[发明专利]半导体装置以及半导体装置的制造方法有效
| 申请号: | 200810213840.0 | 申请日: | 2008-09-11 |
| 公开(公告)号: | CN101470132A | 公开(公告)日: | 2009-07-01 |
| 发明(设计)人: | 佐藤公敏;奥村美香;山口靖雄;堀川牧夫 | 申请(专利权)人: | 三菱电机株式会社 |
| 主分类号: | G01P15/125 | 分类号: | G01P15/125 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人: | 闫小龙;刘宗杰 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 半导体 装置 以及 制造 方法 | ||
1.一种半导体装置,具备:
具有槽部的衬底;
第一布线,沿着上述槽部设置在上述槽部的底面上并且具有第一 膜厚;
第二布线,设置在上述衬底上且与上述第一布线电连接,并且具 有比上述第一膜厚厚的第二膜厚;
设置在上述衬底上并与上述第二布线电连接的元件;
具有与上述衬底之间夹持上述第一布线的部分并且在上述衬底上 包围上述第二布线及上述元件的构件;
以在上述衬底上的被上述构件包围的区域上形成腔的方式设置在 上述构件上的盖层,
上述衬底包括:具有构成上述槽部的底面的第一氧化膜的基材部; 构成上述槽部的侧面的第二氧化膜。
2.如权利要求1的半导体装置,其中,
上述元件及上述构件分别由掺杂后的多晶硅构成。
3.如权利要求1的半导体装置,其中,
上述元件包括能够相对于上述衬底变位地设置的部分。
4.如权利要求1的半导体装置,其中,
上述槽部的深度和上述第一膜厚相同。
5.如权利要求1的半导体装置,其中,
上述第一布线具有在上述衬底上与上述第二布线交叉的部分,
还具备将上述交叉的部分及上述第二布线彼此隔开的层间绝缘 膜。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三菱电机株式会社,未经三菱电机株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/200810213840.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





