[发明专利]平面物体二维变形量的测量方法有效
申请号: | 201510274614.3 | 申请日: | 2015-05-26 |
公开(公告)号: | CN105091772B | 公开(公告)日: | 2018-01-23 |
发明(设计)人: | 欧阳祥波;李克天;夏鸿建;马杰;甄秀迎 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学;佛山市诺威科技有限公司;佛山市南海区广工大数控装备协同创新研究院 |
主分类号: | G01B11/16 | 分类号: | G01B11/16 |
代理公司: | 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 | 代理人: | 谭英强,郑泽萍 |
地址: | 510006 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 平面 物体 二维 变形 测量方法 | ||
1.平面物体二维变形量的测量方法,其特征在于,包括:
S1、在待测物体上制作多个标志点,并采用数字相机采集待测物体在拉伸变形前的图像后,选择不少于四个标志点对数字相机进行标定,获得物理坐标与像素坐标之间的坐标转换关系;
S2、采用数字相机采集待测物体在拉伸变形后的变形图像;
S3、提取获得任意标志点在变形图像中的像素坐标值,进而结合坐标转换关系,计算获得拉伸变形后该标志点的物理坐标值;
S4、计算位置标志点的位移量作为待测物体在该位置的拉伸变形量;
所述步骤S1,包括S11~S14:
S11、在待测物体上制作多个标志点,进而选择不少于四个标志点,并分别获得所选择的每个标志点的物理坐标值;
S12、采用数字相机采集待测物体在拉伸变形前的图像;
S13、提取获得所选择的每个标志点在图像中的像素坐标值;
S14、根据所选择的所有标志点的物理坐标值和像素坐标值,计算获得物理坐标与像素坐标之间的坐标转换关系;
所述步骤S1中所选择的标志点的数量为四个,所述步骤S14,包括S141~S143:
S141、根据所选择的四个标志点的物理坐标值和像素坐标值,采用下式计算获得转换向量h的值:
其中,(x,y)表示标志点的物理坐标值,(u,v)表示标志点的像素坐标值,
h'表示转换向量h的转置矩阵;
S142、根据转换向量h获得转换矩阵H的值:
S143、根据下式获得物理坐标和像素坐标之间的坐标转换关系:
上式中,s为比例系数且s=h31·x+h32·y+1;
所述步骤S2,其具体为:
调整数字相机的倾斜角度,使得数字相机相对待测物体的长度方向发生倾斜,然后采用数字相机采集待测物体在拉伸变形后的变形图像。
2.根据权利要求1所述的平面物体二维变形量的测量方法,其特征在于,所述步骤S1中,所选择的用于对数字相机进行标定的标志点满足以下条件:任意三个标志点都不在同一直线上。
3.根据权利要求1所述的平面物体二维变形量的测量方法,其特征在于,所述步骤S4,其具体为:
获取任意位置标志点在拉伸变形后的物理坐标值,以及该标志点在拉伸变形前的物理坐标值,进而计算两者的差值作为待测物体在该位置的拉伸变形量。
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