[发明专利]信息处理装置、半导体装置以及信息数据的验证方法在审
| 申请号: | 201410302387.6 | 申请日: | 2014-06-30 |
| 公开(公告)号: | CN104281530A | 公开(公告)日: | 2015-01-14 |
| 发明(设计)人: | 市川武志 | 申请(专利权)人: | 拉碧斯半导体株式会社 |
| 主分类号: | G06F12/02 | 分类号: | G06F12/02;G06F13/16 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 毛立群;王忠忠 |
| 地址: | 日本神奈*** | 国省代码: | 日本;JP |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 信息处理 装置 半导体 以及 信息 数据 验证 方法 | ||
技术领域
本发明涉及信息处理装置,特别是涉及具备了写入信息数据的存储器的信息处理装置、形成该信息处理装置的半导体装置以及信息数据的验证(Verify)方法。
背景技术
作为测定由从电力公司接受供电的施设所使用的用电量的电表,熟知的有具备了给供电公司一侧通知已测定的用电量的通信功能的智能电表。在智能电表中,搭载有应以微型计算机控制进行这样的通信的、CPU(Central Processing Unit:中央处理器)和储存有程序的程序存储器。此时,作为程序存储器,使用应与程序数据的版本升级对应的、闪存等的非易失性存储器。但是,在程序的版本升级过程中,当正在将新的程序数据写入存储器的时候发生停电等时,写入的程序数据会被破坏,存在智能电表陷入不能动作的可能性。
于是,提出了如下的技术方案,即:在存储器内的二个存储器区域储存相同的程序数据,在版本升级时,在将新的程序数据盖写到一个存储器区域,并确认了该新程序数据被正确地写入的情况下,将其复制到另一个存储器区域的程序重写方法(例如参照专利文献1)。根据该程序重写方法,即使起因于版本升级时的停电等而破坏掉盖写在一个存储器区域的新的程序数据,也能变成通过执行储存在另一个存储器区域的旧程序数据,可避免不能动作状态。
可是,在这样的程序重写方法中,由于通过使用了校验和(CheckSum)的错误检测来进行程序数据是否被正确地写入的判定,所以该判定的可靠性低。
因此,在要求高可靠性的、产品出厂前的初始版本的程序数据的写入时,可考虑进行在各存储器区域写入了相同的程序数据之后,从各存储器区域读出程序数据,判定该读出程序数据是否与上述程序数据相同的、所谓的验证。
但是,当对二个存储器区域按顺序进行这样的验证时,存在耗费很长时间的问题。
现有技术文献
专利文献
专利文献1:日本特开2002-63044号。
发明内容
本发明所要解决的技术问题
本发明的目的在于,提供一种具有高速且高可靠性并且能将信息数据写入存储器的信息处理装置、形成该信息处理装置的半导体装置以及信息数据的验证方法。
用于解决技术问题的技术方案
涉及本发明的信息处理装置是包括多个存储器的信息处理装置,其具有:验证控制部,在根据写入命令,将相同的信息数据片写入了所述多个存储器的每一个中之后,控制从所述多个存储器的每一个应读出所述信息数据片的所述多个存储器;以及一致判定部,进行通过所述验证控制部判定从所述多个存储器的每一个读出的读出信息数据片是否相互一致的第一验证,并且将表示其结果的验证结果信号进行外部输出,所述验证控制部,将所述读出信息数据片每一个内的一个,作为进行与所述信息数据片的一致判定的第二验证用的信息数据片进行外部输出。
另外,涉及本发明的半导体装置是形成有多个存储器的半导体装置,其具有:验证控制部,在根据写入命令将相同的信息数据片写入了所述多个存储器的每一个中之后,控制从所述多个存储器的每一个应读出所述信息数据片的所述多个存储器;以及一致判定部,进行通过所述验证控制部判定从所述多个存储器的每一个读出的读出信息数据片是否相互一致的第一验证,并且将表示其结果的验证结果信号进行外部输出,所述验证控制部,将所述读出信息数据片每一个内的一个,作为进行与所述信息数据片的一致判定的第二验证用的信息数据片进行外部输出。
另外,涉及本发明的半导体装置是包括多个存储器的半导体装置,其具备:第一接收部,经由第一接口接收第一写入数据;第二接收部,经由第二接口接收第二写入数据;以及控制部,读出所述多个存储器中任一个存储器中储存的数据,并执行按照该数据的控制动作,所述控制部,在所述第一接收部接收到所述第一写入数据的情况下,对与进行了所述数据的读出的所述存储器不同的存储器,写入所述第一写入数据,所述第二接收部,在接收到所述第二写入数据的情况下对所述控制部进行对所述多个存储器的并列写入指示和动作停止指示,并且对所述多个存储器每一个进行所述第二写入数据的并列写入处理。
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