[发明专利]电子封装焊球结构无效
申请号: | 201110189962.2 | 申请日: | 2011-07-07 |
公开(公告)号: | CN102867797A | 公开(公告)日: | 2013-01-09 |
发明(设计)人: | 廖永丰 | 申请(专利权)人: | 廖永丰 |
主分类号: | H01L23/488 | 分类号: | H01L23/488;H01L23/00 |
代理公司: | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人: | 王洁 |
地址: | 中国台湾台*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 封装 结构 | ||
技术领域
本发明系与电子封装焊接有关,更详而言之系指一种电子封装焊球结构。
背景技术
焊锡球主要的作用在于焊接微小组件时,能提供可控制供给一定容量的焊材。
一般在焊接IC或电子基板的温度区域,系在摄氏温度210~230度间。但,在实际作业时因空气的流动、基板的加热方式、实际密度、零件材质等差异,皆会因吸热与散热的效率不同而影响到温度的恒定。如图1所示,使得在施作由锡焊1对电子基板2的焊接时,可能会有低于设定温度10~20度的影响,此时比较低温的部分会出现焊锡1凝结吃锡不良的情形,若将温度加以提升至使原较低温的部分也能充分吃锡,则会使得原较高温的部分出现焊锡表面塌陷3的情形(如图2所示)。
另外,如图3所示,如果施行于二层电子基板2以上的焊接时,则因会温度的不均,使得高温部分产生锡球熔陷4的情形,进而使得锡球熔陷4后会直接与其一层的电子基板2完全分离,而陷入于另一层的电子基板2内,如此一来便完全失去焊接的效果。
因此,如图4所示,遂有业者发展出一种电子封装焊球结构,其主要系将焊锡球由内向外地以不分层的方式,材质由内向外逐渐降低融熔温度,即其球心系由高熔点金属5所制成,包覆于球心外的外层则由低熔点金属6所成,藉此能让外层的低熔点金属6容易融熔而确保吃锡能力,而由球心的高熔点金属5不会产生塌陷,以确保焊接的效果。
但,虽然上述的焊球结构能让焊接效果较为理想,但由于球心的高熔点金属一般系由白金、黄金、银等贵重金属所制成,且由于必须保持焊球的高度,因此高熔点金属的用量相当的多,而电子基板上所需焊接的焊球数量众多,使得光焊球的成本便相当的昂贵,而有成本过高的问题。
发明内容
本发明的主要目的是提供一种电子封装焊球结构,其具有不易塌陷及成本较为低廉的功效。
为了实现上述的目的,本发明的技术方案是:一种电子封装焊球结构,其特点是,其包 含有:
一球心部,系由金属所制成;
一夹层部,系包覆于该球心部的外表面上,该夹层部系由熔点高于该球心部的高熔点金属所制成;
一外层部,系包覆于该夹层部的外表面上,该外层部系由熔点低于该夹层部的低熔点金属所制成。
该球心部为锡、锑、铅、铋、铟或其合金中的任一种。
该夹层部为白金、黄金、银、锡银铜、锡铜、银铜中的任一种。
该外层部为锡、锑、铅、铋、铟或其合金中的任一种。
该夹层部系由低电阻金属所制成。
该夹层部为一被夹覆于该球心部与该外层部间的薄层。
该外部层的表面设置有一助焊剂。
藉由本发明的以上结构,由于该外层部作为焊接的焊材,并由该夹层部提供预定的强度与高度,可防止塌陷的事情,并能大幅减少所需的制造成本。
附图说明
图1系习知一种焊球的构造示意图。
图2系图1所示焊球融溶时的示意图。
图3系图1所示焊球于多层电子基板上焊接融溶时的示意图。
图4系习知另一种焊球的构造示意图。
图5系本发明一较佳实施例的构造示意图。
图6系图5所示实施例的焊接施作状态示意图。
图7系图5所示实施例于多层电子基板间的施作状态示意图。
图8系图5所示实施例于测试时的状态示意图。
具体实施方式
为使审查员能对本发明的特征与特点有更进一步的了解与认同,兹列举以下较佳实施例并配合图式说明如下:
请参阅图5,系本发明一较佳实施例所提供一种电子封装焊球结构10,其主要系对IC或电子基板99进行封装焊装时所需的焊球发明,用以焊接微小的部件时,能提供可控制供给一定容量的焊材。
请参阅图5,本发明的电子封装焊球结构10,主要包含有一球心部11、一夹层部12及一外层部13,其中;
该球心部11系由低熔点金属所制成,该球心部11可为锡、锑、铅、铋、铟等金属或其合金。
该夹层部12系包覆于该球心部11的外表面,该夹层部12系由高熔点金属所制成,该夹层部12可为白金、黄金、银、锡银铜、锡铜、银铜等。
该外层部13系由低熔点金属所制成,该外层部13可为锡、锑、铅、铋、铟等金属或其合金。
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