[发明专利]一种发光二极管的保护器件芯片及生产工艺有效
申请号: | 201110441646.X | 申请日: | 2011-12-26 |
公开(公告)号: | CN102496619A | 公开(公告)日: | 2012-06-13 |
发明(设计)人: | 刘长蔚;王军明;初亚东;王智伟;白树军;杨玉聪;刘玉涛;闫禹 | 申请(专利权)人: | 天津环联电子科技有限公司 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02;H01L21/822 |
代理公司: | 天津中环专利商标代理有限公司 12105 | 代理人: | 莫琪 |
地址: | 300384 天津市滨*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 发光二极管 保护 器件 芯片 生产工艺 | ||
1.一种发光二极管的保护器件芯片生产工艺,其特征在于,包括如下次序的步骤:
1)氧化前处理:通过酸、碱、去离子水等工序,对硅片表面进行化学处理;
2)氧化:清洗干净的原始硅片,在1100~1200℃的氧化炉中长一层氧化层做掩膜,为下一步光刻的校对精确先做一个标记、开N+区窗口、开沟槽、开电泳玻璃沿区、金属接触区;
3)五次光刻:对氧化后的硅片进行涂胶、光刻标记、光刻发射区窗口、光刻台面、光刻玻璃沿区域、光刻金属接触区、曝光、显影、去氧化层工序,刻出标记、发射区窗口、台面图形、电泳玻璃沿区域和金属接触区图形;
4)扩散前处理:通过电子清洗剂、去离子水超声溢水对光刻窗口后的硅片进行化学处理;
5)硼扩散预沉积:采用氮气携带液态硼源,将清洗干净的硅片放入1100~1150℃的扩散炉中进行硼源预沉积;
6)硼扩散:对预沉积后的硅片在1200~1250℃扩散炉进行扩散推进,形成P层;
7)磷源扩散预沉积:对处理干净的硅片在1100~1200℃的扩散炉中进行磷源沉积,通入液态磷源;
8)磷源主扩散:对预沉积后的硅片在1200~1250℃扩散炉进行扩散推进,形成N层;
9)扩散后处理:用酸浸泡、去离子水超声清洗,使硅片分离,并去除表面氧化层;
10)双面台面腐蚀:使用氢氟酸、硝酸、冰乙酸,按照8:3:3的比例混合为混酸,用混酸刻蚀双面台面沟槽,混酸温度控制在8~12℃,并用去离子水冲净;
11)双面电泳:把硅片放在配置好的电泳液中,根据台面沟槽需沉积的玻璃重量设置时间,进行双面同时电泳;
12)烧结:把电泳后的硅片在800~820℃的烧结炉中进行烧结;
13)去氧化层:用稀释的氢氟酸浸泡、去离子水超声清洗去除烧结后硅片表面氧化层;
14)镀镍、镀金:将去氧化层后的硅片在专用镀槽中进行镀镍、镀金、干燥;
15)芯片切割:用划片机把镀金后的硅片从台面沟槽处划成单个芯片;
根据所述方法获得其结构为N-P-N-P-N型保护器件芯片。
2.一种发光二极管的保护器件芯片,其特征在于:其结构为N-P-N-P-N型,正面截层结构依次为芯片(1),腐蚀沟槽(2),钝化玻璃(3) ,金属层(4);高浓度N区(5);其剖面截层结构依次为腐蚀沟槽(2),钝化玻璃(3),金属层(4),高浓度N区(5),P区(6),基区N(7)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的