[发明专利]一种用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计无效
申请号: | 201210066524.1 | 申请日: | 2012-03-14 |
公开(公告)号: | CN102610593A | 公开(公告)日: | 2012-07-25 |
发明(设计)人: | 尹彬锋;王炯;周柯 | 申请(专利权)人: | 上海华力微电子有限公司 |
主分类号: | H01L23/60 | 分类号: | H01L23/60 |
代理公司: | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人: | 王敏杰 |
地址: | 201210 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 防止 静电 破坏 可靠性 样品 版图 设计 | ||
1.一种用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计,其特征在于,包括有一待测的封装级器件,所述器件具有栅极,并且所述栅极并联连接一大面积栅电容,通过所述栅电容达到分流静电荷以保护所述器件。
2.根据权利要求1所述用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计,其特征在于,所述器件包括有源极和漏极,与所述栅极并联连接的所述栅电容对所述漏极饱和电流不产生影响。
3.根据权利要求1所述用于防止静电破坏可靠性样品的版图设计,其特征在于,所述器件的栅极还串联连接一基极,与所述栅极并联连接的所述栅电容对所述栅极和所述基极电压无影响。
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