[发明专利]一种闪存无效
申请号: | 201010123688.4 | 申请日: | 2010-03-12 |
公开(公告)号: | CN101800225A | 公开(公告)日: | 2010-08-11 |
发明(设计)人: | 张博 | 申请(专利权)人: | 上海宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;H01L29/49 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 郑玮 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 闪存 | ||
1.一种闪存,其特征在于包括:
衬底和形成于所述衬底内的第一漏极区、源极区和第二漏极区,所述源极区位于所述第一漏极区和所述第二漏极区之间;
分别从所述第一漏极区、所述源极区和所述第二漏极区引出的第一漏极、源极和第二漏极;
控制栅,位于所述第一漏极区和所述第二漏极区之间;
浮栅,位于所述源极区之上,所述浮栅包括第一浮栅和第二浮栅,所述第一浮栅和所述第二浮栅之间用所述控制栅隔离;
第一选择栅,位于所述第一漏极和所述源极之间;
第二选择栅,位于所述源极和所述第二漏极之间。
2.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:所述浮栅的材料为纳米硅。
3.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:所述源极通过金属引线分别和所述第一漏极、所述第二漏极相连接。
4.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:所述闪存还包括填充氧化物,所述填充氧化物覆盖于所述第一漏极、所述源极、所述第二漏极、所述控制栅、所述浮栅、所述第一选择栅和所述第二选择栅之上。
5.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:在对所述闪存进行写入操作时,所述第一选择栅和所述第二选择栅上施加的电压的范围均是0V至20V,所述控制栅上施加的电压的范围是4V至20V,所述源极上施加的电压的范围是2至20V,所述第一漏极和所述第二漏极上施加的电压的范围均是0V至19V。
6.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:在对所述闪存进行清零操作时,所述第一选择栅和所述第二选择栅上电压悬空,所述控制栅上施加的电压的范围是4V至20V,所述源极上施加的电压的范围是0至10V,所述第一漏极和所述第二漏极上施加的电压的范围均是0V至10V。
7.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:在对所述闪存进行读入操作时,所述第一选择栅和所述第二选择栅上施加的电压的范围是1V至10V,所述控制栅上施加的电压的范围是1V至10V,所述源极上施加的电压的范围是0至10V,所述第一漏极和所述第二漏极上施加的电压的范围均是0V至10V。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宏力半导体制造有限公司,未经上海宏力半导体制造有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010123688.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种治具
- 下一篇:用于烯烃聚合催化剂的球形载体的制备方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的