[发明专利]物体深度的检测方法、装置和系统

说明书

技术领域

本发明涉及检测领域，具体而言，涉及一种物体深度的检测方法、装置和系统。

背景技术

目前，对于物体深度信息的获取主要包括以下的步骤：通过两个处于不同角度的摄像头拍摄物体来计算物体的视差值，同时通过视差值来获取物体深度信息。该运算主要对色彩图像进行不同视差的运算，运算量大并且成本较高，导致物体深度检测效率低，而且在拍摄过程中容易受到光照的影响，在比较暗的环境中很难获取到物体的深度信息。

针对相关技术物体深度检测效率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种物体深度的检测方法、装置和系统，以解决物体深度检测效率低的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种物体深度的检测方法。

根据本发明的物体深度的检测方法包括：图像发射装置向被测物体发射预设光学图像；摄像装置采集经被测物体调制后的光学图像，得到目标图像，其中，图像发射装置与摄像装置间隔预设距离；计算目标图像相对参考图像的视差值，其中，参考图像为摄像装置采集图像发射装置发射至平面的预设光学图像得到的图像；以及根据视差值计算被测物体的深度值。

进一步地，图像发射装置为红外激光发射器，摄像装置包括滤波器，其中，滤波器用于滤除外部环境中除红外激光之外的其他波长的光线。

进一步地，计算目标图像相对参考图像的视差值包括：计算目标图像的像素点与参考图像中视差移动范围内各个像素点的相关值，得到多个相关值；确定最大相关值点，其中，最大相关值点为是视差移动范围内各个像素点中，与最大的相关值对应的像素点；以及确定目标图像的像素点相对最大相关值点的视差值。

进一步地，计算目标图像相对参考图像的视差值包括：将目标图像进行区域分割，得到多个预设大小的区域窗口图像；在每个区域窗口图像中选择任意一个像素点，计算被选像素点相对参考图像的视差值；以及以被选像素点为种子点，通过区域生长算法分别计算各个区域窗口图像中像素点相对参考图像的视差值。

进一步地，多个区域窗口包括第一区域窗口和第二区域窗口，通过区域生长算法计算第一区域窗口图像中像素点相对参考图像的视差值包括：计算第一像素点相对参考图像的视差值，其中，第一像素点为第一区域窗口图像中的像素点；计算第二像素点与参考图像中对应像素点的相关值，其中，第二像素点与第一像素点相邻；在相关值大于或等于第一预设阈值时，确定第二像素点相对参考图像的视差值等于第一像素点相对参考图像的视差值；在相关值小于或等于第二预设阈值时，确定第二像素点为阴影点，其中，第二预设可信阈值小于第一可信阈值；以及在相关值小于第一预设阈值且大于第二预设阈值时，根据第二区域窗口图像中像素点相对参考图像的视差值计算第二像素点相对参考图像的视差值。

进一步地，采用以下方法计算目标图像中像素点与参考图像中像素点的相关值：在目标图像中获取子图像，得到第一子图像，其中，第一子图像为在目标图像中，以目标图像中像素点为坐标原点、X方向上的像素点数为m且Y方向上的像素点数为n的区域的图像；在参考图像中获取子图像，得到第二子图像，其中，第二子图像为在参考图像中，以参考图像中像素点为坐标原点、X方向上的像素点数为m且Y方向上的像素点数为n的区域的图像；以及采用以下公式计算第一子图像与第二子图像的相关值：