铵、双(甲基二烷氧基甲硅烷基丙基)-N-甲基胺、双(三烷氧基甲硅烷基丙基)脲、双(3-(三烷氧基甲硅烷基)丙基)-乙二胺、双(三烷氧基甲硅烷基丙基)胺、N-(2-氨基乙基)-3-氨基丙基甲基二烷氧基硅烷、N-(2-氨基乙基)-3-氨基丙基三烷氧基硅烷、3-氨基丙基甲基二烷氧基硅烷、(N-三烷氧基甲硅烷基丙基)聚乙烯亚胺、三烷氧基甲硅烷基丙基二亚乙基三胺、N-苯基-3-氨基丙基三烷氧基硅烷、N-(乙烯基苄基)-2-氨基乙基-3-氨基丙基三烷氧基硅烷、4-氨基丁基三烷氧基硅烷、或者它们的混合物。
12.权利要求11的组合物,其中,所述氨基丙基三烷氧基硅烷为3-氨基丙基三烷氧基硅烷。
13.权利要求1-2中任一项的组合物,其中,所述氧化剂包含过氧化氢。
14.权利要求1-2中任一项的组合物,包含铜抛光抑制剂及铜络合剂这两者。
15.权利要求1-2中任一项的组合物,其中,所述铜抛光抑制剂是唑化合物、具有大于或等于6的碳链长度的阴离子型或两性的表面活性剂、或者它们的混合物。
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