[发明专利]一种失调存储的低功耗高速比较器在审
申请号: | 201210238414.9 | 申请日: | 2012-07-11 |
公开(公告)号: | CN103546127A | 公开(公告)日: | 2014-01-29 |
发明(设计)人: | 陈蒙;鲁文高;王冠男;方然;游立;肖永强;张雅聪;陈中建;吉利久 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H03K5/22 | 分类号: | H03K5/22 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 100871*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 失调 存储 功耗 高速 比较 | ||
1.一种失调存储的低功耗高速比较器,其特征在于,包括:顺序连接的输入采样开关,前置放大器、耦合电容、伪差分二级预放大器,输出动态锁存器,其中
所述伪差分二级预放大器采用电源电压受控制的反相器实现,通过平均电流控制技术,在降低平均功耗的同时提供一个高速高增益级,降低静态功耗,提高比较器的整体速度。
2.根据权利要求1所述的失调存储的低功耗高速比较器,其特征在于,所述伪差分二级预放大器包括,PMOS晶体管(302),PMOS晶体管(303),PMOS晶体管(305),PMOS晶体管(307a),PMOS晶体管(307b),NMOS晶体管(304),NMOS晶体管(306),NMOS晶体管(308a),NMOS晶体管(308b),运算放大器(309),其中,PMOS晶体管(302)、PMOS晶体管(303)的源极,NMOS晶体管(304)的漏极分别与电源相接;PMOS晶体管(302)的源极和PMOS晶体管(302)的栅极相接,并与PMOS晶体管(303)的栅极相接,构成电流镜结构;PMOS晶体管(303)的漏极和PMOS晶体管(305)的源极相接,并与运算放大器(309)的正输入端相接;PMOS晶体管(305)的漏极和PMOS晶体管(305)的栅极相接,并与NMOS晶体管(306)的漏极和栅极相接,NMOS晶体管(306)的源极与地相接,构成偏置电路;NMOS晶体管(304)的栅极和运算放大器(309)的输出端(312)相接,NMOS晶体管(304)的源极和运算放大器(309)的负输入端相接,构成一个稳压电路;PMOS晶体管(307a)的源极和PMOS晶体管(307b)的源极相接,并与运算放大器(309)的负输入端相接;PMOS晶体管(307a)的栅极和NMOS晶体管(308a)的栅极相接,作为所述二级预放大器的正输入端(105),PMOS晶体管(307a)的漏极和NMOS晶体管(308a)的漏极相接,作为所述二级预放大器的负输出端(107),NMOS晶体管(308a)的源极接地;PMOS晶体管(307b)的栅极和NMOS晶体管(308b)的栅极相接,作为所述二级预放大器的负输入端(106),PMOS晶体管(307b)的漏极和NMOS晶体管(308b)的漏极相接,作为所述二级预放大器的正输出端(108),NMOS晶体管(308b)的源极接地。
3.根据权利要求2所述的伪差分二级预放大器,其特征在于,所述PMOS晶体管(302)的宽长比和PMOS晶体管(303)的宽长比设置是成比例的,PMOS晶体管(307a)的宽长比和PMOS晶体管(307b)的宽长比设置是匹配的,NMOS晶体管(308a)的宽长比和NMOS晶体管(308b)的宽长比设置是匹配的,PMOS晶体管(305)的宽长比是PMOS晶体管(307a/b)宽长比的两倍,NMOS晶体管(306)的宽长比是NMOS晶体管(308a/b)宽长比的两倍,NMOS晶体管(304)和运算放大器(309)构成的稳压电路,用于稳定PMOS晶体管(307a/b)的源端电压。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201210238414.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。