[发明专利]物体运动时对物体预扫描以及物体静止时对物体进行随后的局部扫描有效

专利信息
申请号: 201080005651.X 申请日: 2010-01-21
公开(公告)号: CN102301226A 公开(公告)日: 2011-12-28
发明(设计)人: 伊恩·拉德利;大卫·爱德华·乔伊斯;马丁·西尼尔 申请(专利权)人: 克罗梅克有限公司
主分类号: G01N23/10 分类号: G01N23/10;G01V5/00;G01N23/087
代理公司: 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 代理人: 周靖;郑霞
地址: 英国*** 国省代码: 英国;GB
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摘要:
搜索关键词: 物体 运动 扫描 以及 静止 进行 随后 局部
【权利要求书】:

1.一种扫描物体以获得关于材料内容物的信息的方法,包括步骤:

a)提供彼此间隔的辐射源和辐射检测器系统,以便限定在所述辐射源和所述辐射检测器系统之间的扫描区域;

b)在第一扫描步骤中:

i)使物体相对于所述源和检测器系统移动,并且在所述物体通过所述扫描区域时,在辐射与所述物体发生相互作用之后收集关于在所述检测器系统处入射的辐射的强度信息;

ii)当所述物体移动通过所述扫描区域时监控入射强度的变化;

iii)使用这种强度变化来识别所述物体中的异常结构和/或不均匀性;

c)在随后的第二扫描步骤中:

i)将所述物体定位在所述扫描区域中的固定位置上,并且在所述物体被保持在所述扫描区域中的固定位置上时,在辐射与所述物体相互作用之后收集关于在所述检测器系统处入射的辐射的强度信息;

ii)相对于将透射强度关联到入射强度的适当函数关系来分析入射强度数据;

iii)将所述分析的结果与适当的数据库进行比较,以提供对材料内容物的指示。

2.如权利要求1所述的方法,其中在所述第一移动扫描期间的识别包括:监控当所述物体移动通过所述扫描区域时在预定容限内的入射强度的衰减变化,以及如果所述变化超过这种预定的容限,则识别异常的结构和/或不均匀性。

3.如权利要求2所述的方法,其中在所述第一移动扫描期间的识别包括:

a)确定不对应于由物体的形状所引起的厚度/路径长度的变化的、入射强度的衰减变化中的不连续性,

b)将这种不连续性解释为指示了所述物体和/或所述物体的内容物中的构造的异常性和/或不均匀性的结果。

4.如前述任一项权利要求所述的方法,其中,将至少包括了在所述第二扫描步骤中所收集的强度信息的所收集的强度数据相对于将透射强度关联到入射强度的适当函数关系进行数值分析,并且将结果与适当的数据库进行比较以提供材料内容物的指示。

5.如权利要求4所述的方法,其中在所述第一扫描步骤中所收集的强度信息也相对于将透射强度关联到入射强度的适当函数关系进行分析,并且将结果与适当的数据库进行比较以提供材料内容物的初步指示。

6.如权利要求4或5所述的方法,其中确定入射强度与所收集的强度的比率,并且将该比率拟合为关于透射强度衰减机制的适当的分析关系,以便确定与所述强度衰减机制相关联的特征材料数据系数。

7.如权利要求6所述的方法,其中所述比率被用于确定质量衰减系数。

8.如权利要求7所述的方法,其中所述分析关系是指数衰减定律,并且所述强度衰减机制是光电吸收。

9.如前述任一项权利要求所述的方法,其中所述第一扫描步骤包括:将物体相对于来自所述源的辐射射束和所述检测器系统进行移动,使得所述射束通过所述物体和内容物,并且沿着沿所述物体的截面的路径行进,以进行第一扫描,所述第一扫描是对透射的强度的线性扫描。

10.如前述任一项权利要求所述的方法,其中所述第一扫描步骤包括:将所述物体相对于来自所述源的辐射射束和所述检测器系统放置到一选定的位置上,使得所述辐射射束通过所述物体和内容物,以进行第二扫描,所述第二扫描是对透射的强度的点扫描。

11.如前述任一项权利要求所述的方法,其中执行一校正步骤,在该校正步骤中,所述系统在所述扫描区域中没有物体时进行操作,并且关于在所述检测器系统处入射的辐射的强度信息被用于产生入射强度数据集,并且该入射强度数据集被用作参考数据集以确定在所述第一扫描步骤和/或第二扫描步骤中的透射强度的衰减。

12.如前述任一项权利要求所述的方法,其中,所述物体是所含材料的容器,并且所含材料具有单一的、总体上均匀的成分。

13.如权利要求12所述的方法,其中所述容器以和竖直方向成1°和80°之间的角度被安装到保持器中。

14.如权利要求13所述的方法,其中所述容器以和竖直方向成5°和30°之间的角度被安装到保持器中。

15.如前述任一项权利要求所述的方法,其中所述辐射射束被布置成以不同于垂直所述物体表面的角度通过所述物体。

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