[发明专利]侧堆叠设备和方法无效

专利信息
申请号: 200880009023.1 申请日: 2008-05-19
公开(公告)号: CN101689544A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 约翰·特雷扎 申请(专利权)人: 丘费尔资产股份有限公司
主分类号: H01L25/065 分类号: H01L25/065
代理公司: 上海市华诚律师事务所 代理人: 傅强国
地址: 美国特*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 堆叠 设备 方法
【权利要求书】:

1.一种模块,其特征在于,包括:

彼此物理连接以使其处于不同的平面并且被排列成IC的第一堆叠的至少两个IC,所述至少两个IC彼此隔开小于100μm的间隔;

在物理上位于所述至少两个IC相面对的表面之间的点处连接到所述至少两个IC中的至少一个的第三IC,并且其中所述第三IC从所述至少两个IC隔开至多100μm的距离,并且所述第三IC相对于所述至少两个IC两者离面,所述第三IC在所述点处电连接所述至少两个IC中的至少一个。

2.如权利要求1所述的模块,其特征在于,物理连接进一步包括:在所述至少两个IC之间的电连接。

3.如权利要求2所述的模块,其特征在于,在所述至少两个IC之间的所述物理连接包括在所述至少两个IC之间形成电连接的至少一个柱和穿透连接。

4.如权利要求2所述的模块,其特征在于,所述物理连接包括以下的任意一个或多个:a)至少一个封闭焊接;b)至少一个熔合连接;c)井型连接;或者d)至少一个共价键连接。

5.如权利要求1所述的模块,其特征在于,所述第三IC是无源无件。

6.如权利要求1所述的模块,其特征在于,所述第三IC是承载芯片的集成电路。

7.如权利要求1所述的模块,其特征在于,所述至少两个IC每个都具有彼此共同对准的边缘,并且其中所述第三IC实质上垂直于所述至少两个IC,并在所述共同对准的边缘处连接至所述至少两个IC。

8.如权利要求7所述的模块,其特征在于,所述第三IC是附加的IC的第二堆叠中的一个IC。

9.如权利要求7所述的模块,其特征在于,进一步地包括:相对于所述至少两个IC中的至少一个离面的第四IC。

10.如权利要求9所述的模块,其特征在于,所述第四IC相对于所述第三IC离面。

11.如权利要求7所述的模块,其特征在于,所述至少两个IC和所述第三IC中的IC在平面图上看,具有除了正方形形状或者长方形形状以外的多边形形状。

12.如权利要求7所述的模块,其特征在于,所述第三IC在所述至少两个IC中的所述至少一个和附加的IC之间进行桥接,所述附加的IC通过至少一个插入IC与所述至少两个IC中的所述至少一个分开,并且其中所述第三IC通过至少一个柱和穿透连接电连接至所述附加的IC。

13.如权利要求7所述的模块,其特征在于,进一步包括:

在所述至少两个IC或所述第三IC中的一个或多个中的指定的IC上的至少一个部件,该部件被定位及规定尺寸以便作为间隔部并在所述指定的IC和其它的IC之间建立最小的可容许的间隔。

14.如权利要求7所述的模块,其特征在于,进一步包括:在所述至少两个IC或所述第三IC中的一个或多个中的指定的IC上的至少一个触点,所述触点被规定尺寸以便作为间隔部并在所述指定的IC和其它的IC之间建立最小的可容许的间隔。

15.如权利要求13所述的模块,其特征在于,所述至少一个部件是所述指定的IC的一部分。

16.如权利要求13所述的模块,其特征在于,

所述至少一个部件附着到所述指定的IC上。

17.如权利要求13所述的模块,其特征在于,

所述至少一个部件包括粘合剂。

18.如权利要求17所述的模块,其特征在于,所述粘合剂是凝固树脂。

19.如权利要求1所述的模块,其特征在于,

所述至少两个IC每个都具有彼此共同的边缘,其中所述共同的边缘彼此偏移,并且其中所述第三个IC实质上垂直于所述至少两个IC,并在所述共同的对准的边缘处连接至所述至少两个IC。

20.如权利要求19所述的模块,其特征在于,

所述第三IC是IC的第二堆叠中的一个IC。

21.如权利要求19所述的模块,其特征在于,进一步包括:

相对于所述至少两个IC中的至少一个离面的第四IC。

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