[发明专利]具有触点块的半导体装置用插座

说明书

技术领域

本发明涉及具有触点块的半导体装置用插座。

背景技术

半导体装置用插座通常被称为IC插座，例如，也如专利文献1所示那样，半导体装置用插座被供给规定的试验电压并被配置在印刷电路板上，印刷电路板具有输入输出部，该输入输出部送出用于表示来自作为被检查物的半导体装置的短路等的异常检测信号。在这样的半导体装置用插座中，具有接触端子（触点）组，该接触端子（触点）组具有与半导体装置的各端子（电极）抵接的接点。也如专利文献1所示那样提出了触点块，该触点块相对于半导体装置用插座的插座主体能够装卸，以便容易地更换这样的接触端子组。

在专利文献1中，触点块包括多对触点片、将该触点片结合的结合块。利用固定用螺栓穿过插座主体中的板状构件的孔而旋入结合块的内螺纹孔，从而该触点块被固定于插座主体。然后，在半导体装置的各电极按压于各触点片的接点的状态下进行半导体装置的通电试验。

先行技术文献

专利文献

专利文献1：日本再表2006/003722号公报

在半导体装置中，由于制造偏差，半导体装置的电极的位置（端子的尺寸）在规定的规格内存在偏差。另外，在半导体装置用插座中，有时期望在进行试验时由接触端子的接点形成在半导体装置的电极（端子）上的伤痕在规定的位置。

例如，有时因半导体装置的端子尺寸的偏差而由接触端子的接点形成在半导体装置的电极（端子）上的伤痕脱离规定的位置。在该情况下，在半导体装置的外观检查中，被判定为不合格品，成品率有可能大幅降低。为了避免这样的情况，想到预先对半导体装置的端子和接触端子的接点之间的位置进行调整。

不过，上述那样的触点块固定在插座主体上的规定的位置，是无法相对于半导体装置进行位置调整的结构。在该结构中，难以预先对半导体装置的端子相对于接触端子的接点的位置进行调整。

发明内容

考虑到以上的问题点，本发明的目的在于提供一种具有触点块的半导体装置用插座，该具有触点块的半导体装置用插座能够对触点块的接触端子相对于半导体装置的端子的相对位置进行调整。

为了达到上述的目的，本发明的半导体装置用插座包括：至少一个触点块，其可装卸地配置于触点块收容部，该触点块收容部形成在用于配置半导体装置的半导体装置收容部的周围，该至少一个触点块具有薄板状的多个接触端子，该薄板状的多个接触端子分别具有用于与半导体装置的端子电连接的接点部；位置调整部件，其用于对被保持于至少一个触点块的多个接触端子的接点部相对于被配置于半导体装置收容部的半导体装置的端子的相对位置进行调整。

另外，本发明的半导体装置用插座也可以包括：第1触点块和第2触点块，其以相对于被形成在用于配置半导体装置的半导体装置收容部的周围的至少一个触点块收容部可装卸的方式配置于该至少一个触点块收容部，该第1触点块和第2触点块具有薄板状的多个接触端子，该薄板状的多个接触端子分别具有用于与半导体装置的端子电连接的接点部；位置调整部件，其用于对分别被保持于第1触点块和第2触点块的多个接触端子的接点部相对于被配置于半导体装置收容部的半导体装置的端子的相对位置进行调整。

采用本发明的半导体装置用插座，因为具有用于对被保持于至少一个触点块的多个接触端子的接点部相对于被配置于半导体装置收容部的半导体装置的端子的相对位置进行调整的位置调整部件，因此能够对触点块的接触端子相对于半导体装置的端子的相对位置进行调整。

附图说明

图1是将本发明的半导体装置用插座的第1实施例的触点块收容构件与触点块一起表示的俯视图。

图2是表示本发明的半导体装置用插座的第1实施例的按压机构部的俯视图。

图3是沿着图2所示的例子中的III－III线表示的剖视图。

图4是将图3所示的剖视图分解来表示的局部剖视图。

图5是表示在图2所示的例子中触点块安装于触点块收容构件的状态的俯视图。

图6是表示在图5中触点块已拆下的状态的俯视图。

图7A是表示构成图2所示的触点块的一部分的侧部止挡构件的俯视图。

图7B是图7A所示的图的主视图。

图7C是图7A所示的图的侧视图。

图7D是沿着图7A所示的图中的VIID－VIID线表示的剖视图。

图7E是沿着图7A所示的图中的VIIE－VIIE线表示的剖视图。

图8A是表示构成图2所示的触点块的一部分的触点座构件的俯视图。

图8B是图8A所示的图的侧视图。