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[发明专利]一种芯片的失效定位方法-CN202010042395.7有效
发明人：龚瑜;黄彩清;吴凌;刘颖 -专利权人：深圳赛意法微电子有限公司
申请日： 2020-01-15 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片的失效定位方法，包括如下步骤：连接步骤：将待测芯片与驱动电路相接，并将OBIRCH机器的电源输出端与待测芯片的输入端或输出端相接；加电步骤：依照模拟芯片或数字电路芯片的加电顺序依次对待测芯片的输入端和/或输出端进行加电，当对各输入端加电完成之后时，获取失效定位图像以判断是否存在缺陷。本发明的芯片的失效定位方法通过对不同的芯片端位进行加电进而待测芯片工作，使得OBIRCH机器实现对芯片的动态检测，并且采用本发明的方法进行实现定位检测成本低廉、且节约时间。
一种芯片失效定位方法

[发明专利]基于加电探针的化合物半导体芯片在片测试电路-CN202010449991.7有效
发明人：宋旭波;吕元杰;张佩;魏碧华;冯志红 -专利权人：中国电子科技集团公司第十三研究所
申请日： 2020-05-25 - 公布日： 2022-08-02 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明适用于芯片在片测试技术领域，提供了一种基于加电探针的化合物半导体芯片在片测试电路，包括栅极加电探针和漏极加电探针，还包括：开关单元和限压单元；开关单元的第一端与栅极加电探针连接，开关单元的第二端接地，开关单元的第三端与限压单元的一端连接；限压单元的另一端与漏极加电探针连接。本发明通过开关单元和限压单元将漏极加电探针加在所述化合物半导体芯片上的电压和电流限制在安全范围内，避免先给漏极加电探针加电时，化合物半导体芯片的漏极容易形成非常高的电流，引起芯片性能的退化，甚至烧毁芯片的问题
基于探针化合物半导体芯片测试电路

[发明专利]一种半导体激光器同步加电耦合封装装置及方法-CN202211578984.2在审
发明人：段吉安;唐佳;卢胜强;徐聪;马著 -专利权人：中南大学
申请日： 2022-12-07 - 公布日： 2023-03-28 - 主分类号： G02B6/42 文献下载
摘要：本发明提供了一种半导体激光器同步加电耦合封装方案，透镜装料组件用于透镜的装料；透镜夹持耦合组件用于透镜的取料、转移以及耦合；激光器壳体定位组件用于激光器壳体的定位；点胶固化组件用于透镜的点胶固化；耦合检测组件用于检测光功率确认耦合精度，发光芯片加电组件包括加电探头以及加电驱动模组，加电探头与发光芯片上的触点接触，对发光芯片加电。本发明能够针对性地对待耦合透镜所对应的发光芯片进行加电，以直接检测该透镜准直后的光功率确认耦合精度，因此无需预先布置大量线路连接发光芯片，且在耦合过程中其它发光芯片也不会发光对耦合造成影响，另外能够保证固化过程中的持续加电检测光功率
一种半导体激光器同步耦合封装装置方法

[发明专利]芯片测温方法和测温装置-CN200910200023.6有效
发明人：郭强;龚斌 -专利权人：中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
申请日： 2009-12-01 - 公布日： 2011-06-01 - 主分类号： H01L21/66 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片测温方法，通过在芯片内部各层当中设置芯片测温装置获得芯片加电情况下内部各层温度，或者通过计算的方法获得芯片加电情况下内部各层温度。本发明还公开了一种测温装置。采用本发明的方法和装置能够准确获得加电情况下芯片内各层的温度。
芯片测温方法装置

[发明专利]大功率激光芯片测试老化夹具-CN202010362517.0在审
发明人：李伟;罗骏 -专利权人：镭神技术（深圳）有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2020-06-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明涉及测试和老化设备技术领域，特别涉及大功率激光芯片测试老化夹具，散热基座上固定有定位片，定位片上放置有激光芯片，散热基座上还设置有控温电路板，控温电路板上方设置有加电电路板，加电电路板与激光芯片电连接，加电电路板连接于测试老化设备内的电源，定位片上设置有定位槽，激光芯片定位放置于定位槽内，加电电路板一端设置有加电电极，加电电极与激光芯片电连接，控温电路板上设置有热敏电阻。与现有技术相比，本发明的大功率激光芯片测试老化夹具只需调整定位片的定位槽和加电电路板的加电电极，即可实现对不同规格的激光芯片进行测试老化，通用性增强，便于激光芯片的装夹与生产流转，利于提高生产效率。
大功率激光芯片测试老化夹具

[实用新型]大功率激光芯片测试老化夹具-CN202020712924.5有效
发明人：李伟;罗骏 -专利权人：镭神技术（深圳）有限公司
申请日： 2020-04-30 - 公布日： 2021-03-30 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本实用新型涉及测试和老化设备技术领域，特别涉及大功率激光芯片测试老化夹具，散热基座上固定有定位片，定位片上放置有激光芯片，散热基座上还设置有控温电路板，控温电路板上方设置有加电电路板，加电电路板与激光芯片电连接，加电电路板连接于测试老化设备内的电源，定位片上设置有定位槽，激光芯片定位放置于定位槽内，加电电路板一端设置有加电电极，加电电极与激光芯片电连接，控温电路板上设置有热敏电阻。与现有技术相比，本实用新型的大功率激光芯片测试老化夹具只需调整定位片的定位槽和加电电路板的加电电极，即可实现对不同规格的激光芯片进行测试老化，通用性增强，便于激光芯片的装夹与生产流转，利于提高生产效率。
大功率激光芯片测试老化夹具

[发明专利]悬空芯片加电闭环调节装置及方法-CN202211557705.4在审
发明人：许楚滨;黄铁胜 -专利权人：镭神技术（深圳）有限公司
申请日： 2022-12-06 - 公布日： 2023-05-30 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本申请涉及悬空芯片加电闭环调节装置及方法，平行夹爪夹取待加电芯片悬置于空中；马达驱动器驱动探针下压方向自动调整机构逐级下压，以使加电探针卡的探针与待加电芯片相接触及保持位置；恒流加电源表通过探针下压方向自动调整机构为探针施加检测电流有利于闭环获取加电探针的接触电阻而确定接触状态，自动调整探针的压缩深度，有限地适配了物料厚度变化超过15微米的不同高度芯片的加电，避免实际生产过程中频繁人工介入及探针接触不良时的针尖烧针现象，还减少了因加电探针的针压变化导致的悬空芯片出现旋转翘曲现象
悬空芯片闭环调节装置方法

[实用新型]一种探针、加电机构及芯片自动测试台-CN202021495201.0有效
发明人：肖遥;魏秀强;李景鹏 -专利权人：武汉锐科光纤激光技术股份有限公司
申请日： 2020-07-24 - 公布日： 2021-05-14 - 主分类号： G01R1/067 文献下载
摘要：本实用新型涉及芯片加电装置技术领域，公开了一种探针、加电机构及芯片自动测试台。探针包括加电段和固定段，加电段的一端可拆卸地安装于固定段的一端，加电段远离固定段的一端用以与芯片相接触，固定段远离加电段的一端用以固定于探针支座上且与电源装置电性连接。本实用新型实施例提供的探针为分体式结构，探针通过固定段固定于探针支座上，当探针的加电段出现磨损时，由于加电段和固定段之间是可拆卸的，不需要将探针整体从探针支座上拆下进行更换，只需更换加电段即可，故该分体式结构的探针更换较为方便
一种探针机构芯片自动测试

[发明专利]芯片测试加电治具、芯片测试加电装置及方法-CN202211361419.0在审
发明人：李伟;朱博巍;李冬荣 -专利权人：镭神技术（深圳）有限公司
申请日： 2022-11-02 - 公布日： 2023-02-03 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本申请涉及芯片测试加电治具、芯片测试加电装置及方法，芯片测试加电治具包括引导变向结构、加电组件及驱动组件；加电组件至少部分位于引导变向结构下，加电组件沿引导变向结构的导向槽可移动设置，用于在预设位置加电及热接触待测试芯片的测试位置；驱动组件连接引导变向结构，驱动组件用于驱动引导变向结构沿第一方向移动，以带动加电组件沿导向槽所限定的第二方向相对于第一方向倾斜移动。使得整个结构稳定下压，保证了稳定压紧接触，有利于保护待测试芯片；使得第一方向的驱动力变为第二方向的压力，同时因倾斜移动而放大了下压力，保证了待测试芯片的测试位置的热接触；还具有结构巧妙、布局合理及升降缓和的优点
芯片测试加电治具装置方法

[发明专利]光芯片测试装置及光芯片发散角的测量方法-CN202310859038.3在审
发明人：黄忠志;杨强;罗骏 -专利权人：镭神技术（深圳）有限公司
申请日： 2023-07-13 - 公布日： 2023-09-05 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本申请涉及光芯片测试装置及光芯片发散角的测量方法，检测平台将待检测光芯片输送到目标加电位置；定位检测相机定位待检测光芯片的准确位置；加电探针结构使加电探针导电接触待检测光芯片的加电部位；第一远场扫描摆臂具有于第一预设角度范围之内绕第一转动轴向往复转动的状态，感应获得待检测光芯片的光测量数据，确定待检测光芯片的第一方向发散角。适用于光芯片的发散角测量，通过定位检测相机配合实现加电探针的精准定位，保证了测量发散角的准确性，可在测量时保护待检测光芯片，避免因发散角测量而造成二次损伤，有利于保证光芯片的无损检测，配合控制方式还可实现光芯片产品发散角的全自动或者半自动测量
芯片测试装置发散测量方法

[发明专利]一种多通道芯片老化系统及方法-CN202011324523.3有效
发明人：李连城;潘儒胜;郑波;孙鼎;张伟;过开甲;魏志坚 -专利权人：深圳市迅特通信技术股份有限公司;江西迅特通信技术有限公司
申请日： 2020-11-23 - 公布日： 2022-03-08 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明公开了一种多通道芯片老化系统，系统包括：上位机、与老化装置连接的老化电源、与老化电源连接的老化装置；老化装置包括：加电板、跨阻电芯片和至少一块待老化芯片，加电板一端与老化电源连接；跨阻电芯片与加电板另一端连接；至少一块待老化芯片同时与跨阻电芯片连接；固定于老化装置中的焊盘，跨阻电芯片固定于焊盘上且与焊盘连接；壳体；壳体引脚，壳体引脚固定于壳体内侧；插座，插座固定于壳体外侧，插座同时与壳体引脚连接。解决了现有技术中难以实现对APD芯片批量老化、对特殊封装形式的APD芯片进行老化，以及裸芯片直接老化时加电不同引脚间出现不一致性的问题，实现了对不同封装形式的APD芯片进行批量老化，提高芯片老化效果精确性
一种通道芯片老化系统方法

[实用新型]一种便携式阵列微流控芯片系统-CN202121000798.1有效
发明人：杜林 -专利权人：杜林
申请日： 2021-05-12 - 公布日： 2022-01-14 - 主分类号： B01L3/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种便携式阵列微流控芯片系统，包括微流控芯片、加样控制模块及电子元件阵列模块，其特征在于：所述加样控制模块包括移动平台、微流控芯片基板、设置于微流控芯片上方的图像拍摄装置A、加样装置、支架和加样控制系统，所述加样控制系统电性连接所述移动平台，所述加样控制系统电性连接所述图像拍摄装置A，所述加样控制系统固定连接所述图像拍摄装置A，所述加样控制系统固定连接支架，所述支架末端固定连接加样装置，所述芯片基板设置在所述移动平台的上本实用新型涉及芯片设备领域，具体涉及一种便携式阵列微流控芯片系统。
一种便携式阵列微流控芯片系统

[发明专利]电磁阀的驱动方法、装置与系统-CN202211482667.0在审
发明人：郎学政;卫文晋;娄文浩 -专利权人：潍柴动力股份有限公司;潍坊潍柴动力科技有限责任公司
申请日： 2022-11-24 - 公布日： 2023-03-21 - 主分类号： G05B19/042 文献下载
摘要：该方法包括：获取电磁阀的预设加电时长；根据预设加电时长的大小确定控制芯片输出的触发信号的持续时长，其中，触发信号用于驱动驱动芯片以使得驱动芯片输出用于驱动电磁阀的驱动信号，驱动芯片与控制芯片电连接；获取驱动芯片输出的驱动信号的时长，并且确定是否延长驱动芯片输出的驱动信号的时长；在确定延长驱动信号的时长的情况下，控制驱动芯片采用延长后的驱动信号驱动电磁阀。本申请实现了对电磁阀的加电时间的精确控制。
电磁阀驱动方法装置系统

[发明专利]一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置-CN202011210841.7在审
发明人：鲁晓东;余凯 -专利权人：武汉智汇芯科技有限公司
申请日： 2020-11-03 - 公布日： 2021-02-09 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，具体包括以下步骤：S1、当要对激光二极管芯片进行加电测试时，将芯片放置在放置框顶部设置的凹槽内部，然后启动外部的控制开关，使得电机开始工作，电机已预先调整好转速该用于激光二极管芯片测试的加电方法及装置，可实现对激光二极管芯片进行传送式输送，从而方便后续芯片的自动化加电测试，无需人工拿取探针对芯片进行逐个测试，加电测试后的测试数据能及时显示出来，大大提高了工作进度
一种用于激光二极管芯片测试方法装置

[实用新型]一种激光器的老化载具及老化抽屉结构-CN202222702322.3有效
发明人：张华;李家桐;薛银飞 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司
申请日： 2022-10-13 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：其包括底座、限位片、温控PCB板、加电PCB板及探针组件，限位片设置在底座顶面，限位片中开设有限位激光器芯片的限位槽；温控PCB板与限位片并排设置在底座顶面；加电PCB板设置于温控PCB板上方；探针组件设置于温控PCB板与加电PCB板之间，探针组件与加电PCB板通过紧固螺钉连接为一体后压接于温控PCB板及限位片表面，探针组件用于电连接加电PCB板与温控PCB板，及电连接加电PCB板与激光器芯片，探针组件一端凸出有安装部本实用新型用于解决激光器芯片夹持不便老化效果不好的问题。
一种激光器老化抽屉结构

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