[发明专利]溅射靶、烧结体及利用它们制造的导电膜、有机EL元件及其所用的衬底有效

专利信息
申请号: 201210030870.4 申请日: 2003-05-26
公开(公告)号: CN102522509A 公开(公告)日: 2012-06-27
发明(设计)人: 井上一吉;川村久幸 申请(专利权)人: 出光兴产株式会社
主分类号: H01L51/52 分类号: H01L51/52;H01L51/56;C23C14/06;C23C14/24;C23C14/34
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 郭煜;李炳爱
地址: 日本东京都千*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 溅射 烧结 利用 它们 制造 导电 有机 el 元件 及其 所用 衬底
【权利要求书】:

1.一种有机EL元件用衬底,至少包含电极层和基材,其特征在于,该电极层含有选自下述A-1组的至少一种化合物、及选自B-1组的至少一种化合物,

上述电极层是设置在其上的有机EL层用阳极层,其离子化电位是5.6eV以上,

其中,A-1组:Si、Ge、Sn、Pb、Ga、In、Zn、Cd、Mg的硫族化物、氧氮化物或氮化物;

B-1组:Nd、Sm、Eu、Tb、Ho的硫族化物、氧氮化物或氮化物。

2.一种有机EL元件用衬底,至少包含电极层和基材,其特征在于,该电极层含有选自下述A-2组的至少一种化合物、及选自B-2组的至少一种化合物,

上述电极层是设置在其上的有机EL层用阳极层,其离子化电位是5.6eV以上,

其中,A-2组:Ge、Sn、Pb、Ga、In、Zn、Cd、Mg的硫族化物、氧氮化物或氮化物;

B-2组:Nd、Sm、Eu、Tb、Ho的硫族化物。

3.根据权利要求1或2所述的有机EL元件用衬底,其特征在于,上述电极层的离子化电位是5.8eV以上。

4.根据权利要求1-3的任1项所述的有机EL元件用衬底,其特征在于,上述电极层的电阻率值为不足1Ω·cm。

5.根据权利要求1-4的任1项所述的有机EL元件用衬底,其中,上述A-1组或A-2组的化合物是Sn、In及Zn的硫族化物或氮化物中的任意一种。

6.根据权利要求1-5的任1项所述的有机EL元件用衬底,其中,上述A-1组、A-2组、B-1组和B-2组的上述硫族化物选自氧化物、硫化物、硒化物、碲化物的至少任意一种。

7.根据权利要求1-5的任1项所述的有机EL元件用衬底,其中,上述B-1组或B-2组的化合物是Nd、Sm、Eu、Tb及Ho的氧化物中的任意一种。

8.根据权利要求1-7的任1项所述的有机EL元件用衬底,其中,在将上述电极层的总量作为100at.%时,上述B-1组或B-2组的化合物的含量为0.5-30at.%范围内的值。

9.根据权利要求1-8的任1项所述的有机EL元件用衬底,其中,上述电极层的膜厚为0.5-1000nm范围内的值。

10.根据权利要求1-8的任1项所述的有机EL元件用衬底,其中,上述电极层的膜厚为1.0-800nm范围内的值。

11.根据权利要求1-8的任1项所述的有机EL元件用衬底,其中,上述电极层的膜厚为2.0-300nm范围内的值。

12.一种有机EL元件,具有至少依次层叠有机EL层用阳极层、有机发光层、有机EL层用阴极层的结构,其中,上述有机EL层用阳极层含有选自下述A-1组的至少一种化合物、及选自下述B-1组的至少一种化合物,其离子化电位是5.6eV以上,

其中,A-1组:Si、Ge、Sn、Pb、Ga、In、Zn、Cd、Mg的硫族化物、氧氮化物或氮化物;

B-1组:Nd、Sm、Eu、Tb、Ho的硫族化物、氧氮化物或氮化物。

13.一种有机EL元件,具有至少依次层叠有机EL层用阳极层、有机发光层、有机EL层用阴极层的结构,其中,上述有机EL层用阳极层含有选自下述A-2组的至少一种化合物、及选自下述B-2组的至少一种化合物,其离子化电位是5.6eV以上,

其中,A-2组:Ge、Sn、Pb、Ga、In、Zn、Cd、Mg的硫族化物、氧氮化物或氮化物;

B-2组:Nd、Sm、Eu、Tb、Ho的硫族化物。

14.根据权利要求12或13所述的有机EL元件,其特征在于,上述有机EL层用阳极层的离子化电位是5.8eV以上。

15.根据权利要求12-14的任1项所述的有机EL元件,其中,上述有机EL层用阳极层的电阻率值为不足1Ω·cm的值。

16.根据权利要求12-15的任1项所述的有机EL元件,其中,上述A-1组或A-2组的化合物是Sn、In及Zn的硫族化物或氮化物中的任意一种。

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