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[发明专利]一种恒流源电路及芯片老化测试方法-CN202310925829.1在审
发明人：张华;薛银飞;黄河;李家桐 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司;无锡菲光科技有限公司
申请日： 2023-07-26 - 公布日： 2023-10-24 - 主分类号： G05F1/56 文献下载
摘要：本发明公开一种恒流源电路及芯片老化测试方法，用于提供芯片老化测试所需的恒流源，恒流源电路包括：第一运放单元；主控制单元，主控制单元的I1‑接口的I1+接口分别与第一运放单元的对应接口电连接；主控制单元包括：电源输出电路，电源输出电路与第一运放单元的反馈端口电连接；放大采集电路，与电源输出电路的采集电阻并联，且放大采集电路与第一运放单元电连接。芯片老化测试方法用前述的恒流源电路进行测试。本发明解决了现有的芯片老化测试用恒流源电路功能单一技术问题。
一种恒流源电路芯片老化测试方法

[发明专利]一种芯片测试设备-CN202310910285.1在审
发明人：张华;薛银飞;王文艺;李家桐 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司;无锡菲光科技有限公司
申请日： 2023-07-24 - 公布日： 2023-10-20 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片测试设备，包括探针装置和驱动装置，探针装置包括支撑面板、探针座、探针，探针连接于探针座上，探针座连接于支撑面板上，支撑面板连接于驱动装置的驱动端，驱动装置通过支撑面板、探针座驱动探针对芯片扎针；探针装置还包括磁性耦合座，磁性耦合座包括相互吸合的公磁座和母磁座，母磁座的磁吸面上设置有磁吸孔，公磁座的磁吸面上设置有与磁吸孔适配的磁吸头，磁吸孔为多个，每个磁吸孔对应一个磁吸头，公磁座和母磁座中的一个与支撑面板连接，另一个与探针座可拆卸连接。本发明通过磁性耦合座不仅降低了探针座更换的难度，同时还确保了探针座的安装精度。本发明中的芯片测试设备能够实现对芯片的全自动化、高精度测试。
一种芯片测试设备

[发明专利]一种多吸头组件-CN202310859936.9在审
发明人：张华;薛银飞;侯立凯;李家桐 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司;无锡菲光科技有限公司
申请日： 2023-07-13 - 公布日： 2023-08-22 - 主分类号： B25J15/06 文献下载
摘要：本发明公开一种多吸头组件，包括：安装架；组件安装板，设置于安装架的外侧，且组件安装板上开设有通孔；至少一取料组件，设置于安装架内部，且取料组件的取料端自通孔延伸至安装架外侧；多个单吸头模组，间隔活动装配于组件安装板外侧；取料组件包括：取料电机，设置于安装架内部；取料偏心轮，安装于取料电机的输出端，且取料偏心轮沿其圆周方向间隔开设有多个安装孔；一随动器，安装于其中一个安装孔内部。本发明解决了现有的吸附装置下压力过大和吸附头更换不方便影响生产效率技术问题。
一种吸头组件

[发明专利]基于短边交叠式矩形导轨的电动汽车IPT系统及设计方法-CN202310513651.X在审
发明人：唐春森;彭昭玮;王智慧;胡宏晟;李小飞;左志平;赵雷;陈丰伟;袁文杰;李家桐 -专利权人：重庆大学
申请日： 2023-05-09 - 公布日： 2023-07-07 - 主分类号： B60L53/12 文献下载
摘要：本发明公开了基于短边交叠式矩形导轨的电动汽车IPT系统及设计方法，属于磁耦合式无线电能传输技术领域，以解决目前基于平铺式矩形导轨的电动汽车移动式无线供电系统中，导轨线圈相邻短边上的一对反向电流，对电流所产生的磁场会严重削弱其上方区域的磁场强度，从而导致了系统功率在切换域上存在较大幅度的波动的问题，本发明通过设计一种短边交叠式矩形导轨，使其能够降低系统在导轨切换域上的功率波动幅度，即抑制系统在导轨切换过程中的功率波动，同时在相邻矩形线圈交叠区设置外加磁芯，进一步减小功率波动，使电动汽车充电时更加稳定。
基于交叠矩形导轨电动汽车 ipt 系统设计方法

[发明专利]一种VCSEL晶圆级别短脉冲测试系统-CN202310183687.6有效
发明人：张华;薛银飞;张文修;李家桐 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司
申请日： 2023-03-01 - 公布日： 2023-05-09 - 主分类号： G01R31/26 文献下载
摘要：本发明属于晶圆测试设备的技术领域，具体涉及一种VCSEL晶圆级别短脉冲测试系统。本发明包括：承载盘的中心设承载区，承载区用于放置晶圆，承载盘的外缘设朝上伸出的环状凸起，承载盘与晶圆的底面电连通；承载盘的底面还设三维驱动机构；面板设在承载盘上方；驱动卡可上下移动地设在面板的底面，驱动卡的正面设驱动模块，反面设导电层，驱动模块与导电层电连通；驱动卡的顶面开设探针窗口；探针座设在面板的正面，探针座的末端设探针，探针座用于调节探针穿过探针窗口，并指向承载区；探针通过软排线与驱动模块电连通。本发明用于解决现有技术中较长的测试回路所寄生的感抗和阻抗会将短脉冲扩展失真，影响晶圆测试的准确性和可信度的技术问题。
一种 vcsel 级别脉冲测试系统

[发明专利]一种VCSEL Array激光器综合测试系统-CN202211603564.5在审
发明人：张华;李家桐;薛银飞 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司
申请日： 2022-12-13 - 公布日： 2023-04-25 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开一种VCSEL Array激光器综合测试系统，涉及芯片测试装置技术领域，包括：机架，内部设置有装配空间；测试台，安装于装配空间内部；支撑架，安装在测试台上，且支撑架上开设有测试口；位移组件，安装于测试台上；测试组件，安装在支撑架上，且测试组件的测试端与测试口相对应；测试组件包括拍摄定位模块、LIV测试模块、近场测试模块和远场测试模块，拍摄定位模块、LIV测试模块、近场测试模块和远场测试模块间隔安装于支撑架上，且拍摄定位模块、LIV测试模块、近场测试模块和远场测试模块位于测试口的四周，本发明解决了现有技术中VCSEL激光器测试装置功能单一，影响检测效率的技术问题。
一种 vcsel array 激光器综合测试系统

[实用新型]一种半导体激光器老化试验用鱼骨夹具-CN202222702004.7有效
发明人：张华;李家桐;薛银飞 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司
申请日： 2022-10-13 - 公布日： 2023-02-28 - 主分类号： G01R1/04 文献下载
摘要：本实用新型属于半导体激光器自动化检测设备的技术领域，具体涉及一种半导体激光器老化试验用鱼骨夹具。本实用新型包括：依次从下至上叠放的夹具底板、石墨垫片、激光器限位片、夹具弹片和夹具骨架，紧固螺钉穿过夹具底板、石墨垫片、激光器限位片、夹具弹片与夹具骨架的底面连接；夹具骨架的上方还设有夹具上盖，紧固螺钉穿过夹具上盖与夹具骨架的正面连接。本实用新型用于解决老化试验中加电电流超过500mA的情况下，现有夹具散热性能不好，不能保持温度稳定的技术问题。
一种半导体激光器老化试验鱼骨夹具

[实用新型]一种激光器的老化载具及老化抽屉结构-CN202222702322.3有效
发明人：张华;李家桐;薛银飞 -专利权人：上海菲莱测试技术有限公司
申请日： 2022-10-13 - 公布日： 2023-02-24 - 主分类号： G01R31/00 文献下载
摘要：本实用新型属于激光器老化设备技术领域，尤其涉及一种激光器的老化载具及老化抽屉结构。其包括底座、限位片、温控PCB板、加电PCB板及探针组件，限位片设置在底座顶面，限位片中开设有限位激光器芯片的限位槽；温控PCB板与限位片并排设置在底座顶面；加电PCB板设置于温控PCB板上方；探针组件设置于温控PCB板与加电PCB板之间，探针组件与加电PCB板通过紧固螺钉连接为一体后压接于温控PCB板及限位片表面，探针组件用于电连接加电PCB板与温控PCB板，及电连接加电PCB板与激光器芯片，探针组件一端凸出有安装部，安装部上开设有安装孔。本实用新型用于解决激光器芯片夹持不便老化效果不好的问题。
一种激光器老化抽屉结构

[发明专利]一种可中断负荷量的计算方法、系统、设备及存储介质-CN202211136484.3在审
发明人：戴攀;刘曌煜;谢宁;孙可;王蕾;李家桐;郑振华;殷佳敏;谈历;林玲;杨黎 -专利权人：国网浙江省电力有限公司经济技术研究院
申请日： 2022-09-19 - 公布日： 2022-12-09 - 主分类号： G06F17/18 文献下载
摘要：本发明实施例提供了一种可中断负荷量的计算方法、系统、设备及存储介质，其中，方法包括：基于预设负荷分类模型确定目标用户的日负荷曲线的目标类型，基于目标用户的日负荷曲线中的计量参数，求得与目标用户的日负荷曲线对应的目标用户的初始类型参数，基于目标用户的用户标识和初始类型参数，从与目标类型对应的目标预设类型参数分布概率表中，确定目标类型参数组及与目标类型参数组中各类型参数分别对应的类型参数分布概率值，根据目标类型参数组和各类型参数分布概率值，计算目标用户的可中断负荷量。本发明实现了对可中断负荷量的准确计算，从而降低了对供电可靠性要求高的负荷类型误切除的风险，提高了供电可靠性。
一种中断负荷量计算方法系统设备存储介质

[发明专利]基于屏蔽板传输信号的能量信号同步传输系统-CN202210868804.8在审
发明人：吴宁;李小飞;唐春森;肖静;吴晓锐;李家桐;张正翔;龚文兰;莫宇鸿;韩帅;陈卫东;陈绍南;郭敏;郭小璇;张龙飞;王智慧 -专利权人：广西电网有限责任公司电力科学研究院;重庆大学
申请日： 2022-07-22 - 公布日： 2022-10-25 - 主分类号： H02J50/12 文献下载
摘要：本发明涉及无线能量信号同传技术领域，具体公开了一种基于屏蔽板传输信号的能量信号同步传输系统，包括能量信号同传耦合机构，能量信号同传耦合机构包括一次侧结构和二次侧结构，一次侧结构包括由底向上层级设置的原边金属屏蔽板、原边磁芯、能量发射线圈，二次侧结构包括由底向上层级设置的能量接收线圈、副边磁芯、副边金属屏蔽板。原边金属屏蔽板与副边金属屏蔽板用于在第二电流频率下传输信号。本发明采用屏蔽铝板作为电场耦合的一对极板，与传统的双电容极板相比，这种设置减少了极板的数量，大大降低了设备的成本、重量和体积。在大功率传输过程中，数据传输通道几乎不受干扰，能在大功率传输的磁场环境下稳定地传输信号。
基于屏蔽传输信号能量同步系统

[实用新型]嵌入式空气管头-CN202022819459.8有效
发明人：张佑军;李家桐 -专利权人：湖南桃花江游艇制造有限公司
申请日： 2020-11-30 - 公布日： 2021-09-21 - 主分类号： F16L5/00 文献下载
摘要：本实用新型涉及船舶用空气管头技术领域，具体是一种嵌入式空气管头，包括可内嵌安装于船舱壁上的透气管，所述的透气管包括透气外管，所述的透气外管一端设有可与船舱壁连接的法兰，所述的透气外管的另一端密封连接有透气内管，所述的透气内管与所述透气外管连接重合段上设有可供空气流通的透气槽，所述的透气内管的端口设有可阻止空气从透气内管端口排出的隔板。本实用新型通过采用与舱壁嵌入式的安装方式，使透气口实现侧壁式隐藏，节省安装空间，减少船舶通道凸起，节省空间，方便船舶使用，既美观又实用。
嵌入式气管

[发明专利]一种芯片发光性能测试设备、其上料机构和芯片固定装置-CN201910112859.4在审
发明人： 李家桐 -专利权人：天津市菲莱科技有限公司
申请日： 2019-02-13 - 公布日： 2020-08-21 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片发光性能测试设备、上料机构和芯片固定装置，后者包括：芯片载板，其安装面上开设有若干芯片放置位，待测试芯片一一对应地放置于所述芯片放置位、并分别与所述芯片载板电连接；冷却结构固定安装于所述芯片载板远离所述安装面的一侧，并用于冷却所述芯片载板；载板连接器侧向安装于所述冷却结构，并能够推动所述冷却结构在预设方向上直线运动；载板固定板固定安装于所述芯片载板远离所述冷却结构的一侧，所述载板固定板上开设多个通孔，各所述通孔一一对应地与所述芯片放置位相对应。通过该芯片固定装置的设计，可在芯片发光性能测试的过程中，对芯片进行可靠、稳定的装夹。
一种芯片发光性能测试设备机构固定装置

[实用新型]一种芯片老化加工设备及其芯片固定装置-CN201920924033.3有效
发明人： 李家桐 -专利权人：天津市菲莱科技有限公司
申请日： 2019-06-19 - 公布日： 2020-06-16 - 主分类号： B25B11/00 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片老化加工设备及其芯片固定装置，后者包括：芯片承载组件，安装面上开设有若干芯片放置位，待加工芯片一一对应地放置于所述芯片放置位、并分别与所述芯片承载组件电连接；夹具座，安装于所述芯片承载组件的上方，并与所述芯片承载组件配合夹持待加工芯片；定位卡扣，连接端通过转轴可转动地安装于所述夹具座，其固定端可分离地固接于所述夹具座，以便所述夹具座与所述芯片承载组件夹紧或解除夹紧。这样，该芯片固定装置通过可开合卡扣的形式实现芯片的压紧和释放，实现了芯片的可靠装夹，且定位卡扣能够较为方便地实现芯片固定和释放，从而提高了芯片取放便利性，提高了加工效率。
一种芯片老化加工设备及其固定装置

[发明专利]一种芯片加工设备及其夹持装置-CN201811020332.0在审
发明人： 李家桐 -专利权人：天津市菲莱科技有限公司
申请日： 2018-09-03 - 公布日： 2020-03-10 - 主分类号： G01R31/28 文献下载
摘要：本发明公开了一种芯片加工设备及其夹持装置，后者包括：基板，用于放置待加工芯片，且以其端部安装于所述芯片加工设备的主体上；印刷电路板，铺设于所述基板之上，并与所述基板固定连接；温度调节组件，设置于所述基板与所述印刷电路板之间，并根据夹持装置的当前温度与温度阈值间的关系，为所述夹持装置加热或降温；盖板组件，其通过连接结构可开合地安装于所述基板；探针，其一端固接于所述盖板组件，另一端依次穿过所述印刷电路板和所述温度调节组件并抵靠于所述待加工芯片。这样，该夹持装置自带温度调节组件，能够实现设备的自加热，相比于传统的外部加热方式，自加热的方式距离芯片的距离较近，便于控制作用于芯片上的温度的精准调整。
一种芯片加工设备及其夹持装置

[实用新型]一种芯片发光性能测试设备、其上料机构和芯片固定装置-CN201920196110.8有效
发明人： 李家桐 -专利权人：天津市菲莱科技有限公司
申请日： 2019-02-13 - 公布日： 2019-12-10 - 主分类号： G01M11/02 文献下载
摘要：本实用新型公开了一种芯片发光性能测试设备、其上料机构和芯片固定装置，后者包括：芯片载板，其安装面上开设有若干芯片放置位，待测试芯片一一对应地放置于所述芯片放置位、并分别与所述芯片载板电连接；冷却结构固定安装于所述芯片载板远离所述安装面的一侧，并用于冷却所述芯片载板；载板连接器侧向安装于所述冷却结构，并能够推动所述冷却结构在预设方向上直线运动；载板固定板固定安装于所述芯片载板远离所述冷却结构的一侧，所述载板固定板上开设多个通孔，各所述通孔一一对应地与所述芯片放置位相对应。通过该芯片固定装置的设计，可在芯片发光性能测试的过程中，对芯片进行可靠、稳定的装夹。
芯片载板冷却结构芯片放置发光性能测试芯片固定装置芯片通孔载板连接器本实用新型待测试芯片侧向安装上料机构板固定电连接固定板预设装夹冷却

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