[实用新型]装片机的自动对位机构及包括它的装片机有效
申请号: | 201320711406.1 | 申请日: | 2013-11-12 |
公开(公告)号: | CN203588986U | 公开(公告)日: | 2014-05-07 |
发明(设计)人: | 王敕 | 申请(专利权)人: | 江苏艾科瑞思封装自动化设备有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68;H01L21/67;H01L21/677;H01L21/66 |
代理公司: | 苏州华博知识产权代理有限公司 32232 | 代理人: | 彭益波 |
地址: | 215513 江苏省苏州市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装片机 自动 对位 机构 包括 | ||
技术领域
本实用新型涉及装片机,特别涉及一种装片机的自动对位机构及包括它的装片机。
背景技术
装片机是半导体封装生产线中的关键设备,其在芯片封装中具有非常广泛的应用。随着技术的进步,装片机的装片精度正向着亚微米级发展,进而支撑起了目前业内所称的微组装技术。
在装片机朝着亚微米级精度发展的过程中,如何保证芯片装片位置的精准,减小误差的同时提高装片的自动化程度是该领域技术人员需要不断进行研发的课题。
目前装片机一般都是先将芯片移动到取片位,然后再将带有吸盘的机械臂运动到取片位吸取芯片,在吸取芯片的过程中,吸盘的中心有可能因运动控制、机械振动等原因无法对准芯片中心。机械臂吸取到芯片后,装片机会将其移动到基板的装片位上方,最后将芯片封装到基板上。在这个装片过程之中,吸盘上的芯片和基板的中心也同样可能因运动控制、机械振动等原因出现偏差。因此,在这种封装方式中,芯片和基板的封装精度很难达到亚微米级。从而,可以看到的是,其存在着以下缺点:吸盘和芯片,以及基板和芯片之间对位的精准度无法测量和校正,因而无法保证最后封装形成半导体器件的良率。
实用新型内容
本实用新型的目的就是针对上述问题,提供一种可以提高对准精度、从而保证产品良率的装片机的自动对位机构,同时还提供一种包括它的装片机。
为了实现上述目的,本实用新型提供了以下技术方案:装片机的自动对位机构,其包括:
对位平台,其上分设有放置芯片和基板的位置;
分别连接上述对位平台并分别驱动该对位平台沿X、Y和Z轴运动的第一、第二和第三驱动单元;
连接上述对位平台并驱动该对位平台旋转的第四驱动单元;
其中,上述第一、第二、第三和第四驱动单元分别电连接控制设备,通过上述控制设备来控制其运动,该控制设备还电连接装片机上用于观察芯片和基板位置的相机机构。
优选地,上述的第一、第二、第三和第四驱动单元都包括伺服电机。
优选地,上述的相机机构包括相机以及设置于所述相机的镜头处的分光镜。
装片机,其包括机座、设置于该机座上方用于观察芯片和基板位置的相机机构和用于拾取芯片并放于基板上的机械手,其还包括如上所述的自动对位机构,其设置于该机座上、该相机机构的下方。
优选地,上述的装片机还包括一第二相机机构,其设置于上述自动对位机构的一侧。
采用以上技术方案的有益效果在于:
(1)本实用新型的自动对位机构主要包括对位平台、第一、第二、第三和第四驱动单元,其中第一、第二、第三和第四驱动单元通过控制设备进行控制,通过控制设备可以实现自动向封装工位对位,提高了对位的工作效率,控制设备又与相机机构连接,装片时,相机机构采集芯片和基板的图像并传送给控制设备,从而控制设备可以比对图像上芯片和基本的中心是否重合,不重合的话可以测量两个中心的偏移量,根据偏移量来控制各个驱动单元运动一定的距离来达到调校的目的,对准精度高,从而保证了产品的良率;
(2)本实用新型的装片机由于采用了本实用新型所涉及的自动对位机构,相比于现有技术获得了优秀的对准精度。
附图说明
图1是本实用新型的装片机的结构示意图(包括自动对位机构)。
图2是本实用新型的装片机的立体图(包括自动对位机构)。
其中,1.对位平台 2.第一驱动单元 3.第二驱动单元 4.第三驱动单元 5.第四驱动单元 6.相机机构 7.位置8.机座 9.机械手 10.第二相机机构。
具体实施方式
下面结合附图详细说明本实用新型的优选实施方式。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造