[发明专利]发光二极管装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200910163586.2 申请日: 2009-08-28
公开(公告)号: CN101667614A 公开(公告)日: 2010-03-10
发明(设计)人: 余振华;余佳霖;陈鼎元;邱文智;林宏远 申请(专利权)人: 台湾积体电路制造股份有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 代理人: 姜 燕;陈 晨
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 发光二极管 装置 及其 制造 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种半导体装置及其制造方法,特别涉及于含碳基板上形成 发光二极管装置。

背景技术

发光二极管(LEDs)利用于一基板上形成有源区且于基板上沉积不同导 电和半导电层的方式所形成。利用p-n结中的电流,电子-空穴对的再结合 (recombination)辐射可用于产生电磁辐射(例如光)。在例如GaAs或GaN的直 接能隙材料(direct band gap material)形成的顺向偏压的p-n结中,注入空乏区 中的电子-空穴对的再结合导致电磁辐射发光。上述电磁辐射可位于可见光区 或非可见光区。可利用具有不同能隙的材料形成不同颜色的LED。另外,电 磁辐射发光在非可见光区的LED可将上述非可见光导向磷透镜或类似类型 的材料。当上述非可见光被磷吸收时,磷会发出可见光。

LED结构通常利用外延成长三-五族化合物层的方式形成,上述掺杂相 反导电类型的三-五族材料层位于发光层的任一侧。在形成例如GaN层的三- 五族外延层时,会形成一SiNx介电层,其会对上述LED结构的性能产生不 利的影响。为了防止SiNx的形成,在形成LED结构之前,通常于基板上方 沉积一金属过渡层(transition layer)。

然而,金属过渡层的使用会对GaN外延层的结晶结构产生不利的影响。 外延工艺中的高温会导致过渡层的金属原子与基板的硅原子混合(inter-mix), 因而会产生复杂的结构。因为金属原子和硅原子混合而产生的上述复杂结构 通常为多晶或非晶状态,因而在可用于形成上述LED结构的外延工艺中, 不能于其上提供良好的结晶结构。

因此,在此技术领域中,需要一种发光二极管装置及其制造方法,以避 免和降低金属原子和硅原子的混合。

发明内容

有鉴于此,本发明的一实施例提供一种位于一基板上的发光二极管,上 述基板具有形成于其中的一含碳层。

本发明一实施例的发光二极管装置包括一半导体基板,其具有位于一第 一侧的一含碳层,其中该含碳层的碳原子与该半导体基板的硅原子键结。上 述含碳层的厚度可约小于20μm。一发光二极管结构,形成于上述半导体基 板的上述第一侧上,其中该发光二极管结构包括一缓冲/成核层、一第一接触 层、一第一包覆层、一有源层、一第二包覆层和一第二接触层,该第一接触 层和该第二接触层提供电性接触。上述发光二极管可还包括一过渡层,介于 上述含碳层和上述发光二极管结构之间,其中该过渡层包括铝、钛、银、钛 -铝或其组合。上述半导体基板可为一块状硅基板,其具有(111)方向的一表 面配向。然而,也可使用其他类型的基板。

本发明的另一实施例提供一种发光二极管装置的制造方法,上述发光二 极管装置的制造方法包括提供一基板;利用例如离子注入、扩散或外延方式, 于上述基板的一第一侧形成一含碳层。进行一退火工艺以活化该含碳层的碳 原子,使该碳原子与该基板的硅原子键结。之后,于上述基板的上述第一侧 上方形成一发光二极管结构,其中该发光二极管结构包括一缓冲/成核层、一 第一接触层、一第一包覆层、一有源层、一第二包覆层和一第二接触层,该 第一接触层和该第二接触层提供电性接触。于形成该发光二极管结构之前还 包括于该含碳层上形成一过渡层,其中该过渡层包括铝、钛、银、钛-铝或其 组合。

本发明的又一实施例提供一种发光二极管装置的制造方法,上述发光二 极管装置的制造方法包括提供一基板;将碳原子置于上述半导体基板的一第 一侧内。之后,于上述半导体基板的上述第一侧上方形成一过渡层;以及于 上述过渡层上方形成一发光二极管结构。

本发明提供一种避免和降低金属原子和硅原子的混合的发光二极管装 置及其制造方法。

附图说明

图1~图4为本发明实施例的发光二极管的制造方法的工艺流程图。

并且,上述附图中的附图标记说明如下:

102~基板;

202~含碳层;

302~过渡层;

402~发光二极管结构;

410~阻障层;

412~第一接触层;

414~第一包覆层;

416~有源层;

418~第二包覆层;

420~第二接触层。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于台湾积体电路制造股份有限公司,未经台湾积体电路制造股份有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200910163586.2/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top