专利名称
主分类
A 农业
B 作业;运输
C 化学;冶金
D 纺织;造纸
E 固定建筑物
F 机械工程、照明、加热
G 物理
H 电学
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公布日期
2023-10-24 公布专利
2023-10-20 公布专利
2023-10-17 公布专利
2023-10-13 公布专利
2023-10-10 公布专利
2023-10-03 公布专利
2023-09-29 公布专利
2023-09-26 公布专利
2023-09-22 公布专利
2023-09-19 公布专利
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专利权人
国家电网公司
华为技术有限公司
浙江大学
中兴通讯股份有限公司
三星电子株式会社
中国石油化工股份有限公司
清华大学
鸿海精密工业股份有限公司
松下电器产业株式会社
上海交通大学
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  • [发明专利]一种半导体封装体的自然对流换系数及的侦测方法-CN201610865649.9有效
  • 江伟 - 通富微电子股份有限公司
  • 2016-09-29 - 2019-02-22 - H01L21/66
  • 本发明公开了一种半导体封装体的自然对流换系数及的侦测方法,包括:对所述半导体封装体建立有限元分析模型;设定一组初始的对流换系数,并将该组初始的对流换系数中的每个初始对流换系数分别对应地加载至所述分析模型中的对应节点;在特定的环境温度下进行稳态分析,以得到所述分析模型中的每个节点的表面温度;根据每个节点的表面温度而得到每个节点的对流换系数;根据每个节点的对流换系数和初始的对流换系数而进行迭代处理,以得到每个节点的自然对流换系数;根据每个节点的自然对流换系数而获得所述半导体封装体的。通过上述迭代的方式,本发明能够提高封装产品模拟计算的准确性。
  • 一种半导体封装自然对流系数侦测方法
  • [发明专利]一种围护结构现场检测的测量方法-CN201010183528.9无效
  • 王沣浩;姚建波 - 西安交通大学
  • 2010-05-26 - 2010-09-15 - G01N25/20
  • 一种围护结构现场检测的测量方法,测试时内壁面的温度测点布置在热流计和墙体壁面的粘贴面,以代替原来作为内壁面温度测点的热流计附近壁面,使测得的热流和温差相对应,在测试部位为一维传热的情形下,的计算将不受影响,稳态的计算公式为:R=ΔT/Q,其中,ΔT为内表面测点的温度与外表面测点温度的差,Q为热流计反应的热流。本发明与原来的测量方法相比对现场测量的热流可以不经过误差修正而直接进行计算,可有效减小室内环境条件和热流计附加热对热流计现场测量的影响,为后续的计算提供更加合理的现场测量数据,减小热流计法检测围护结构的误差
  • 一种围护结构现场检测测量方法

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