[发明专利]一种检测相位差的方法、鉴相器及数字锁相环

权利要求书

1.一种采用鉴相器来检测相位差的方法，所述鉴相器包括相位差计数器、相位差方向模块、异或门，其中，所述相位差检测器还包括移相电路，所述方法包括以下步骤：

a利用相位差脉冲的电压对移相电路进行充放电，以获得与该移相电路充放电过程相对应的第一信号，其中，所述第一信号为模拟信号；

b获取与该第一信号相对应的数字信号；

c通过计数时钟对所述数字信号进行测量，以获得与所述相位差脉冲对应的相位差数据。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述步骤a包括以下步骤：

-当所述相位差脉冲在高电压时，对所述移相电路进行充电，当所述相位差脉冲在低电压时，对所述移相电路进行放电，以基于充放电过程中相移电路的电容电压值确定第一信号。

3.根据权利要求1或2所述的方法，其中，所述第一信号对应的曲线V₀(t)如以下方程式示意：

0≤t≤T₀，V₀(t)＝V_0max*(1-e^-t/(RC))；

T₀＜t，V0(t)=V0(T0)*e-(t-T0/(RC));]]>

其中，t为充放电时间，V_0max为所述相位差脉冲的最大电压，T₀为所述相位差脉冲的原始宽度，R为所述移相电路中的电阻值，C为所述移相电路中的电容值。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其中，所述步骤b包括以下步骤：

-基于参考电压，将所述第一信号转换为数字信号；

其中，所述数字信号的曲线V₂(t)如下方程式所示：

V_ref≤V_0max*(1-e^-t/(RC))   V₂(t)＝1；

V_ref＞V_0max*(1-e^-t/(RC))   V₂(t)＝0；

其中，V_ref为所述参考电压，t为充放电时间，V_0max为相位差脉冲的最大电压，R为所述移相电路中的电阻值，C为所述移相电路中的电容值。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法，其中，所述步骤b包括以下步骤：

-将所述第一信号放大为第二信号；

-将所述第二信号转换为所述数字信号。