[发明专利]固体摄像器件无效

专利信息
申请号: 201280009643.1 申请日: 2012-02-20
公开(公告)号: CN103384916A 公开(公告)日: 2013-11-06
发明(设计)人: 舛冈富士雄;原田望 申请(专利权)人: 新加坡优尼山帝斯电子私人有限公司
主分类号: H01L27/146 分类号: H01L27/146;H04N5/374;H04N5/357
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 李昕巍;赵根喜
地址: 新加坡*** 国省代码: 新加坡;SG
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 固体 摄像 器件
【说明书】:

技术领域

本发明涉及一种固体摄像器件,尤其涉及谋求高像素密度化、低耗电化、低漏光化的固体摄像器件。

背景技术

目前,固体摄像器件已广泛应用在摄影机(video camera)、静态相机(still camera)等。对于固体摄像器件,一直都要求高像素密度化、高分辨率化、彩色摄像中的低混色化、高灵敏度化等的性能提升。针对此点,为了实现固体摄像器件的高分辨率化,已进行了通过像素高密度化等的技术革新。

图9A及图9B是显示现有例的固体摄像器件。

图9A是显示在1个岛状半导体构成有1个像素的现有例的固体摄像器件的剖面构造图(请参照例如专利文献1)。如图9A所示,在构成此像素的岛状半导体100中,在衬底101上形成有信号线N+区域102(以下将「N+区域」称为含有许多施主(donar)杂质的半导体区域)。在此信号线N+区域102上形成有P区域103(以下将含有受主(acceptor)杂质的半导体区域称为「P区域」),及在该P区域103的外周部形成有绝缘层104,又隔着该绝缘层104而形成有栅极导体层105。在该栅极导体层105的上方部的P区域103的外周部,形成有N区域(以下将含有施主杂质的半导体区域称为「N区域」)106。在该N区域106及P区域103上,形成有P+区域(以下将含有许多受主杂质的半导体区域称为「P+区域」)107。该P+区域107连接于像素选择线导体层108。上述的绝缘层104在包围岛状半导体100的外周部的状态下彼此相连。与该绝缘层104同样地,栅极导体层105亦在包围岛状半导体100的外周部的状态下彼此相连。

在此固体摄像器件中,于岛状半导体100内,由P区域103与N区域106而形成有光电二极管(photo diode)区域。在此,当光从岛状半导体100上的P+区域107侧入射时,即在该光电二极管区域的光电转换区域产生信号电荷(在此是为自由电子)。再者,该信号电荷主要是储存在光电二极管区域的N区域106。

此外,在岛状半导体100内,构成有以该N区域106为栅极、以P+区域107为源极、以信号线N+区域102附近的P区域103为漏极的结型场效应晶体管。再者,在该固体摄像器件中,结型场效应晶体管的漏极-源极间电流(输出信号),与储存在N区域106的信号电荷量对应而变化,且从信号线N+区域102取出作为信号输出。

再者,在岛状半导体100内,形成有以光电二极管区域的N区域106为源极、以栅极导体层105为重设栅极(reset gate)、以信号线N+区域102为漏极、以N区域106与信号线N+区域102间的P区域103为沟道的重设MOS(Metal-Oxide Semiconductor,金属氧化物半导体)晶体管(以下将该栅极导体层称为「重设栅极导体层」)。再者,在该固体摄像器件中,储存于该N区域106的信号电荷,通过在重设MOS晶体管的重设栅极导体层105施加导通(on)电压(高电平(level)电压),而被去除在信号线N+区域102。

另外,在此所谓「高电平电压」,在信号电荷为自由电子时,表示更高电平的正电压,而在本说明书中以下所使用的「低电平电压」,则指相较于该「高电平电压」为低的电压。另一方面,信号电荷为空穴时,「高电平电压」是指更低电平的负电压,而「低电平电压」则指较于「高电平电压」更接近0V的电压。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新加坡优尼山帝斯电子私人有限公司,未经新加坡优尼山帝斯电子私人有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201280009643.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top