[发明专利]单晶金刚石和金刚石工具

权利要求书

1.一种单晶金刚石，其中引入了缺陷部，

所述缺陷部能够通过在利用圆偏振光照射所述单晶金刚石时产生的相位差而被检测，且

在以具有1mm边长的正方形的形状形成的测定区域内测定的所述相位差的平均值的最大值为30nm以上。

2.根据权利要求1所述的单晶金刚石，其中在所述测定区域内测定的所述相位差的标准偏差为30nm以上。

3.根据权利要求1或2所述的单晶金刚石，其中在所述测定区域内测定的所述相位差的频数分布中存在多个峰。

4.根据权利要求3所述的单晶金刚石，其中在所述测定区域内测定的所述相位差的频数分布中，存在在比所述相位差的平均值更小的值的区域中存在的第一峰和在比所述相位差的平均值更大的值的区域中存在的第二峰。

5.根据权利要求1～4中任一项所述的单晶金刚石，其中所述缺陷部以使得排列成直线状的方式引入。

6.根据权利要求1～5中任一项所述的单晶金刚石，其中所述缺陷部以使得排列成圆弧状的方式引入。

7.根据权利要求1～6中任一项所述的单晶金刚石，其通过气相合成法形成。

8.根据权利要求1～7中任一项所述的单晶金刚石，其用于金刚石工具。

9.一种金刚石工具，包含根据权利要求1～8中任一项所述的单晶金刚石。