[发明专利]半导体发光器件及其制造方法有效
| 申请号: | 200880015192.6 | 申请日: | 2008-06-18 |
| 公开(公告)号: | CN101681959A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
| 发明(设计)人: | 李尚烈 | 申请(专利权)人: | LG伊诺特有限公司 |
| 主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人: | 顾晋伟;王春伟 |
| 地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 发光 器件 及其 制造 方法 | ||
1.一种半导体发光器件,包括:
发光结构,其包括第一导电型半导体层、在所述第一导电型半导体 层下方的有源层和在所述有源层下方的第二导电型半导体层;
在所述发光结构下方的反射电极层;和
在所述第二导电型半导体层的外周部分与所述反射电极层之间的外 保护层,
其中所述第二导电型半导体层由中心部分和包围所述中心部分的 所述外周部分组成,所述外周部分的厚度比所述中心部分的厚度低预定 的深度。
2.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述外保护层包括半 导体材料。
3.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述外保护层包括 GaN、InN、AlN、InGaN、AlGaN、InAlGaN和AlInN中的至少一种, 并且用n型掺杂剂或p型掺杂剂掺杂。
4.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述外保护层的宽度 为20μm至600μm,所述外保护层的厚度为至500μm。
5.根据权利要求1所述的半导体发光器件,其中所述外保护层包括未 掺杂的GaN层。
6.根据权利要求1所述的半导体发光器件,包括在所述第二导电型半 导体层下方的n型半导体层或p型半导体层。
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