[发明专利]半导体发光器件及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200880015192.6 申请日: 2008-06-18
公开(公告)号: CN101681959A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 李尚烈 申请(专利权)人: LG伊诺特有限公司
主分类号: H01L33/00 分类号: H01L33/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人: 顾晋伟;王春伟
地址: 韩国*** 国省代码: 韩国;KR
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摘要:
搜索关键词: 半导体 发光 器件 及其 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体发光器件,包括:

发光结构,其包括第一导电型半导体层、在所述第一导电型半导体 层下方的有源层和在所述有源层下方的第二导电型半导体层;

在所述发光结构下方的反射电极层;和

在所述第二导电型半导体层的外周部分与所述反射电极层之间的外 保护层,

其中所述第二导电型半导体层由中心部分和包围所述中心部分的 所述外周部分组成,所述外周部分的厚度比所述中心部分的厚度低预定 的深度。

2.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述外保护层包括半 导体材料。

3.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述外保护层包括 GaN、InN、AlN、InGaN、AlGaN、InAlGaN和AlInN中的至少一种, 并且用n型掺杂剂或p型掺杂剂掺杂。

4.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述外保护层的宽度 为20μm至600μm,所述外保护层的厚度为至500μm。

5.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述外保护层包括未 掺杂的GaN层。

6.根据权利要求1所述的半导体发光器件,包括在所述第二导电型半 导体层下方的n型半导体层或p型半导体层。

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