[发明专利]一种闪存无效

专利信息
申请号: 201010123688.4 申请日: 2010-03-12
公开(公告)号: CN101800225A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 张博 申请(专利权)人: 上海宏力半导体制造有限公司
主分类号: H01L27/115 分类号: H01L27/115;H01L29/49
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 郑玮
地址: 201203 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 闪存
【权利要求书】:

1.一种闪存,其特征在于包括:

衬底和形成于所述衬底内的第一漏极区、源极区和第二漏极区,所述源极区位于所述第一漏极区和所述第二漏极区之间;

分别从所述第一漏极区、所述源极区和所述第二漏极区引出的第一漏极、源极和第二漏极;

控制栅,位于所述第一漏极区和所述第二漏极区之间;

浮栅,位于所述源极区之上,所述浮栅包括第一浮栅和第二浮栅,所述第一浮栅和所述第二浮栅之间用所述控制栅隔离;

第一选择栅,位于所述第一漏极和所述源极之间;

第二选择栅,位于所述源极和所述第二漏极之间。

2.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:所述浮栅的材料为纳米硅。

3.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:所述源极通过金属引线分别和所述第一漏极、所述第二漏极相连接。

4.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:所述闪存还包括填充氧化物,所述填充氧化物覆盖于所述第一漏极、所述源极、所述第二漏极、所述控制栅、所述浮栅、所述第一选择栅和所述第二选择栅之上。

5.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:在对所述闪存进行写入操作时,所述第一选择栅和所述第二选择栅上施加的电压的范围均是0V至20V,所述控制栅上施加的电压的范围是4V至20V,所述源极上施加的电压的范围是2至20V,所述第一漏极和所述第二漏极上施加的电压的范围均是0V至19V。

6.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:在对所述闪存进行清零操作时,所述第一选择栅和所述第二选择栅上电压悬空,所述控制栅上施加的电压的范围是4V至20V,所述源极上施加的电压的范围是0至10V,所述第一漏极和所述第二漏极上施加的电压的范围均是0V至10V。

7.根据权利要求1所述的一种闪存,其特征在于:在对所述闪存进行读入操作时,所述第一选择栅和所述第二选择栅上施加的电压的范围是1V至10V,所述控制栅上施加的电压的范围是1V至10V,所述源极上施加的电压的范围是0至10V,所述第一漏极和所述第二漏极上施加的电压的范围均是0V至10V。

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