[发明专利]用于具有保护涂层的装置的感测电路有效
申请号: | 200880003372.2 | 申请日: | 2008-01-28 |
公开(公告)号: | CN101617402A | 公开(公告)日: | 2009-12-30 |
发明(设计)人: | 约翰内斯·A·J·范格洛文;罗伯特斯·A·M·沃尔特斯;宁克·费尔哈格 | 申请(专利权)人: | NXP股份有限公司 |
主分类号: | H01L23/58 | 分类号: | H01L23/58 |
代理公司: | 北京天昊联合知识产权代理有限公司 | 代理人: | 陈 源;张天舒 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 具有 保护 涂层 装置 电路 | ||
1.一种集成电路,其具有要被保护的电路(40)、要被保护的电路 上的保护层(10)以及感测电路(80),所述感测电路用来感测与位于所述 集成电路上的参考阻抗相比的所述保护层的第一部分的第一阻抗,所 述感测电路还包括放大器(50)和比较器(12),其中,所述放大器(50)的 输出被馈送到所述比较器(12)的输入端,并且一条主反馈路径是从所 述比较器(12)的输出端反馈到所述放大器的负输入端,使得被感测的 第一阻抗和参考阻抗位于所述主反馈路径中。
2.根据权利要求1所述的集成电路,其中,所述参考阻抗是由所 述保护层的第二部分形成的。
3.根据权利要求1所述的集成电路,其中,所述感测电路用来感 测第一阻抗的变化。
4.根据之前任何一项权利要求所述的集成电路,所述感测电路被 并入振荡器电路(88)中。
5.根据权利要求1所述的集成电路,第一阻抗和/或参考阻抗是 电容,所述感测电路具有临近所述保护层的感测电极(25)以形成所述 电容。
6.根据权利要求1所述的集成电路,所述保护层是不均匀层。
7.根据权利要求4所述的集成电路,所述振荡器包括耦接至比较 器(12)的放大器,所述比较器位于反馈回路中。
8.根据权利要求1所述的集成电路,所述参考阻抗与被感测的第 一阻抗并联耦接。
9.根据权利要求5所述的集成电路,将感测电极布置在多个金属 层中的最高层中。
10.根据权利要求5所述的集成电路,其具有所述感测电极和被 保护电路之间的屏蔽层(35)。
11.根据权利要求5所述的集成电路,所述感测电极被布置为交 叉梳状结构,使得所述保护层在梳状结构的齿间延伸。
12.根据权利要求3所述的集成电路,所述感测电路用来测量所 述保护层的不同部分的多个第一阻抗。
13.根据权利要求12所述的集成电路,其具有选择所述主反馈路 径中的第一阻抗的选择器。
14.根据权利要求12所述的集成电路,其具有用于不同部分的多 个感测电极对,以多个电极对的可选择排的方式布置所述感测电极对。
15.根据权利要求13所述的集成电路,其被布置为使得到未选择 的第一阻抗的连接线保持浮动。
16.一种利用集成电路的方法,所述集成电路具有要被保护的电 路(40)、布置在要被保护的电路上的保护层(10),所述方法包括:感测 与位于所述集成电路上的参考阻抗相比的所述保护层的一部分的第一 阻抗,其中,所述感测电路包括放大器(50)和比较器(12),其中,所述 放大器(50)的输出被馈送到所述比较器(12)的输入端,并且一条主反馈 路径是从所述比较器(12)的输出端反馈到所述放大器的负输入端,使 得被感测的第一阻抗和参考阻抗位于所述主反馈路径中。
17.根据权利要求16所述的方法,其包括感测第一阻抗的变化。
18.根据权利要求16或17所述的方法,其具有以下步骤:采用 所述放大器来驱动振荡器(88)并对振荡数量进行计数。
19.根据权利要求16所述的方法,其具有以下步骤:将所测量出 的第一阻抗转换(90)为密钥值。
20.根据权利要求19所述的方法,其具有以下步骤:将所述密钥 值或所述第一阻抗或密钥的加密函数传输到出所述集成电路的外部并 在外部验证(110)该密钥值或所述第一阻抗。
21.根据权利要求16所述的方法,其具有以下步骤:选择要被测 量的保护层的一个或多个不同部分。
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