[发明专利]半导体装置以及半导体装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 200810213840.0 申请日: 2008-09-11
公开(公告)号: CN101470132A 公开(公告)日: 2009-07-01
发明(设计)人: 佐藤公敏;奥村美香;山口靖雄;堀川牧夫 申请(专利权)人: 三菱电机株式会社
主分类号: G01P15/125 分类号: G01P15/125
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 代理人: 闫小龙;刘宗杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置 以及 制造 方法
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,具备:

具有槽部的衬底;

第一布线,沿着上述槽部设置在上述槽部的底面上并且具有第一 膜厚;

第二布线,设置在上述衬底上且与上述第一布线电连接,并且具 有比上述第一膜厚厚的第二膜厚;

设置在上述衬底上并与上述第二布线电连接的元件;

具有与上述衬底之间夹持上述第一布线的部分并且在上述衬底上 包围上述第二布线及上述元件的构件;

以在上述衬底上的被上述构件包围的区域上形成腔的方式设置在 上述构件上的盖层,

上述衬底包括:具有构成上述槽部的底面的第一氧化膜的基材部; 构成上述槽部的侧面的第二氧化膜。

2.如权利要求1的半导体装置,其中,

上述元件及上述构件分别由掺杂后的多晶硅构成。

3.如权利要求1的半导体装置,其中,

上述元件包括能够相对于上述衬底变位地设置的部分。

4.如权利要求1的半导体装置,其中,

上述槽部的深度和上述第一膜厚相同。

5.如权利要求1的半导体装置,其中,

上述第一布线具有在上述衬底上与上述第二布线交叉的部分,

还具备将上述交叉的部分及上述第二布线彼此隔开的层间绝缘 膜。

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