[发明专利]一种化合物半导体薄膜材料的制备方法在审
申请号: | 201410831285.3 | 申请日: | 2015-08-04 |
公开(公告)号: | CN104498896A | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 刘兴泉;刘一町;张铭菊;张峥;赵红远;何永成;张怀武 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | C23C16/30 | 分类号: | C23C16/30 |
代理公司: | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人: | 裴娜 |
地址: | 610054 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 化合物 半导体 薄膜 材料 制备 方法 | ||
技术领域
本发明涉及薄膜材料制造领域,特别是涉及一种制备组成为GaδIn1-δPyAs1-y[0≤δ≤1,0≤y≤1]的化合物半导体薄膜材料的制备方法。
背景技术
砷化镓(GaAs)是一种室温下禁带宽度为1.42eV的人工合成的化合物半导体材料。GaAs属闪锌矿型晶格结构,晶格常数5.65×10-10m,与磷化铟(InP)属直接跃迁型能带结构。砷化镓呈黑灰色固体,熔点1238℃。它在600℃以下,能在空气中稳定存在,并且不为非氧化性的酸侵蚀。
砷化镓是半导体材料中,兼具多方面优点的材料,砷化镓于1964年进入实质性应用阶段。砷化镓可以制成电阻率比硅、锗高出3个数量级以上的半绝缘高阻材料,用来制作集成电路衬底、红外探测器、γ光子探测器等。由于其电子迁移率比硅大5~6倍,故在制作微波器件和高速数字电路方面得到重要应用。用砷化镓制成的半导体器件具有高频、高温、低温性能好、噪声小、抗辐射能力强等优点。此外,还可以用于制作转移器件-体效应器件。
GaAs拥有一些比Si更好的电子特性,使得GaAs可以用在高于250GHz的场合。如果等效的GaAs和Si元件同时都操作在高频时,GaAs会产生较少的噪声。同时因为GaAs拥有较高的崩溃电压,所以GaAs比同样的Si元件更适合操作在高功率的场合。由于这些特性,GaAs电路可以运用在移动电话、卫星通讯、微波点对点连线、雷达系统等方面。GaAs曾用来做成甘恩二极管、微波二极管和耿氏二极管)以发射微波。由于GaAs是直接带隙的半导体材料,所以可以用来发光。而Si是间接带隙材料,只能发射非常微弱的光。因此,GaAs在LED中应用前景广泛。
砷化镓在当代微电子和光电子产业中发挥着重要的作用,其产品50%应用在军事、航天方面,30%用于通信方面,其余用于网络设备、计算机和测试仪器方面。由于砷化镓优良的高频特性,它被广泛用于制造无线通信和光通信器件,半绝缘砷化镓单晶已经成为制造大功率微波、毫米波通信器件和集成电路的主要材料。用于光辐射、太阳能电池、红外探测器、移动通讯、光纤通讯、有线电视、卫星通信、汽车雷达、红外LED、高亮度红、橙、黄色LED、半导体激光二极管、军用夜视仪和航天用高效太阳能电池。
根据美国硅谷Strategies公司的预测,2000年全球基于砷化镓材料的无线通信器件市场需求为17亿美元,其中砷化镓抛光片与外延片的需求为6亿美元,并将于2005年达到25亿美元,年增长率达到30%。
由于砷化镓可在同一块芯片上同时处理光电数据,因而被广泛应用于遥控、手机、DVD计算机外设、照明等诸多光电子领域。另外,因其电子迁移率比硅高6倍,砷化镓成为超高速、超高频器件和集成电路的必需品。它还被广泛使用于军事领域,是激光制导导弹的重要材料。
GaAs的另一个很重要的应用是高效率的太阳电池。1970年时,Zhores Alferov和他的团队在苏联做出第一个GaAs异质结构的太阳电池。用GaAs、Ge和InGaP三种材料做成的三介面太阳电池,有32%以上的效率,且可以操作在2,000suns下的光。这种太阳电池曾运用在探测火星表面的机器人:精神号漫游者(spirit rover)和机会号漫游者(opportunity rover)上。而且很多太阳电池都是用GaAs来做的电池阵列。
磷化镓(GaP)也是一种人工合成的III-V族化合物型半导体材料,高纯GaP是一种橙红色透明晶体。磷化镓(GaP)单晶材料的熔点为1467℃。磷化镓(GaP)的晶体仍为闪锌矿型结构,晶格常数为0.5447±0.006nm,其化学键是以共价键为主的混合键,其离子键成分约为20%,300K时能隙(Eg)为2.26eV,属间接跃迁型半导体。磷化镓(GaP)与其他大带隙Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体相同,可以通过引入深中心使费米能级接近带隙中部,如掺入铬、铁、氧等杂质元素可成为半绝缘材料。磷化镓(GaP)分为单晶材料和外延材料。工业生产的衬底单晶均为掺入硫、硅杂质的N型半导体。
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C23C 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面扩散法,化学转化或置换法的金属材料表面处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆
C23C16-00 通过气态化合物分解且表面材料的反应产物不留存于镀层中的化学镀覆,例如化学气相沉积
C23C16-01 .在临时基体上,例如在随后通过浸蚀除去的基体上
C23C16-02 .待镀材料的预处理
C23C16-04 .局部表面上的镀覆,例如使用掩蔽物的
C23C16-06 .以金属材料的沉积为特征的
C23C16-22 .以沉积金属材料以外之无机材料为特征的