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[发明专利]膜厚测量方法及膜厚测量装置-CN201480074364.2有效
发明人：大塚贤一;中野哲寿 -专利权人：浜松光子学株式会社
申请日： 2014-10-24 - 公布日： 2019-03-05 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：膜厚测量装置(1A)包括：光照射部(10)，其向测量对象物(100)照射光；光检测部(20A)，其对反射光的各波长的强度进行检测；及膜厚算出部(30A)，其通过对实测分光反射率与理论分光反射率进行比较而决定第1膜(102)的膜厚，上述实测分光反射率基于光检测部(20A)的检测结果而获得，上述理论分光反射率采纳有表面反射率及表面透过率、以及背面反射率者。膜厚算出部(30A)对分别使表面反射率的值及表面透过率的值、以及背面反射率的值变化而获得的多个理论分光反射率与实测分光反射率进行比较，基于最接近于该实测分光反射率的理论分光反射率，决定第1膜(102)的膜厚
测量方法测量装置

[发明专利]一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法-CN201610150902.2有效
发明人：丁举鹏;黄博扬;徐正元 -专利权人：中国科学技术大学
申请日： 2016-03-15 - 公布日： 2018-08-21 - 主分类号： G01N21/55 文献下载
摘要：本发明公开了一种可见光漫射通信中环境表面反射率谱的测量方法，借助积分球以及宽光谱光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测，得到该待测环境表面材料的相对反射率谱；借助积分球以及单色光光源对有待测环境表面材料和无待测环境表面材料反射作用下的光谱分别进行扫测，得到该待测环境表面材料对该单色光的绝对反射率；以所获得的单色光的绝对反射率为基准，求得宽光谱范围内其他波长光的绝对反射率；将所获得的全部波长光的绝对反射率拼合，得到整个波长范围内的绝对反射率谱。该测量方法能够准确、高效地获得环境表面材料的绝对反射率谱，提高了可见光漫射通信中反射率的测量效率。
一种可见光漫射通信环境表面反射率测量方法

[发明专利]粗糙面到光滑表面的反射率谱数值退化方法、系统、介质-CN202110616467.9有效
发明人：牟媛;盛新庆;吴比翼;郭琨毅 -专利权人：北京理工大学
申请日： 2021-06-02 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01N21/3581 文献下载
摘要：本发明属于粗糙表面反射率谱的应用技术领域，公开了一种粗糙面到光滑表面的反射率谱数值退化方法、系统、介质，测量粗糙样片的反射率谱，结合遗传算法反演粗糙样片表面粗糙度随波长的变化曲线，并采用四次多项式对粗糙度‑波长曲线进行拟合；将拟合后的粗糙度谱代入粗糙面菲涅尔反射率的基尔霍夫表达式中，求解光滑表面的反射率谱。并采用Lorentz函数对求解的光滑面反射率谱进行拟合修正，最终结果与抛光样本的反射率谱吻合。本发明适用于光滑表面反射率谱无法直接试验测量的材料。该方法可通过数值方法获得光滑表面反射率谱，为Kramers‑Kronig关系、振子模型等提取材料光学常数的理论提供基础支撑。
粗糙光滑表面反射率数值退化方法系统介质

[发明专利]评估正弦调制影响高反射率材料激光焊能量耦合行为的方法-CN201710433335.6在审
发明人：张林杰;卢广峰;宁杰;杨健楠;白清林;裴俊宇;刘江哲 -专利权人：西安交通大学
申请日： 2017-06-09 - 公布日： 2017-12-01 - 主分类号： B23K26/70 文献下载
摘要：本发明公开了一种评估正弦调制影响高反射率材料激光焊能量耦合行为的方法，包括1)选取高反射率材料试板，然后除去高反射率材料试板表面的氧化皮层；2)对高反射率材料试板表面进行功率正弦调制的激光深熔焊接；3)获取功率正弦调制的激光深熔焊接在高反射率材料试板表面上形成的焊缝熔深，再将高反射率材料试板上的焊缝纵截面熔深与功率正弦调制的波形图进行对比，并根据对比的结果评估正弦调制对高反射率材料激光焊的激光能量耦合行为的影响，该方法能够评估正弦调制对高反射率材料激光焊的激光能量耦合行为的影响。
评估正弦调制影响反射率材料激光能量耦合行为方法

[发明专利]一种五连轧机带钢的制备方法-CN202010242860.1有效
发明人：齐海峰;张小松;李中伟;宁媛媛;郑艳坤;唐伟;张晓峰;任新意;张良;曹长青;林燕 -专利权人：首钢京唐钢铁联合有限责任公司
申请日： 2020-03-31 - 公布日： 2022-01-18 - 主分类号： B21B1/28 文献下载
摘要：本发明涉及板带压力加工技术领域，具体涉及一种五连轧机带钢的制备方法，该方法包括：获取冷轧工艺参数和对应的表面反射率，冷轧工艺参数包括：轧辊个数、轧辊粗糙度、乳化液浓度、磁分离设备的开启个数和运行时间、撇油器的开启个数和运行时间；分别对每个冷轧工艺参数和对应的表面反射率进行线性拟合，以获得多个反射率预测模型；获取表面反射率的目标值，并根据反射率预测模型计算目标值对应的目标工艺参数；按照目标工艺参数进行冷轧。通过反射率预测模型求解符合用户要求的反射率对应的目标工艺参数，按照目标工艺参数进行冷轧，能够提高冷轧带钢的表面反射率，避免了在冷轧带钢表面产生压痕，进而增强了冷轧带钢的表面质量。
一种轧机带钢制备方法

[发明专利]电解用降低氧化层反射率的加工方法及系统-CN202311194116.9在审
发明人：刘秋华;王宝;李小建;郑和开 -专利权人：深圳市欣茂鑫实业有限公司
申请日： 2023-09-15 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： C25D11/02 文献下载
摘要：本发明提出了一种电解用降低氧化层反射率的加工方法及系统，该方法包括：采集初始电解工件表面的初始反射率R0；当R0＞Ra时，将第一反射率R1与预设标准反射率Ra进行比对后，确定是否继续对第一电解条件进行调整，当R1＞Ra时，将第二反射率R2与预设标准反射率Ra进行比对，当R2＞Ra时，对R0、R1和R2与Ra之间的差值比对结果进行判断。本发明能够有效地根据工件表面的反射率的变化及时地调整电解条件，通过不同的电解条件或者不同反射率的电解工件，从而能够有效地降低后续工件的反射率，不仅能够对电解着色的工件表面的反射率进行有效地控制，还能够极大的提高了工件的电解着色效率
电解降低氧化反射率加工方法系统

[发明专利]一种高反射率节能双面背光源线路板-CN201910011296.X在审
发明人：袁必增 -专利权人：深圳市顺荣昌电路有限公司
申请日： 2019-01-07 - 公布日： 2019-03-22 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种高反射率节能双面背光源线路板，包括线路板主体，所述线路板主体的上表面复合有高反射层，所述线路板主体的下表面复合有导热耐压层，所述导热耐压层的下表面同样也复合有高反射层。该高反射率节能双面背光源线路板镜面铝板层的总的反射率能够达到90%，规则反射率能够达到80%，能够增强线路板整体的反射率，ABS电镀铝膜的反射类别为镜面反射，平均反射率能够达到94%，同时反射波长的范围比较宽，能够提高线路板的反射率，导热导电衬垫层有很好的导热能力和低电阻，硅胶导热片和导热绝缘弹性橡胶层具有良好的导热能力和高等级的耐压能力，能够很好的保护电路板不受损坏，同时满足了高反射率和节能的需求。
线路板高反射率导热双面背光源线路板主体反射率节能导热能力高反射层耐压层下表面复合电路板弹性橡胶层规则反射率平均反射率导电衬垫导热绝缘电镀铝膜反射波长范围比较镜面反射镜面铝板耐压能力导热片低电阻上表面硅胶反射

[发明专利]一种空间频域成像中球型水果表面漫反射率校正测量方法-CN202310378143.5在审
发明人：胡栋;俞盛旗;仇德凯;贾天泽;孙通 -专利权人：浙江农林大学
申请日： 2023-04-11 - 公布日： 2023-07-28 - 主分类号： G01N21/47 文献下载
摘要：本发明涉及一种空间频域成像中球型水果表面漫反射率校正测量方法，解决在空间频域成像系统中测量球型水果的漫反射时受到样品表面高度、反射角和光线入射角的影响。本方法包括以下步骤：一、投影获取结构光条纹图；二、条纹图白板校正；三、求得水果漫反射率和三维轮廓；四、对漫反射率进行高度校正，并由高度求得球型水果表面反射角；五、对高度校正后的漫反射率进行角度校正，得到球型水果最终的漫反射率；六、对漫反射率进行光学特性反演得到吸收系数和约化散射系数。本方法提出了一种适用于球型水果的漫反射校正方法，校正了由水果表面高度和角度引起的漫反射率测量误差，校正后的水果漫反射率和其反演的光学特性更加符合水果质地均匀的特性。
一种空间成像中球型水果表面漫反射校正测量方法

[发明专利]照明系统和控制来自照明器的光输出的方法-CN201780008748.8在审
发明人：李维斌;H.布罗尔斯;R.拉杰高帕兰 -专利权人：飞利浦照明控股有限公司
申请日： 2017-01-24 - 公布日： 2018-10-23 - 主分类号： G01J1/32 文献下载
摘要：一种照明系统，包括用于照射一表面的光源（诸如照明器）以及用于检测从表面反射的光以生成检测信号的检测器。检测信号被针对表面的不同的光照条件进行处理并适配成导出关于表面的反射率分布信息。根据反射率分布信息控制光源。该系统因此包括用于通过使用检测器测量表面反射率以及观察来自动态光源的光反射率的系统。
检测器反射率分布检测信号照明系统照明器光源表面反射率表面反射动态光源光反射率光照条件信息控制光输出导出适配照射测量检测观察

[发明专利]基于太赫兹频段测量样品复折射率的方法和装置-CN201910267623.8有效
发明人：张景;蔡禾;朱厦;孙金海;张旭涛;刘永强;李粮生;殷红成;肖志河 -专利权人：北京环境特性研究所
申请日： 2019-04-03 - 公布日： 2021-06-04 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：本发明公开了一种基于太赫兹频段测量样品复折射率的方法和装置，涉及激光技术领域。其中，该方法包括：根据太赫兹脉冲在样品表面的反射信号和在金属镜表面的反射信号确定样品复反射率的测量值；根据反射率计算模型确定样品复反射率的模型估计值，并根据所述复反射率的测量值和所述复反射率的模型估计值构建代价函数；其中，所述反射率计算模型考虑了所述金属镜复折射率对参考信号的影响以及测量过程中的相位误差，所述样品复反射率的模型估计值基于多个参数表示；对所述代价函数进行优化求解，并根据优化求解结果确定所述样品的复折射率通过以上步骤，能够精确确定样品的复折射率，尤其适用于高反射率材料的复折射率测量。
基于赫兹频段测量样品折射率方法装置

[实用新型]一种高反射率节能双面背光源线路板-CN201920017403.5有效
发明人：袁必增 -专利权人：深圳市顺荣昌电路有限公司
申请日： 2019-01-07 - 公布日： 2019-09-27 - 主分类号： H05K1/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种高反射率节能双面背光源线路板，包括线路板主体，所述线路板主体的上表面复合有高反射层，所述线路板主体的下表面复合有导热耐压层，所述导热耐压层的下表面同样也复合有高反射层。该高反射率节能双面背光源线路板镜面铝板层的总的反射率能够达到90%，规则反射率能够达到80%，能够增强线路板整体的反射率，ABS电镀铝膜的反射类别为镜面反射，平均反射率能够达到94%，同时反射波长的范围比较宽，能够提高线路板的反射率，导热导电衬垫层有很好的导热能力和低电阻，硅胶导热片和导热绝缘弹性橡胶层具有良好的导热能力和高等级的耐压能力，能够很好的保护电路板不受损坏，同时满足了高反射率和节能的需求。
线路板高反射率导热双面背光源线路板主体反射率节能导热能力高反射层耐压层下表面复合电路板弹性橡胶层规则反射率平均反射率导电衬垫导热绝缘电镀铝膜反射波长范围比较镜面反射镜面铝板耐压能力导热片低电阻上表面硅胶反射

[发明专利]激光雷达及其反射率标定方法和反射率测量方法-CN202111251572.3在审
发明人：朱雄伟;张海武;疏达 -专利权人：北醒（北京）光子科技有限公司
申请日： 2021-10-24 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01S7/497 文献下载
摘要：公开了一种激光雷达及其反射率标定方法和反射率测量方法，所述反射率标定方法包括：在雷达校准场中布置具有单一的固定的表面反射率的校准用目标板，以模拟具有期望的表面反射率的目标板；采集包括探测值的雷达数据以及所述校准用目标板的相关参数；基于所述校准用目标板的相关参数根据激光雷达方程计算理论回波功率；基于采集的所述雷达数据和计算的理论回波功率建立回波功率与探测值的关系模型，其中，每个校准用目标板的相关参数包括入射距离、入射角度和表面反射率按照所述反射率标定方法能够降低激光雷达的生产成本。
激光雷达及其反射率标定方法测量方法

[发明专利]膜厚测定方法及玻璃光学元件的制造方法-CN201010132771.8有效
发明人：猪狩隆 -专利权人： HOYA株式会社
申请日： 2010-03-26 - 公布日： 2010-09-29 - 主分类号： G01B11/06 文献下载
摘要：在本发明的方法中，改变测试用覆膜的膜厚来进行两次以上的下述处理：在对于波长λ纳米的光具有表面反射率R0的测试用基体材料上形成所述测试用覆膜，测定该测试用覆膜对于所述波长λ纳米的光的表面反射率R′，由此导出所述测试用覆膜的膜厚与表面反射率变化量(R′-R0)之间的关系式，测定膜厚测定对象的覆膜对于所述波长λ纳米的光的表面反射率R，在所述关系式中应用该表面反射率R与所述测试用基体材料的表面反射率R0的差分(R-R0)作为所述表面反射率变化量，由此求取所述膜厚测定对象的覆膜的厚度
测定方法玻璃光学元件制造

[发明专利]一种基于粗糙面反射率谱反演材料复折射率的方法-CN201611080606.6有效
发明人：牟媛;吴振森;阳志强;曹运华 -专利权人：西安电子科技大学
申请日： 2016-11-30 - 公布日： 2019-04-30 - 主分类号： G01N21/41 文献下载
摘要：一种基于反射率谱反演粗糙面复折射率的方法，利用傅里叶光谱仪，测量三种以上不同粗糙表面的样片反射率谱；利用远红外椭偏仪，测量抛光定标板的复折射率精确解；利用遗传算法计算粗糙样片的表面均方根高度；结合菲涅尔反射系数的基尔霍夫近似，获得均方根高度的平方与反射率自然对数的线性关系；使用最小二乘法，数值计算光滑表面的反射率谱，与抛光定标板的反射率谱相吻合。以椭偏仪测量的复折射率作为实验初值，采用KK理论，根据光滑表面的反射率谱反演材料的复折射率，反演结果与椭偏仪测量结果吻合。该方法适用于表面粗糙样片的复折射率提取，测量范围宽，克服了实验系统操作复杂，测量频点有限以及样片工艺严格等缺点。
一种基于粗糙反射率反演材料折射率方法

[发明专利]虹现象减少且具有优化的抗反射效果的抗反射膜-CN200710307601.7有效
发明人：金相弼;李文馥;徐基奉;严相烈;郑智薰;崔光辉 -专利权人：东丽世韩株式会社
申请日： 2007-12-29 - 公布日： 2008-12-03 - 主分类号： G02B1/11 文献下载
摘要：本发明涉及抗反射膜，更具体而言，涉及通过在可见光(380至780nm)波长范围内降低最大反射率与最小反射率之比，制备的虹现象减少且具有优化的抗反射效果的抗反射膜，该膜具有低反射率。，本发明包括这样的叠置膜，其在基底膜100的至少一侧上依次包括含有(甲基)丙烯酸酯化合物的硬涂布层110、包含粘结剂树脂和导电粒子的导电层120以及包含氟化物的树脂层130，其特征在于，树脂层130的表面是微细粗糙的，且特征在于，在树脂层130侧的叠置膜表面的表面上，于380nm至780nm的波长范围内，最大反射率与最小反射率之比等于或小于20。优选的是，叠置膜的最大反射率小于4％，最小反射率大于0.2％。
现象减少具有优化反射效果

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