[发明专利]半导体集成电路及系统有效

专利信息
申请号: 201410299766.4 申请日: 2014-06-27
公开(公告)号: CN104252881B 公开(公告)日: 2020-03-27
发明(设计)人: 押田大介 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: G11C16/08 分类号: G11C16/08;G11C16/10
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 陈华成
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 半导体 集成电路 系统
【权利要求书】:

1.一种系统,所述系统被构成为包括:

半导体集成电路,所述半导体集成电路被构成为包括唯一码生成单元和密码处理单元;

非易失性存储器,所述非易失性存储器能够存储通过使用规定的加密密钥进行加密了的值;以及

数据库,所述数据库与所述半导体集成电路对应起来地保持修正参数,并将所述修正参数供给到所述半导体集成电路,

其中,

所述唯一码生成单元能够生成唯一码,所述唯一码是根据所述半导体集成电路的制造偏差而固有地确定的多个位的数字值,

所述密码处理单元被构成为能够根据修正参数和所述唯一码计算所述加密密钥,并使用所计算出的所述加密密钥将从所述非易失性存储器读取的加密了的值进行解密,

所述修正参数是根据在制造所述半导体集成电路后从所述唯一码生成单元生成的初始唯一码和所述规定的加密密钥预先在所述半导体集成电路外部计算的,

将对存储在所述非易失性存储器中的值进行加密时所使用的所述加密密钥作为第1加密密钥,并将与所述第1加密密钥对应的修正参数作为第1修正参数,

所述系统具有包括所述数据库和认证单元的管理集成电路,

所述管理集成电路将与所述半导体集成电路对应起来的所述第1修正参数和第2修正参数保持在所述数据库中,并将挑战数据以及通过与所述第2修正参数对应的第2加密密钥将所述挑战数据加密而得到的挑战数据期望值保持在所述认证单元中,并且将所述第2修正参数和所述挑战数据供给到所述半导体集成电路,

在所述半导体集成电路中,所述密码处理单元根据所供给的所述第2修正参数和所述唯一码生成所述第2加密密钥,并使用所述第2加密密钥对所供给的所述挑战数据进行加密并返送到所述管理集成电路,

所述管理集成电路将加密并返送了的所述挑战数据与保持在所述认证单元中的所述挑战数据期望值进行比较,在一致时将所述第1修正参数供给到所述半导体集成电路,

所述半导体集成电路根据所供给的所述第1修正参数和所述唯一码计算所述第1加密密钥,并使用所计算的所述第1加密密钥将从所述非易失性存储器读取的加密了的值进行解密。

2.一种系统,所述系统被构成为包括:

半导体集成电路,所述半导体集成电路被构成为包括唯一码生成单元和密码处理单元;

非易失性存储器,所述非易失性存储器能够存储通过使用规定的加密密钥进行加密了的值;以及

数据库,所述数据库与所述半导体集成电路对应起来地保持修正参数,并将所述修正参数供给到所述半导体集成电路,

其中,

所述唯一码生成单元能够生成唯一码,所述唯一码是根据所述半导体集成电路的制造偏差而固有地确定的多个位的数字值,

所述密码处理单元被构成为能够根据修正参数和所述唯一码计算所述加密密钥,并使用所计算出的所述加密密钥将从所述非易失性存储器读取的加密了的值进行解密,

所述修正参数是根据在制造所述半导体集成电路后从所述唯一码生成单元生成的初始唯一码和所述规定的加密密钥预先在所述半导体集成电路外部计算的,

将对存储在所述非易失性存储器中的值进行加密时所用的所述加密密钥作为第1加密密钥,将与所述第1加密密钥对应的修正参数作为第1修正参数,

所述系统具有包括所述数据库和认证单元的管理集成电路;

所述管理集成电路将与所述半导体集成电路对应起来的所述第1修正参数和第2修正参数保持在所述数据库中,并将挑战数据以及通过与所述第2修正参数对应的第2加密密钥将所述挑战数据进行加密而得到的挑战数据期望值保持在所述认证单元中,并将所述挑战数据供给到所述半导体集成电路,所述半导体集成电路保持所述第2修正参数,所述密码处理单元根据所述第2修正参数和所述唯一码生成所述第2加密密钥,并使用所述第2加密密钥将所供给的所述挑战数据进行加密并返送到所述管理集成电路,

所述管理集成电路将加密并返送了的所述挑战数据与保持在所述认证单元中的所述挑战数据期望值进行比较,在一致时将所述第1修正参数供给到所述半导体集成电路,

所述半导体集成电路根据所供给的所述第1修正参数和所述唯一码计算所述第1加密密钥,并使用所计算的所述第1加密密钥将从所述非易失性存储器读取的加密了的值进行解密。

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