[发明专利]半导体集成电路和系统LSI无效
| 申请号： | 200580047365.9 | 申请日： | 2005-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN101111776A | 公开（公告）日： | 2008-01-23 |
| 发明（设计）人： | 前田恭辉;前田俊则 | 申请（专利权）人： | 松下电器产业株式会社 |
| 主分类号： | G01R31/3187 | 分类号： | G01R31/3187 |
| 代理公司： | 北京市金杜律师事务所 | 代理人： | 季向冈 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 半导体 集成电路 系统 lsi | ||
1.一种半导体集成电路，内置有作为测试对象的被测试电路，其特征在于：
其具有用于生成用来与上述被测试电路的测试结果进行比较的测试期望值信号的测试期望值编程装置，其中，
上述测试期望值编程装置具有：
输入/输入输出接片，用于从连接在上述半导体集成电路上的接地端子或电源端子输入测试所需要的预定的输入信号；
切换开关，连接在上述输入/输入输出接片上，用于选择性地切换经由该输入/输入输出接片而输入的上述信号的输出状态；以及
期望值生成电路，用于根据从上述开关输出的输出信号来生成上述测试期望值信号。
2.根据权利要求1所述的半导体集成电路，其特征在于：
上述测试期望值编程装置还具有使上述输入信号反相后将其输出的输出反相装置。
3.根据权利要求2所述的半导体集成电路，其特征在于：
上述测试期望值编程装置还具有将从上述开关输出的一个输出信号分割为多个信号的信号分割装置。
4.根据权利要求2所述的半导体集成电路，其特征在于：
上述测试期望值编程装置分别具有多个上述输入/输入输出接片和与该输入/输入输出接片连接的上述开关，并且
具有同时控制上述多个开关的切换动作的开关控制电路。
5.根据权利要求2所述的半导体集成电路，其特征在于：
上述测试期望值编程装置分别具有多个上述输入/输入输出接片和与该输入/输入输出接片连接的上述开关，并且
具有对上述多个开关的切换动作分别单独地进行控制的开关控制电路。
6.一种半导体集成电路，内置有作为测试对象的被测试电路，其特征在于：
其具有用于生成用来对上述被测试电路进行测试的测试输入信号的测试输入值编程装置，其中，
上述测试输入值编程装置具有：
输入/输入输出接片，用于从连接在上述半导体集成电路上的接地端子或电源端子输入测试所需要的预定的输入信号；
切换开关，连接在上述输入/输入输出接片上，用于选择性地切换经由该输入/输入输出接片而输入的上述信号的输出状态；以及
输入值生成电路，用于根据从上述开关输出的输出信号来生成上述测试输入信号。
7.一种半导体集成电路，其特征在于，具有：
根据权利要求1至5中任一项所述的半导体集成电路中的测试期望值编程装置；和
用于生成用来对上述被测试电路进行测试的测试输入信号的测试输入值编程装置，其中，
上述测试输入值编程装置具有：
输入/输入输出接片，用于从连接在上述半导体集成电路上的接地端子或电源端子输入测试所需要的预定的输入信号；
切换开关，连接在上述输入/输入输出接片上，用于选择性地切换经由该输入/输入输出接片而输入的上述信号的输出状态；以及
输入值生成电路，用于根据从上述开关输出的输出信号来生成上述测试输入信号。
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