[实用新型]一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种IC芯片测试机的测试抓手组合模组装置，更准确地说，涉及能将前、后侧料船装置左料船送来的芯片，由前、后侧测试抓手总成组合逐一抓放到测试机的对应测试位置进行测试，之后又能将测试完成并获得品质结果信息的芯片放到前、后侧料船装置的右料船上，被输送到下一道工序去进行品质分选的一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置。

背景技术

IC芯片完成加工制造工序后，需要一一进行测试，最初，人们对芯片测试后，是靠人工分类放置的，不仅效率低，还容易发生错误。目前已有自动测试分选机，但在测试过程中的送料和下料的抓手结构单一，数量有限，因此生产效率低，适应产品品种的规格少。

实用新型内容

本实用新型为了解决现有技术中存在的问题，提供了一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置，其结构新颖、功能全面、生产效率高，能同时抓取至少四块芯片进行测试。

为实现上述目的，本实用新型的技术方案是：一种IC芯片测试分选机的测试抓手组合模组装置，包括至少一个测试抓手组合运动模组，所述测试抓手组合运动模组包括安装板，还包括测试抓手总成组合升降滑块、测试抓手总成组合左右移动滑块，所述安装板的上方设有可将测试抓手总成组合升降滑块上下移动的垂直移动装置；所述安装板的下方设有将测试抓手总成组合左右移动滑块水平移动的水平移动装置；还设有下端固联有测试抓手总成装置的测试抓手总成组合连接板，所述测试抓手总成组合连接板垂直导轨式地卡合与测试抓手总成组合左右移动滑块，其上端水平导轨式地卡合与测试抓手总成组合升降滑块。

优选的是，所述垂直移动装置为受控于伺服电机的竖向滚轴丝杠滑块组合传动，所述测试抓手总成组合升降滑块和竖向滚轴丝杠滑块组合传动配合。

优选的是，所述测试抓手总成组合升降滑块上位于竖向滚轴丝杠滑块组合传动的两侧和安装板导轨式配合。

优选的是，所述水平移动装置为受控于伺服电机的横向滚轴丝杠滑块组合传动，所述测试抓手总成组合左右移动滑块和横向滚轴丝杠滑块组合传动配合。

优选的是，所述测试抓手总成组合左右移动滑块上位于横向滚轴丝杠滑块组合传动的两侧和安装板导轨式配合。

优选的是，所述测试抓手总成包括4个吸嘴，所述安装板上设有和吸嘴连通的真空发生器。

优选的是，所述测试抓手组合运动模组为2个，分别为平行相对设置的前侧测试抓手组合运动模组和后侧测试抓手组合运动模组，通过其安装板顶端设置的连接顶板固联。本实用新型的测试抓手组合模组装置具有两组测试抓手总成组合，每组测试抓手总成由各自的前侧测试抓手组合运动模组和后侧测试抓手组合运动模组带动，可在在前、后和上、下两个方向上实现测试抓手总成组合的移动，有利于其下方的四个吸嘴准确抓取芯片完成测试。其结构新颖、功能全面、生产效率高，能同时抓取至少四块芯片进行测试。

附图说明

图1示出了本实用新型测试抓手组合模组装置的结构示意图。

图2示出了图1中前侧测试抓手组合运动模组的结构示意图。

图3示出了本实用新型测试抓手总成装置的结构示意图。

图4示出了图3中上部总成的结构示意图。

图5示出了图3中下部总成的结构示意图。

其中，附图1-2中的标号如下：501－竖向伺服电机、502－横向伺服电机、503－测试抓手总成组合连接板、51－测试抓手总成装置、505－横向滚轴丝杠滑块组合传动、506－测试抓手总成组合升降滑块、507－竖向滚轴丝杠滑块组合传动、508－左侧安装板、509－同步传送带、510－左侧竖板、511－右侧竖板、513－连接横板、514－连接顶板、516－真空发生器。

附图3-5中的标号如下：5101－上固定板、5102－真空接头、5103－加热棒、5104－感温头、5105－吸料板、5106－快速卡扣、5107－隔热板、5108－缸筒、5111－吸嘴外套、5112－活塞杆连接过渡板、5113－活塞、5114－活塞上密封盖板、5115－气管接头、5116－压缩弹簧、5117－加热板、5118－固定导向销安装板、5119－固定导向销、5120－导向槽、5121－卡座、5122－吸嘴安装板、5123－防旋转导向销、5124－吸嘴压缩弹簧、5125－吸嘴杆、5126－限位盖板、5127－测试定位套、5128－密封圈、5129－防旋转导向缺口、51a－上部总成、51b－下部总成。

具体实施方式