[发明专利]半导体陶瓷以及正温度系数热敏电阻有效
申请号: | 200980147310.3 | 申请日: | 2009-12-11 |
公开(公告)号: | CN102224119A | 公开(公告)日: | 2011-10-19 |
发明(设计)人: | 岸本敦司;胜勇人;后藤正人;阿部直晃;中山晃庆 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | C04B35/46 | 分类号: | C04B35/46;H01C7/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 樊建中 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 半导体 陶瓷 以及 温度 系数 热敏电阻 | ||
1.一种半导体陶瓷,其为实质不含Pb的非铅系的半导体陶瓷,
所述半导体陶瓷以用一般式AmBO3来表示的具有钙钛矿型构造的BamTiO3系组成物为主成分,
按照A位和B位的摩尔比m成为1.001≤m≤1.01的方式来进行配制,并且,
用Na、Bi、Ca、以及稀土类元素来置换构成A位的Ba的一部分,且
在设构成所述A位的元素的总摩尔数为1摩尔时,所述Ca的含有量换算为摩尔比是0.05~0.20。
2.根据权利要求1所述的半导体陶瓷,其特征在于,
所述摩尔比m为1.001≤m≤1.004。
3.根据权利要求1或2所述的半导体陶瓷,其特征在于,
所述Ca的含有量换算为摩尔比是0.125~0.175。
4.一种正温度系数热敏电阻,其在部件基体的表面形成有一对外部电极,
所述部件基体由权利要求1~3中任一项所述的半导体陶瓷形成。
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