[发明专利]一种物体的定位方法

权利要求书

1.一种物体的定位方法，其特征在于，包括：

步骤一，获取一物体的彩色图和所述物体的三维模型；

步骤二，使用图像分割法，提取所述彩色图中的所述物体的第一轮廓；

步骤三，获取一指定的位置和姿态参数，作为当前的位置和姿态参数；

步骤四，根据所述物体的三维模型和所述当前的位置和姿态参数，生成所述物体的第二轮廓；

步骤五，根据所述第一轮廓和所述第二轮廓，生成相似性度量函数S(Θ)；

步骤六，根据所述当前的位置和姿态参数，生成所述相似性度量函数的当前函数值；

步骤七，判断所述相似性度量函数的当前函数值是否等于1；

步骤八，当所述相似性度量函数的当前函数值等于1时，将所述当前的位置和姿态参数作为位置和姿态参数的最佳参数，并且输出。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤四包括：

根据所述当前的位置参数和姿态参数，对所述三维模型进行坐标变换，生成变换后的三维模型；

将变换后的所述三维模型投影到二维平面，得到所述物体对应的电脑图形CG图像；

提取所述电脑图形图像中所述物体的第二轮廓。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述步骤五包括：

计算所述第一轮廓和所述第二轮廓之间的重合区域的面积；

计算所述重合区域的面积与所述第一轮廓所包围区域的面积之间的第一比值；

计算所述重合区域的面积与所述第二轮廓所包围区域的面积之间的第二比值；

将所述第一比值与所述第二比值之间的乘积作为相似性度量函数。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

步骤九，当所述相似性度量函数的当前函数值小于1时，根据当前的位置参数和姿态参数，选取充分小增量，在参数空间进行采样，得到至少两组采样后的位置和姿态参数；

步骤十，将所述采样后的每组位置和姿态参数，作为当前的位置和姿态参数，执行所述步骤四到所述步骤六，得到不同组的采样后的位置和姿态参数对应的相似性度量函数值；

步骤十一，从不同组的采样后的位置和姿态参数对应的相似性度量函数值中，选择最大值；

步骤十二，判断所述最大值是否等于1；

步骤十三，当所述最大值等于1时，将所述最大值对应的位置和姿态参数作为位置和姿态参数的最佳参数，并且输出。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

步骤十四，当所述最大值小于1时，将所述最大值对应的位置和姿态参数作为当前的位置和姿态参数，跳到所述步骤四。

6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述相似性度量函数S(Θ)为：

S(Θ)=A02(Θ)A(CΛ(M(Θ)))A(CD),]]>

其中，A(C_Λ(M(Θ)))为所述第一轮廓所包围区域的面积；A(C_D)为所述第二轮廓所包围区域的面积；A₀(Θ)为所述第一轮廓和所述第二轮廓之间的重合区域的面积。