[发明专利]一种发光二极管的保护器件芯片及生产工艺有效

专利信息
申请号: 201110441646.X 申请日: 2011-12-26
公开(公告)号: CN102496619A 公开(公告)日: 2012-06-13
发明(设计)人: 刘长蔚;王军明;初亚东;王智伟;白树军;杨玉聪;刘玉涛;闫禹 申请(专利权)人: 天津环联电子科技有限公司
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02;H01L21/822
代理公司: 天津中环专利商标代理有限公司 12105 代理人: 莫琪
地址: 300384 天津市滨*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 发光二极管 保护 器件 芯片 生产工艺
【权利要求书】:

1.一种发光二极管的保护器件芯片生产工艺,其特征在于,包括如下次序的步骤:

1)氧化前处理:通过酸、碱、去离子水等工序,对硅片表面进行化学处理;

2)氧化:清洗干净的原始硅片,在1100~1200℃的氧化炉中长一层氧化层做掩膜,为下一步光刻的校对精确先做一个标记、开N+区窗口、开沟槽、开电泳玻璃沿区、金属接触区;

3)五次光刻:对氧化后的硅片进行涂胶、光刻标记、光刻发射区窗口、光刻台面、光刻玻璃沿区域、光刻金属接触区、曝光、显影、去氧化层工序,刻出标记、发射区窗口、台面图形、电泳玻璃沿区域和金属接触区图形;

4)扩散前处理:通过电子清洗剂、去离子水超声溢水对光刻窗口后的硅片进行化学处理;

5)硼扩散预沉积:采用氮气携带液态硼源,将清洗干净的硅片放入1100~1150℃的扩散炉中进行硼源预沉积;

6)硼扩散:对预沉积后的硅片在1200~1250℃扩散炉进行扩散推进,形成P层;

7)磷源扩散预沉积:对处理干净的硅片在1100~1200℃的扩散炉中进行磷源沉积,通入液态磷源;

8)磷源主扩散:对预沉积后的硅片在1200~1250℃扩散炉进行扩散推进,形成N层;

9)扩散后处理:用酸浸泡、去离子水超声清洗,使硅片分离,并去除表面氧化层;

10)双面台面腐蚀:使用氢氟酸、硝酸、冰乙酸,按照8:3:3的比例混合为混酸,用混酸刻蚀双面台面沟槽,混酸温度控制在8~12℃,并用去离子水冲净;

11)双面电泳:把硅片放在配置好的电泳液中,根据台面沟槽需沉积的玻璃重量设置时间,进行双面同时电泳;

12)烧结:把电泳后的硅片在800~820℃的烧结炉中进行烧结;

13)去氧化层:用稀释的氢氟酸浸泡、去离子水超声清洗去除烧结后硅片表面氧化层;

14)镀镍、镀金:将去氧化层后的硅片在专用镀槽中进行镀镍、镀金、干燥;

15)芯片切割:用划片机把镀金后的硅片从台面沟槽处划成单个芯片;

根据所述方法获得其结构为N-P-N-P-N型保护器件芯片。

2.一种发光二极管的保护器件芯片,其特征在于:其结构为N-P-N-P-N型,正面截层结构依次为芯片(1),腐蚀沟槽(2),钝化玻璃(3) ,金属层(4);高浓度N区(5);其剖面截层结构依次为腐蚀沟槽(2),钝化玻璃(3),金属层(4),高浓度N区(5),P区(6),基区N(7)。

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