[发明专利]一种具有大调谐范围的高频压控振荡器有效

专利信息
申请号: 201210388582.6 申请日: 2012-10-12
公开(公告)号: CN103731100B 公开(公告)日: 2017-09-29
发明(设计)人: 吕志强;陈岚 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: H03B5/08 分类号: H03B5/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司11227 代理人: 王宝筠
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 具有 调谐 范围 高频 压控振荡器
【权利要求书】:

1.一种具有大调谐范围的高频压控振荡器,其特征在于,包括:谐振电路、负阻电路、电流源电路和缓冲电路;

所述谐振电路,用于产生压控振荡器的振荡信号,所述谐振电路为电感电容式谐振电路,其中的电容采用MOS容抗管;

所述负阻电路,用于产生负阻,以抵消所述谐振电路产生的正阻;

所述电流源电路,用于产生压控振荡器工作的电流;所述电流源电路包括第七MOS管;所述第七MOS管的源极接地,所述第七MOS管的漏极连接所述负阻电路;所述第七MOS管的栅极连接第三控制电压;

所述缓冲电路,用于将所述谐振电路产生的振荡信号进行缓冲后输出,以与外界信号进行隔离;所述缓冲电路包括:第三双极型晶体管、第四双极型晶体管、第五双极型晶体管、第六双极型晶体管、第七电容、第八电容、第五电阻和第六电阻;

所述第三双极型晶体管的基极连接第三节点,集电极连接电源,发射极连接第五节点;

所述第四双极型晶体管的基极连接第四节点,集电极连接所述电源,发射极连接第六节点;

所述第七电容的一端连接所述第五节点,另一端连接所述第五双极型晶体管的基极;

所述第五双极型晶体管的集电极连接所述电源,发射极通过所述第五电阻接地;

所述第八电容的一端连接所述第六节点,另一端连接所述第六双极型晶体管的基极;

所述第六双极型晶体管的集电极连接所述电源,发射极通过所述第六电阻接地;

所述第五双极型晶体管的发射极为压控振荡器的第一输出端,所述第六双极型晶体管的发射极为压控振荡器的第二输出端;其中,

所述第三节点为所述谐振电路与所述缓冲电路的第一相接点;所述第四节点为所述谐振电路与所述缓冲电路的第二相接点;

所述第五节点为缓冲电路与负阻电路的第一相接点;所述第六节点为缓冲电路与负阻电路的第二相接点。

2.根据权利要求1所述的具有大调谐范围的高频压控振荡器,其特征在于,所述谐振电路包括:差分电感、第一MOS容抗管、第二MOS容抗管、第三电容、第四电容、第一电阻、第二电阻;

所述差分电感的一端连接第三节点,另一端连接第四节点;所述差分电感的抽头连接电源;

所述第一MOS容抗管的漏极和源极均连接第一控制电压,所述第二MOS容抗管的漏极和源极均连接所述第一控制电压;

所述第一MOS容抗管的栅极连接第一节点,所述第二MOS容抗管的栅极连接第二节点;

所述第一电阻的两端分别连接所述第一节点和地;所述第二电阻的两端分别连接所述第二节点和地;

所述第三电容的两端分别连接所述第一节点和第三节点,所述第四电容的两端分别连接所述第二节点和第四节点;

所述第三节点为所述谐振电路与所述缓冲电路的第一相接点,输出第一谐振信号;所述第四节点为所述谐振电路与所述缓冲电路的第二相接点,输出第二谐振信号。

3.根据权利要求1所述的具有大调谐范围的高频压控振荡器,其特征在于,所述负阻电路包括:第一双极型晶体管、第二双极型晶体管、第五电容、第六电容、第三电阻、第四电阻和第九电容;

所述第一双极型晶体管的集电极连接第五节点,发射极连接所述电流源电路,基极通过所述第三电阻连接第二控制电压;

所述第二双极型晶体管的集电极连接第六节点,发射极连接所述电流源电路,基极通过所述第四电阻连接所述第二控制电压;

所述第九电容的两端分别连接所述第二控制电压和地;

所述第五电容的一端连接所述第五节点,另一端连接所述第二双极型晶体管的基极;

所述第六电容的一端连接所述第六节点,另一端连接所述第一双极型晶体管的基极;其中,

所述第五节点为缓冲电路与负阻电路的第一相接点;所述第六节点为缓冲电路与负阻电路的第二相接点。

4.根据权利要求2所述的具有大调谐范围的高频压控振荡器,其特征在于,所述第一MOS容抗管和第二MOS容抗管工作于积累区或耗尽区。

5.根据权利要求2所述的具有大调谐范围的高频压控振荡器,其特征在于,所述第三电容和第四电容的容值比所述第一MOS容抗管和第二MOS容抗管的容值至少大十倍。

6.根据权利要求3所述的具有大调谐范围的高频压控振荡器,其特征在于,第一双极型晶体管和第二双极型晶体管工作于正向工作区。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院微电子研究所,未经中国科学院微电子研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210388582.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top