[发明专利]化合物半导体制造用的水平反应炉无效

专利信息
申请号: 02119870.5 申请日: 2002-05-17
公开(公告)号: CN1386898A 公开(公告)日: 2002-12-25
发明(设计)人: 朴根燮;南承宰;李喆鲁;白秉峻 申请(专利权)人: 汉沃克有限公司
主分类号: C23C16/34 分类号: C23C16/34;C30B25/14
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 范明娥,张平元
地址: 韩国大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 化合物 半导体 制造 水平 反应炉
【权利要求书】:

1.一种水平反应炉,其特征是,在化合物半导体制造用水平反应炉中,具有:

密闭的容器形状的反应炉外壳;

位于上述反应炉外壳内部的接受器,该接受器上面具有多个容纳基板的基板容纳部分;

接受器加热装置;

从上述接受器的中央下部供给V族气体的V族气体供应装置;

向着上述接受器上面的中央,从上部供给III族原料及输送气体的III族原料及输送气体供应装置以及

把反应炉内的反应气排出反应炉外部的反应气排出装置。

2.权利要求1中所述的水平反应炉,其特征是,上述III族原料及输送气体的供应装置的出口是对应于上述V族气体供应装置的出口而形成的。

3.权利要求1或2中所述的水平反应炉,其特征是,还可以含有V族气体流动导向部分,其在上述V族气体供应装置的出口上部形成,并把通过上述出口供给的V族气体流动导向至半径方向的外侧。

4.权利要求1或2中所述的水平反应炉,其特征是,还可以含有III族原料及输送气体流动导向部分,其与上述III族原料及输送气体供应装置出口隔离而形成,通过上述出口把供给的III族原料及输送气体的流动导向至半径方向的外侧。

5.权利要求4中所述的水平反应炉,其特征是,上述III族原料及输送气体流动导向部分的顶点是向着上侧形成的圆锥形。

6.权利要求1或2中所述的水平反应炉,其特征是,上述反应炉外壳的上板,从其中心愈往半径方向的外侧,高度愈向低方面倾斜。

7.权利要求1或2中所述的水平反应炉,其特征是,还含有把V族气体到达基板前进行加热的V族气体加热装置。

8.权利要求1或2中所述的水平反应炉,其特征是,还含有使上述接受器旋转的接受器旋转装置。

9.权利要求1或2中所述的水平反应炉,其特征是,把上述III族原料及输送气体和上述V族气体,在到达上述基板前进行混合而成反应气体。

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