[发明专利]P型MOS存储单元有效
| 申请号: | 201110009103.0 | 申请日: | 2011-01-17 |
| 公开(公告)号: | CN102122662A | 公开(公告)日: | 2011-07-13 |
| 发明(设计)人: | 董耀旗;胡剑;李荣林;宗登刚;徐爱斌 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L29/788;H01L29/423;G11C16/04 |
| 代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
| 地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | mos 存储 单元 | ||
1.一种P型MOS存储单元,其特征在于包括:
在衬底中依次布置的源极有源区、栅极有源区、以及漏极有源区;
在从源极有源区至漏极有源区的方向上,在衬底上依次布置第一浮栅极、选择栅极、以及第二浮栅极;
布置在第一浮栅极上的第一控制栅极;以及
布置在第二浮栅极上的第二控制栅极。
2.根据权利要求1所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中第一浮栅极、第一控制栅极、选择栅极、第二浮栅极以及第二控制栅极布置在所述栅极有源区上方。
3.根据权利要求1或2所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中所述源极有源区与存储器的第一位线电连接。
4.根据权利要求1或2所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中所述漏极有源区与存储器的第二位线电连接。
5.根据权利要求1或2所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中所述第一控制栅极与存储器的第一字线电连接。
6.根据权利要求1或2所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中所述第二控制栅极与存储器的第二字线电连接。
7.根据权利要求1或2所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中所述源极有源区为P型掺杂的区域,所述栅极有源区为N型掺杂的区域,以及所述漏极有源区为P型掺杂的区域。
8.根据权利要求1或2所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中所述衬底为P型衬底,并且源极有源区、栅极有源区、以及漏极有源区被布置在所述P型衬底中的N阱中。
9.根据权利要求1或2所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中所述衬底为N型衬底。
10.根据权利要求1或2所述的P型MOS存储单元,其特征在于,其中所述P型MOS存储单元被用于闪存存储器。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的





